一种卫星信号反射损耗的自动处理方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术所提供的一种卫星信号反射损耗的自动处理方法及装置，所述方法包括：当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据；获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果；根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息。本发明专利技术通过上位机获取网络分析仪的测试数据，并自动与标准数据对比，生成待测板卡的电气参数调整信息，无需电路板研发人员根据经验进行电气参数的调整，减小了工作量。减小了工作量。减小了工作量。

【技术实现步骤摘要】
一种卫星信号反射损耗的自动处理方法及装置


[0001]本专利技术涉及电路板
，尤其涉及的是一种卫星信号反射损耗的自动处理方法及装置。

技术介绍

[0002]新开发的TV电路板通常需要做一项卫星信号强度测试实验，即，测试噪波灵敏度。在噪波灵敏度的测试工作中，当测试结果不符合国家相关规定时，研发设计人员需要对TV卫星信号反射损耗这一指标进行测试，并根据测试结果增加相应的整改措施。
[0003]然而，由于卫星信号极易受实验环境电磁信号的干扰，在实际的测试整改过程中，研发设计人员通常采用固有经验去增加整改措施，这样的处理方式一方面极大的增加了研发人员的工作量，另外也对研发人员的能力技术有一定的要求。
[0004]因此，现有技术存在缺陷，有待改进与发展。

技术实现思路

[0005]本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种卫星信号反射损耗的自动处理方法及装置，旨在解决现有技术中根据测试结果进行电路板整改时需要由研发设计人员根据经验进行电气参数的调整，工作量大的问题。
[0006]本专利技术解决技术问题所采用的技术方案如下：
[0007]第一方面，本专利技术实施例提供一种卫星信号反射损耗的自动处理方法，所述方法包括：
[0008]当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据；
[0009]获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果；
[0010]根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息。
[0011]在一种实施方式中，所述待测板卡通过SMA同轴屏蔽线与所述网络分析仪连接；所述当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据，包括：
[0012]预先通过USB总线与网络分析仪建立通信连接；
[0013]当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，通过USB总线获取所述测试数据。
[0014]在一种实施方式中，所述标准数据为基于史密斯圆图的标准数值，所述测试数据包括所述待测板卡上测试点对应的所有测试数据点数值；所述获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果，包括：
[0015]将多个所述测试数据点数值保存至数组中；
[0016]获取基于史密斯圆图的标准数值，将所述数组中的所有测试数据点数值进行遍历，将各个测试数据点数值与对应的标准数值进行比对，得到比对结果。
[0017]在一种实施方式中，所述标准数值包括标准横坐标数值和标准纵坐标数值，且所述标准横坐标数值和标准纵坐标数值一一对应；每个所述测试数据点数值包括测试横坐标数值和测试纵坐标数值，且所述测试横坐标数值和测试纵坐标数值一一对应；
[0018]所述获取基于史密斯圆图的标准数值，将所述数组中的所有测试数据点数值进行遍历，将各个测试数据点数值与对应的标准数值进行比对，得到比对结果，包括：
[0019]根据所述测试横坐标数值查找基于史密斯圆图的标准数值，确定与所述测试横坐标数值相同的目标标准横坐标数值；
[0020]获取与所述目标标准横坐标数值相对应的目标标准纵坐标数值；
[0021]将所述测试纵坐标数值与所述目标标准纵坐标数值的大小进行比对。
[0022]在一种实施方式中，根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息，包括：
[0023]若所述测试纵坐标数值大于所述目标标准纵坐标数值，则生成增大电容信息；
[0024]若所述测试纵坐标数值小于所述目标标准纵坐标数值，则生成减小电容信息。
[0025]在一种实施方式中，根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息，还包括：
[0026]若所述测试纵坐标数值等于所述目标标准纵坐标数值，则保存所述测试数据，并生成保持电容信息。
[0027]在一种实施方式中，根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息之后，还包括：
[0028]显示所述待测板卡的电气参数调整信息。
[0029]第二方面，本专利技术实施例还提供一种卫星信号反射损耗的自动处理装置，其中，所述装置包括：
[0030]获取模块，用于当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据；
[0031]比对模块，用于获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果；
[0032]生成模块，用于根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息。
[0033]第三方面，本专利技术实施例还提供一种终端，其中，所述终端包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的卫星信号反射损耗的自动处理程序，所述卫星信号反射损耗的自动处理程序被所述处理器执行时实现如上所述的卫星信号反射损耗的自动处理方法的步骤。
[0034]第四方面，本专利技术实施例还一种计算机可读存储介质，其中，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序能够被执行以用于实现如上所述的卫星信号反射损耗的自动处理方法的步骤。
[0035]本专利技术的有益效果：本专利技术实施例通过当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据；获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果；根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息。本专利技术通过上位机获取网络分析仪的测试数据，并自动与标准数据对比，生成待测板卡的电气参数调整信息，无需电路板研发人员根据经验进行电气参数的调整，
减小了工作量。
附图说明
[0036]图1是本专利技术中卫星信号反射损耗的自动处理方法较佳实施例的流程图。
[0037]图2是本专利技术中卫星信号反射损耗的自动处理方法较佳实施例的原理流程框图。
[0038]图3是本专利技术中卫星信号反射损耗的自动处理装置较佳实施例的功能原理框图。
[0039]图4是本专利技术中终端的较佳实施例的功能原理框图。
具体实施方式
[0040]为使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本专利技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0041]新开发的TV电路板通常需要做一项卫星信号强度测试实验，即，测试噪波灵敏度。在噪波灵敏度的测试工作中，当测试结果不符合国家相关规定时，研发设计人员需要对TV卫星信号反射损耗这一指标进行测试，并根据测试结果增加相应的整改措施。
[0042]然而，由于卫星信号极易受实验环境电磁信号的干扰，在实际的测试整改过程中，研发设计人员通常采用固有经验去增加整改措施，这样的处理方式一方面极大的增加了研发人员的工作量，另外也对研发人员的能力技术有一定的要求。同时，由于测试环境不一、测试手法不专业等问题，导致最后的测试结果存在可复现性程度低的问本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种卫星信号反射损耗的自动处理方法，其特征在于，包括：当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据；获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果；根据所述比对结果生成所述待测板卡的电气参数调整信息。2.根据权利要求1所述的卫星信号反射损耗的自动处理方法，其特征在于，所述待测板卡通过SMA同轴屏蔽线与所述网络分析仪连接；所述当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，获取所述测试数据，包括：预先通过USB总线与网络分析仪建立通信连接；当网络分析仪检测待测板卡的卫星信号反射损耗，并得到对应的测试数据时，通过USB总线获取所述测试数据。3.根据权利要求2所述的卫星信号反射损耗的自动处理方法，其特征在于，所述标准数据为基于史密斯圆图的标准数值，所述测试数据包括所述待测板卡上测试点对应的所有测试数据点数值；所述获取预设的标准数据，将所述测试数据与所述标准数据进行比对，得到比对结果，包括：将多个所述测试数据点数值保存至数组中；获取基于史密斯圆图的标准数值，将所述数组中的所有测试数据点数值进行遍历，将各个测试数据点数值与对应的标准数值进行比对，得到比对结果。4.根据权利要求3所述的卫星信号反射损耗的自动处理方法，其特征在于，所述标准数值包括标准横坐标数值和标准纵坐标数值，且所述标准横坐标数值和标准纵坐标数值一一对应；每个所述测试数据点数值包括测试横坐标数值和测试纵坐标数值，且所述测试横坐标数值和测试纵坐标数值一一对应；所述获取基于史密斯圆图的标准数值，将所述数组中的所有测试数据点数值进行遍历，将各个测试数据点数值与对应的标准数值进行比对，得到比对结果，包括：根据所述测试横坐标数值查找基于史密斯圆图的标准数值，确定与所述测试横坐标数值相同的目标...

【专利技术属性】
技术研发人员：付振威，陈伟铃，
申请(专利权)人：深圳康佳电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：