化验室用电子分析天平制造技术

本实用新型专利技术涉及电子分析天平技术领域，具体是化验室用电子分析天平，包括底壳，所述底壳的上侧设置有透明保护罩，所述透明保护罩的两侧位于中段位置处对称固定有两个插壳，所述底壳的内部设置有保护罩固定机构，且底壳的上侧安装有天平主体，所述天平主体的上侧安装有天平托板，所述透明保护罩的上端设置有托板清理机构，所述托板清理机构包括安装于透明保护罩外侧一端的电机和固定于透明保护罩内侧两端的两个导杆。本实用新型专利技术设计新颖，结构巧妙，通过托板清理机构，可以自动将天平托板上表面粘附的灰尘颗粒扫除，防止灰尘颗粒堆积在天平托板的上侧，影响测量精准度。影响测量精准度。影响测量精准度。

【技术实现步骤摘要】
化验室用电子分析天平


[0001]本技术涉及电子分析天平
，具体是化验室用电子分析天平。

技术介绍

[0002]电子分析天平具有全自动故障检测，外置砝码，自动校准，全部线性四点校准，超载保护等多种应用程序,电子天平以其操作简单、称量准确可靠等优点,迅速在工业生产、科研、贸易等方面得到广泛应用。
[0003]根据专利公开号为：CN216559313U公开了一种恒温电子分析天平，包括壳体和电子天平本体，所述壳体的顶部开有安装口，所述电子天平本体固定安装在安装口内，所述电子天平本体上设置有托盘，所述壳体上设置有显示屏，所述壳体的顶部设置有保护罩，所述保护罩的底部开设有矩形口，所述壳体的顶部开设有两个条形口，两个条形口内均滑动安装有条形滑块，所述壳体的两侧内壁上转动安装有同一个双向丝杆，基于以上检索，结合现有技术发现，该专利没有自动清理天平托板的功能，由于在使用时，空气或者称量物品会将灰尘颗粒带到托板上侧，从而影响了称量精度。因此，本领域技术人员提供了化验室用电子分析天平，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
技术内容
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.化验室用电子分析天平，包括底壳(1)，其特征在于，所述底壳(1)的上侧设置有透明保护罩(2)，所述透明保护罩(2)的两侧位于中段位置处对称固定有两个插壳(19)，所述底壳(1)的内部设置有保护罩固定机构，且底壳(1)的上侧安装有天平主体(3)，所述天平主体(3)的上侧安装有天平托板(4)，所述透明保护罩(2)的上端设置有托板清理机构；所述托板清理机构包括安装于透明保护罩(2)外侧一端的电机(5)和固定于透明保护罩(2)内侧两端的两个导杆(7)，两个所述导杆(7)的外侧滑动连接有滑动板(8)，所述电机(5)的驱动端固定有位于透明保护罩(2)内侧的丝杆(6)，所述丝杆(6)通过螺纹贯穿转动连接于滑动板(8)的内部，所述滑动板(8)的下侧两端固定有两个套杆(9)，两个所述套杆(9)的下端均滑动插设有伸缩杆(10)，且两个套杆(9)的下端均连接有套设于伸缩杆(10)外侧的弹簧(11)，两个所述伸缩杆(10)的下端固定有吸尘板(12)，所述吸尘板(12)的下侧固定有海绵擦垫(13)，且吸尘板(12)的内部开设有空腔(15)，所述吸尘板(12)的下侧均匀开设有吸气口(16)，所述吸气口(16)与空腔(15)相连通，所述吸尘板(12)的上侧安装有气泵(14)，所述气泵(14)的进气口与空腔(15)内部连通。2.根据权利要求1所述的化验室用电子分析天平，其特征在于：所述保护罩...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈爽，归雪娟，陈嘉慧，余晓丰，
申请(专利权)人：广东骥祥检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：