一种基于JTAG的调试系统技术方案

技术编号:36217406 阅读:61 留言:0更新日期:2023-01-04 12:14
本发明专利技术公开了一种基于JTAG的调试系统,包括依次连接的调试主机、在线仿真器和处理器内部调试系统,所述处理器内部调试系统包含依次连接的调试控制模块、数据交互控制模块和数据交互模块,所述数据交互控制模块内部配置有用于数据交互的控制寄存器,所述调试控制模块和所述数据交互模块均连接处理器内核或总线。本发明专利技术通过在处理器内部调试系统中新增数据交互控制模块和数据交互模块,利用标准JTAG信号和主流处理器厂商新增的TCK_RET时钟同步信号,在不增加芯片引脚的情况下,在既满足用户的基本调试操作,又提供一种高效的数据交互方法,解决了现有处理器的调试方式在批量数据交互时存在的交互效率不高的问题。互时存在的交互效率不高的问题。互时存在的交互效率不高的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种基于JTAG的调试系统


[0001]本专利技术涉及JTAG调试
,尤其是一种基于JTAG的调试系统。

技术介绍

[0002]基于JTAG标准(IEEE 1149.1)使用在线仿真器对目标处理器进行远程交叉调试,已经成为绝大多数芯片必备的基本功能。JTAG标准中定义TCK、TRST、TMS、TDI、TDO5路基本信号,用于实现目标处理器的调试操作。
[0003]然而,随着目标处理器和在线仿真器的主频不断提升,原有JTAG标准信号中缺少传输必要的时序匹配,导致在线仿真器与目标处理器之间在频率较高的情形下,出现稳定性和可靠性下降的问题。为此,越来越多的处理器厂商(ARM、TI等)在原有JTAG标准信号的基础上,增加1路TCK_RET信号(目标处理器返回到在线仿真器的时钟信号)用以实现目标处理器与在线仿真器之间的时钟自适应,从而提升调试过程中的稳定性和可靠性。
[0004]遵循JTAG标准的在线仿真器作为主设备,通过串行信号驱动处理器内部调试系统的TAP状态机运转,实现调试主机的不同调试请求;而处理器相当于从设备,被动地接收在线仿真器发送的串行信号。处理器内部调试系统的TAP状态机在16个标准状态中切换,在Shift

DR状态,TDI输入,同时TDO输出。完成一次调试操作,需要状态机切换多种状态,才能实现,如附图1所示。
[0005]然而,在调试过程中,调试主机往往需要通过在线仿真器与目标处理器进行批量数据交互,特别是数字信号处理器(DSP)等计算类处理器。在进行批量数据读写操作时,调试主机需要利用在线仿真器不断地通过串行的TCK、TMS、TDI信号将目标地址(和数据)发送至目标处理器,目标处理器在在线仿真器的驱动下,不断将执行结果通过TDO、TCK_RET信号返回至在线仿真器。整个过程中,目标处理器受限于TCK、TCK_RET的频率和TAP状态机运转的影响,导致数据交互效率不高,尤其是数据导出效率低下,极大影响用户开发进度。

技术实现思路

[0006]针对现有处理器的调试方式在批量数据交互时存在的不足之处,本专利技术提出一种基于JTAG的调试系统。
[0007]一种基于JTAG的调试系统,包括依次连接的调试主机、在线仿真器和处理器内部调试系统,其特征在于,所述处理器内部调试系统包含依次连接的调试控制模块、数据交互控制模块和数据交互模块,所述数据交互控制模块内部配置有用于数据交互的控制寄存器,所述调试控制模块和所述数据交互模块均连接处理器内核或总线;
[0008]所述调试主机用于下发调试命令或读写数据请求;
[0009]当所述调试主机下发调试命令或单个读写数据请求时,所述在线仿真器和所述处理器内部调试系统处于调试控制模式,所述在线仿真器将该调试命令或单个读写数据请求转化为TDI、TMS、TCK信号并发送至所述处理器内部调试系统;所述调试控制模块通过TDO、TCK_RET信号将执行结果返回至所述在线仿真器,所述在线仿真器再将执行结果返回至所
述调试主机;
[0010]当所述调试主机下发批量读写数据请求时,所述在线仿真器先通过所述调试控制模块配置所述数据交互控制模块中的控制寄存器,待控制寄存器配置完成后,将所述在线仿真器和所述处理器内部调试系统的TAP状态机分别设置为初始状态,然后使能所述数据交换模块,所述在线仿真器和所述处理器内部调试系统切换至数据交互模式;
[0011]数据交互模式下,TMS信号一直维持高电平,所述调试控制模块将接收到的TCK、TDI信号直接送入所述数据交互模块,所述数据交互模块通过TDO、TCK_RET信号将执行结果返回至所述在线仿真器,所述在线仿真器再将执行结果返回至所述调试主机,直至完成数据交互操作;关闭所述数据交换模块,所述在线仿真器和所述处理器内部调试系统切换回调试控制模式。
[0012]进一步的,用于数据交互的控制寄存器包括起始地址寄存器、内存读写长度寄存器、读写标志寄存器、连续读写使能寄存器;所述数据交互模块根据起始地址寄存器、内存读写长度寄存器的配置,进行自增寻址;根据读写标志寄存器、连续读写使能寄存器的配置,执行数据交互操作。
[0013]进一步的,批量读操作过程中,所述数据交互模块根据起始地址寄存器、内存读写长度寄存器中的配置向处理器内核或总线发送目标地址的读操作,得到返回的有效数据后,再通过TDO、TCK_RET信号将有效数据返回至所述在线仿真器,所述在线仿真器再将有效数据返回至所述调试主机;写操作过程中,所述数据交互模块接收所述在线仿真器通过TCK、TDI信号传入的数据,根据控制寄存器的配置,将数据写入目标地址。
[0014]进一步的,数据交互模式下,在读写数据前后,所述在线仿真器与所述处理器内部调试系统分别进行传输开始验证和传输结束验证;传输开始验证过程为:所述在线仿真器通过TDI、TCK信号向所述处理器内部调试系统发送传输开始验证码,并采集所述处理器内部调试系统输出的TDO、TCK_RET信号,直至采集到的数据与传输开始验证码相同;传输结束验证过程为:数据读写完成后,由数据发送方向数据接收方发送传输结束验证码,在数据发送方接收到数据接收方回传的传输结束验证码后,所述在线仿真器和所述处理器内部调试系统切换回调试控制模式。
[0015]本专利技术通过在处理器内部调试系统中新增数据交互控制模块和数据交互模块,利用标准JTAG信号和主流处理器厂商新增的TCK_RET时钟同步信号,在不增加芯片引脚的情况下,在既满足用户的基本调试操作,又提供一种高效的数据交互方法,解决了现有处理器的调试方式在批量数据交互时存在的交互效率不高的问题。
附图说明
[0016]图1为调试控制模式Shift

DR状态下的JTAG信号时序图;
[0017]图2为本专利技术公开的调试系统的结构框图;
[0018]图3为数据交互模式下的TCK、TDI、TDO、TCK_RET信号时序图。
具体实施方式
[0019]下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。本专利技术的实施例是为了示例和描述起见而给出的,而并不是无遗漏的或者将本专利技术限于所公开的形式。很多
修改和变化对于本领域的普通技术人员而言是显而易见的。选择和描述实施例是为了更好说明本专利技术的原理和实际应用,并且使本领域的普通技术人员能够理解本专利技术从而设计适于特定用途的带有各种修改的各种实施例。
[0020]实施例1
[0021]一种基于JTAG的调试系统,如图2所示,包括依次连接的调试主机、在线仿真器和处理器内部调试系统,所述处理器内部调试系统包含依次连接的调试控制模块、数据交互控制模块和数据交互模块,所述调试控制模块和所述数据交互模块均连接处理器内核CORE或总线(例如图2中示出的AHB总线)。
[0022]所述调试控制模块为现有处理器内部调试系统已有模块,所述数据交互控制模块和所述数据交互模块为本专利技术为适应批量数据读写需求,新增的模块,所述数据交互模块核心功能包括本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于JTAG的调试系统,包括依次连接的调试主机、在线仿真器和处理器内部调试系统,其特征在于,所述处理器内部调试系统包含依次连接的调试控制模块、数据交互控制模块和数据交互模块,所述数据交互控制模块内部配置有用于数据交互的控制寄存器,所述调试控制模块和所述数据交互模块均连接处理器内核或总线;所述调试主机用于下发调试命令或读写数据请求;当所述调试主机下发调试命令或单个读写数据请求时,所述在线仿真器和所述处理器内部调试系统处于调试控制模式,所述在线仿真器将该调试命令或单个读写数据请求转化为TDI、TMS、TCK信号并发送至所述处理器内部调试系统;所述调试控制模块通过TDO、TCK_RET信号将执行结果返回至所述在线仿真器,所述在线仿真器再将执行结果返回至所述调试主机;当所述调试主机下发批量读写数据请求时,所述在线仿真器先通过所述调试控制模块配置所述数据交互控制模块中的控制寄存器,待控制寄存器配置完成后,将所述在线仿真器和所述处理器内部调试系统的TAP状态机分别设置为初始状态,然后使能所述数据交换模块,所述在线仿真器和所述处理器内部调试系统切换至数据交互模式;数据交互模式下,TMS信号一直维持高电平,所述调试控制模块将接收到的TCK、TDI信号直接送入所述数据交互模块,所述数据交互模块通过TDO、TCK_RET信号将执行结果返回至所述在线仿真器,所述在线仿真器再将执行结果返回至所述调试主机,直至完成数据交互操作;关闭所述数据交换模块,所述在线仿真器和所述处理器内部调试系统切换回调试控制模式。2.根据权利要求1所述的基于JTAG的调试系统,其特征在于,用于...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵纪堂刘小明耿锐
申请(专利权)人:安徽芯纪元科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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