一种失效分析故障点预测方法及系统技术方案

技术编号:36215628 阅读:32 留言:0更新日期:2023-01-04 12:12
本发明专利技术涉及一种失效分析故障点预测方法及系统,属于失效分析技术领域,解决了现有失效分析效率低的问题。包括构建各检测流程的诊断样本集,训练得到各自的基础分类模型;基于历史维修记录获取故障点的良率,通过聚类分析故障点的良率,得到故障点中的正常点,统计正常点的故障发生概率;根据正常点的故障发生概率,调整各检测流程下各检测步骤的顺序;根据待检测组装件的最新诊断数据,获取对应的检测流程的基础分类模型,如果当前基础分类模型的准确率高于阈值,则输入最新诊断数据至当前基础分类模型中,预测出故障点;否则,基于对应的检测流程下调整顺序后的各检测步骤及获取的实际检测值,得到故障点。实现了失效分析效率的提升。的提升。的提升。

【技术实现步骤摘要】
一种失效分析故障点预测方法及系统


[0001]本专利技术涉及失效分析
,尤其涉及一种失效分析故障点预测方法及系统。

技术介绍

[0002]失效分析一般根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。失效分析在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。随着设备量大,工业失效分析数据的存储量将呈指数级增长。
[0003]现有技术中,针对不良组件,通过测试机台得到多个故障现象,然后维修工程师根据最前面的故障现象进入失效分析过程,对不良组件一步一步检测,得到最终的故障点。
[0004]现有失效分析流程不统一,对于历史诊断记录和历史维修记录都无法充分利用,失效分析的检测步骤和检测顺序与工程师的行业知识和经验有关,分析效率低。

技术实现思路

[0005]鉴于上述的分析,本专利技术实施例旨在提供一种失效分析故障点预测方法及系统,用以解决现有失效分析效率不高的问题。
[0006]一方面,本专利技术实施例提供了一种失效分析故障点预测方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种失效分析故障点预测方法,其特征在于,包括如下步骤:基于历史诊断数据、历史失效分析记录和历史维修记录,构建各检测流程的诊断样本集;基于各检测流程的诊断样本集,训练得到各自的基础分类模型;基于历史维修记录,获取故障点的良率,通过聚类分析故障点的良率,得到故障点中的正常点;基于历史失效分析记录,统计正常点的故障发生概率;根据正常点的故障发生概率,调整各检测流程下各检测步骤的顺序;根据待检测组装件的最新诊断数据,获取对应的检测流程的基础分类模型,如果当前基础分类模型的准确率高于阈值,则输入最新诊断数据至当前基础分类模型中,预测出故障点;否则,基于对应的检测流程下调整顺序后的各检测步骤及获取的实际检测值,得到故障点。2.根据权利要求1所述的失效分析故障点预测方法,其特征在于,所述基于对应的检测流程下调整顺序后的各检测步骤及获取的实际检测值,得到故障点,包括:基于对应的检测流程下调整顺序后的各检测步骤,根据预置的操作步骤编码,获取第一步检测步骤,将获取的第一步检测步骤的实际检测值作为判定结果,根据第一步检测步骤实体关联的检测结果实体,识别其中的判定结果对应的故障点是否为空,如果不为空,得到故障点,否则,根据实际检测值,获取第一步检测步骤实体的下一步操作关系关联的检测步骤,继续获取该检测步骤的实际检测值,直至实际检测值对应的检测步骤实体的故障点不为空。3.根据权利要求1所述的失效分析故障点预测方法,其特征在于,所述基于历史诊断数据、历史失效分析记录和历史维修记录,构建各检测流程的诊断样本集,包括:对每条历史诊断数据,按顺序获取其中多个检测项目名称及其检测数值;根据第一个检测项目名称获取对应的检测流程;根据预置规则,将历史诊断数据中相同的检测项目名称映射为相同的字符串,作为检测编码,将检测编码及其检测数值组成一对诊断信息,按顺序拼接多对诊断信息,得到一条诊断数据;基于每条历史诊断数据对应的历史失效分析记录和历史维修记录,获取维修好的故障点,将诊断数据及对应的维修好的故障点作为一条诊断样本,放入对应的检测流程的诊断样本集中。4.根据权利要求1所述的失效分析故障点预测方法,其特征在于,所述基于历史维修记录,获取故障点的良率,通过聚类分析故障点的良率,得到故障点中的正常点,包括:基于历史维修记录,按周期统计出其中故障点的良率;去除良率不符合西格玛原则的故障点,得到待聚类的故障点;采用密度聚类算法,根据待聚类的故障点同一周期的良率和预置的邻域半径,对待聚类的故障点进行聚类,得到聚类的各类别;将故障点数量大于等于数量阈值的类别中的故障点作为正常点。5.根据权利要求4所述的失效分析故障点预测方法,其特征在于,所述根据正常点的故障发生概率,调整各检测流程下各检测步骤的顺序,包括:基于失效分析知识图谱,对正常点名称与当前检测流程下各检测步骤实体关联的零件实体名称进行匹配,将正常点的故障发生概率作为相应检测步骤实体的故障发生概率,并
根据零件实体所关联的线路实体,将每个检测流程下属于同一线路的零件实体对应的检测步骤实体按顺序放入各线路集合;对每个检测流程,根据检测步骤实体的故障发生概率,汇总各线路集合的总概率,作为第一概率,按照第一概率由大到小排序各线路集合;...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘丁枭胡浩江肖东宝吴浩马晋辰柳孟阳张鹏王绍兰王笑尘
申请(专利权)人:北京智谱华章科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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