耳机膜片检测方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种耳机膜片检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括获取耳机的探针扫频信号；将所述探针扫频信号与预设扫频信号进行谐失处理，得到膜片扫频失真量；根据所述膜片扫频失真量向耳机监测系统发送膜片形变信号，以更新所述耳机的膜片变形状态。通过对耳机运行过程中发出的音频采集，即采集探针扫频信号，以将其与预设扫频信号进行差异化处理，便于确定探针扫频信号的失真程度，最后根据膜片扫频失真量所体现的失真情况，便于确定耳机膜片发生变形的情况，从而确定耳机膜片的当前变形状态，有效地提高了对耳机膜片变形的检测准确几率。形的检测准确几率。形的检测准确几率。

【技术实现步骤摘要】
耳机膜片检测方法、装置、计算机设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及耳机
，特别是涉及一种耳机膜片检测方法、装置、计算机设备和存储介质。

技术介绍

[0002]随着移动电子设备的快速发展，TWS(TureWireless Stereo)真无线立体声耳机凭借其便捷性与其媲美有线耳机的出色性能，越来越受到消费者的喜爱。现有TWS耳机量产后，在生产工序中，一般会对TWS耳机进行声学测试，以确保产品在进入市场后的可靠性。
[0003]然而，TWS耳机佩戴后，偶尔会出现膜片吸膜的情况，此类异常状态用正常的测试很难复现，由于不能得到声学性能参数，传统的测试方法判断出现这种异常情况的效率太低，从而导致测试速度和准确度相应的变低，根本无法满足测试需求。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种有效提高对膜片变形的检测准确几率的耳机膜片检测方法、装置、计算机设备和存储介质。
[0005]本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：
[0006]一种耳机膜片检测方法，所述方法包括：
[0007]获取耳机的探针扫频信号；
[0008]将所述探针扫频信号与预设扫频信号进行谐失处理，得到膜片扫频失真量；
[0009]根据所述膜片扫频失真量向耳机监测系统发送膜片形变信号，以更新所述耳机的膜片变形状态。
[0010]在其中一个实施例中，所述获取耳机的探针扫频信号，包括：获取所述耳机的正弦扫频测试信号。
[0011]在其中一个实施例中，所述获取所述耳机的正弦扫频测试信号，包括：采集预设检测状态下的所述正弦扫频测试信号。
[0012]在其中一个实施例中，所述预设检测状态包括测试频率、测试幅值以及测试时长。
[0013]在其中一个实施例中，所述将所述探针扫频信号与预设扫频信号进行谐失处理，得到膜片扫频失真量，包括：对所述探针扫频信号进行谐波分析处理，得到扫频失真信号；求取所述扫频失真信号与所述预设扫频信号的失真差值，以得到所述膜片扫频失真量。
[0014]在其中一个实施例中，所述根据所述膜片扫频失真量向耳机监测系统发送膜片形变信号，以更新所述耳机的膜片变形状态，包括：检测所述膜片扫频失真量与预设失真量是否匹配；当所述膜片扫频失真量与所述预设失真量匹配时，向所述耳机监测系统发送膜片异常形变信号。
[0015]在其中一个实施例中，所述检测所述膜片扫频失真量与预设失真量是否匹配，之后还包括：当所述膜片扫频失真量与所述预设失真量不匹配时，向所述耳机监测系统发送膜片无形变信号。
[0016]一种耳机膜片检测装置，所述装置包括：
[0017]扫频采样模块，用于获取耳机的探针扫频信号；
[0018]谐波分析模块，用于将所述探针扫频信号与预设扫频信号进行谐失处理，得到膜片扫频失真量；
[0019]膜片更新模块，用于根据所述膜片扫频失真量向耳机监测系统发送膜片形变信号，以更新所述耳机的膜片变形状态。
[0020]一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
[0021]获取耳机的探针扫频信号；
[0022]将所述探针扫频信号与预设扫频信号进行谐失处理，得到膜片扫频失真量；
[0023]根据所述膜片扫频失真量向耳机监测系统发送膜片形变信号，以更新所述耳机的膜片变形状态。
[0024]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0025]获取耳机的探针扫频信号；
[0026]将所述探针扫频信号与预设扫频信号进行谐失处理，得到膜片扫频失真量；
[0027]根据所述膜片扫频失真量向耳机监测系统发送膜片形变信号，以更新所述耳机的膜片变形状态。
[0028]与现有技术相比，本专利技术至少具有以下优点：
[0029]通过对耳机运行过程中发出的音频采集，即采集探针扫频信号，以将其与预设扫频信号进行差异化处理，便于确定探针扫频信号的失真程度，最后根据膜片扫频失真量所体现的失真情况，便于确定耳机膜片发生变形的情况，从而确定耳机膜片的当前变形状态，有效地提高了对耳机膜片变形的检测准确几率。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0031]图1为一个实施例中耳机膜片检测方法的流程图；
[0032]图2为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
[0033]为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的较佳实施方式。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本专利技术的公开内容理解的更加透彻全面。
[0034]需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接
到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
[0035]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0036]本专利技术涉及一种耳机膜片检测方法。在其中一个实施例中，所述耳机膜片检测方法包括获取耳机的探针扫频信号；将所述探针扫频信号与预设扫频信号进行谐失处理，得到膜片扫频失真量；根据所述膜片扫频失真量向耳机监测系统发送膜片形变信号，以更新所述耳机的膜片变形状态。通过对耳机运行过程中发出的音频采集，即采集探针扫频信号，以将其与预设扫频信号进行差异化处理，便于确定探针扫频信号的失真程度，最后根据膜片扫频失真量所体现的失真情况，便于确定耳机膜片发生变形的情况，从而确定耳机膜片的当前变形状态，有效地提高了对耳机膜片变形的检测准确几率。
[0037]请参阅图1，其为本专利技术一实施例的耳机膜片检测方法的流程图。所述耳机膜片检测方法包括以下步骤的部分或全部。
[0038]S100：获取耳机的探针扫频信号。
[0039]在本实施例中，所述探针扫频信号为所述耳机在工作时播放的音频信号，即所述探针扫频信号为所述耳机当前的声音信号，也即所述探针扫频信号为所述耳机的探针麦克风接收到的当前音频测试信号。通过对所述耳机的当前声音信号进行采集，以对所述耳机的当前发声情本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种耳机膜片检测方法，其特征在于，包括：获取耳机的探针扫频信号；将所述探针扫频信号与预设扫频信号进行谐失处理，得到膜片扫频失真量；根据所述膜片扫频失真量向耳机监测系统发送膜片形变信号，以更新所述耳机的膜片变形状态。2.根据权利要求1所述的耳机膜片检测方法，其特征在于，所述获取耳机的探针扫频信号，包括：获取所述耳机的正弦扫频测试信号。3.根据权利要求2所述的耳机膜片检测方法，其特征在于，所述获取所述耳机的正弦扫频测试信号，包括：采集预设检测状态下的所述正弦扫频测试信号。4.根据权利要求3所述的耳机膜片检测方法，其特征在于，所述预设检测状态包括测试频率、测试幅值以及测试时长。5.根据权利要求1所述的耳机膜片检测方法，其特征在于，所述将所述探针扫频信号与预设扫频信号进行谐失处理，得到膜片扫频失真量，包括：对所述探针扫频信号进行谐波分析处理，得到扫频失真信号；求取所述扫频失真信号与所述预设扫频信号的失真差值，以得到所述膜片扫频失真量。6.根据权利要求1所述的耳机膜片检测方法，其特征在于，所述根据所述膜片扫频失真量向耳机监测系统发送膜片...

【专利技术属性】
技术研发人员：张欣欣，冷明星，王丽，
申请(专利权)人：深圳市豪恩声学股份有限公司，
类型：发明
国别省市：