一种电子元器件外观自动视觉检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种电子元器件外观自动视觉检测系统，所述电子元器件外观自动视觉检测系统主要包括光照模块、图像采集模块、图像处理模块、视觉检测模块，光照模块：选用合适的光源和合适的照射方式对电子元器件进行补光，图像采集模块：主要包括摄像头、相机和图像采集卡，对电子元器件的图像进行采集，是后续检测必备的判断依据。该电子元器件外观自动视觉检测系统，通过对电路板上电子元器件的图像信息进行处理，并对图像进行相应的处理，得到电子元器件的大小，尺寸和颜色等重要的辨识信息，通过与基准参数的对比判断电子元器件是否合格，判断电子元器件是否安装标准，并输出检测的信息，提高了电路板的生产效率和产品的合格率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件外观自动视觉检测系统


[0001]本专利技术涉及视觉检测系统
，具体为一种电子元器件外观自动视觉检测系统。

技术介绍

[0002]随着电子行业的飞速发展，电子产品的功能越来越复杂，越来越微型，而电子元器件的大小和形态也在发生变化，因此对芯片的制造和安装模式，流程和生产都提出了新的要求，但在生产过程中电路板上的电子元器件难免会出现部分缺陷，目前传统的电路板检测方法包括人工目测、x射线测试和电测试，但均存在一定的缺陷，无法满足大量高速的电路板的检测需求。
[0003]1、但现有的人工目视检测方法过度依赖人眼进行检查，由于生理因素的限制，人工目检的整体效率较低，漏检率比较高，容易受到外界因素的干扰，很难进行高精度和大量电路板元器件的检查，影响到整体的生产效率；
[0004]2、现有的电测试通过检测电路板是否为通路判断元器件的状态，但该测试方法无法检测出元器件存在的安装偏移和虚焊等隐形缺陷，在后续的使用中可能这些隐形缺陷会导致电路板的无法使用，并且根据不同的电路板需要更换不同的探针和测试程序，影响检测的效率。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件外观自动视觉检测系统，其特征在于，所述电子元器件外观自动视觉检测系统主要包括光照模块、图像采集模块、图像处理模块、视觉检测模块：光照模块：选用合适的光源和合适的照射方式对电子元器件进行补光；图像采集模块：主要包括摄像头、相机和图像采集卡，对电子元器件的图像进行采集，是后续检测必备的判断依据；图像处理模块：包括图像增强、图像去噪、图像分割、和图像边缘提取；视觉检测模块：根据标准元器件的几何特征设定基准参数，并作为待检测元件的对比依据。2.根据权利要求1所述的一种电子元器件外观自动视觉检测系统，其特征在于，所述光照模块通常选用LED灯作为主要的光源，光照模块的照射方向可采用后向照明方式；后向照明方式可分为：a、点光源照明，点光源能够产生较为理想的轮廓锐度，通常实际应用中会采用汇聚光束，即采用费涅尔透镜将物体成像于摄像机的像面上；b、漫射照明，光源通过一个漫射表面后，出射的光具有朗伯辐射特性，能够得到物体较强的对比度外形。3.根据权利要求1所述的一种电子元器件外观自动视觉检测系统，其特征在于，所述图像采集模块：摄像头的作用为将被检测电子元器件的光通过光学系统经由摄像器件形成光学图像，进一步放大后变成视频信号输出；相机采用光电转换器件将被检测电子元器件的光电信号转换成模拟电信号；图像采集卡的作用主要为对模拟信号的处理，摄像头和相机采集的信号为模拟信号，通过图像采集卡A/D转换模块变成数字信号，便于后续的软件处理，可根据检测系统的采集精度和摄像头的传输速度匹配等因素选择合适的图像采集卡。4.根据权利要求1所述的一种电子元器件外观自动视觉检测系统，其特征在于，所述图像处理模块中图像增强的具体实现方式为：采用空间增强的方式对图像进行灰度变换和图像直方图处理，通过运算改变图像的像素值；图像的灰度变换处理方式为选择一定的区域，通过线性运算改变图像的灰度值，提高有用信息的像素值，同时能够抑制噪声的灰度值，利用图像灰度转动扩大灰度值的动态范围，增强图像的信噪比，使电子元器件的特征信息更加的清晰。5.根据权利要求1所述的一种电子元器件外观自动视觉检测系统，其特征在于，所述图像处理模块图像去噪的具体实现方式为：通过中值滤波排序统计的方法，采用非线性平滑的技术将数字图像中的电子元器件的像素灰度值用其邻域中各点的中值进行代替，从而消除图像中的噪点；中值滤波在滤波的同时能够保护电子元器件的边缘信息，对滤波脉冲和图像扫描时产生的噪声能够较好地保存图像的清晰度。6.根据权利要求1所述的一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘斯俭，陈兵，
申请(专利权)人：深圳华太芯创有限公司，
类型：发明
国别省市：