多块SATASSD高低温测试装置、方法及系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种多块SATA SSD高低温测试装置、方法及系统，装置包括上位机和下位机，上位机用于控制SATA SSD的腔室进行高低温的变化；下位机通过治具的PCI槽口插接多个SATA SSD；其中，上位机和下位机通信连接，用于下发测试脚本至下位机获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统，下位机用于执行测试脚本，获取多块SATA SSD的性能测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。本申请通过上位机和下位机通信下发测试脚本，下位机通过治具的插口插接多个SATA SDD，实现同时检测多块SATA SSD产品，有效保证了SATA SSD产品质量和生产效率。SSD产品质量和生产效率。SSD产品质量和生产效率。

【技术实现步骤摘要】
多块SATA SSD高低温测试装置、方法及系统


[0001]本专利技术涉及固态硬盘测试
，具体是涉及一种多块SATA SSD高低温测试装置、方法及系统。

技术介绍

[0002]SSD(固态驱动器)是一种非易失性存储介质，可将固态闪存存储在固态闪存中。构成SSD的两个关键组件是闪存控制器和NAND闪存芯片。SSD控制器的架构配置经过优化，可为顺序和随机数据请求提供高读写性能。SSD有时被称为闪存驱动器或固态磁盘。
[0003]SSD与硬盘驱动器(HDD)不同，其没有移动部件可以断开或旋转。传统的硬盘驱动器由一个旋转磁盘组成，该磁盘在称为执行器的机械臂上具有读/写头。HDD机制和硬盘封装为集成单元。尽管SSD现在在台式机和笔记本电脑中很常见，但由于其较低的单位成本和较高的平均耐久性，企业和计算机制造商历来使用旋转磁盘。
[0004]旋转的HDD以磁性方式读取和写入数据，这是连续使用中最古老的存储介质之一。然而，磁性能会导致机械故障。相反，SSD将数据读取和写入互连闪存芯片的基板，互连闪存芯片由硅制成。制造商通过在网格中堆叠芯片来实现SSD，以实现不同的密度。
[0005]为了防止波动，SSD制造商设计具有浮栅晶体管(FGR)的器件来保持电荷。这允许SSD即使在未连接到电源时也能保留存储的数据。每个FGR包含一位数据，如果充电电池指定为1，或者如果电池没有电荷则指定为0。
[0006]SATA类型的SSD通过计算机上的SATA口进行连接使用，通过标准通用工具对盘进行读写测试时，每次只能对一块盘进行读写测试，并且不能对盘控制掉电、上电然后读写的测试，对产品质量和生产效率带来了严重的瓶颈限制。

技术实现思路

[0007]本专利技术的目的是为了克服上述
技术介绍
的不足，提供一种多块SATA SSD高低温测试装置、方法及系统。
[0008]第一方面，本申请提供了一种多块SATA SSD高低温测试装置，包括上位机和下位机，所述上位机，用于控制SATA SSD的腔室进行高低温的变化；所述下位机通过治具的槽口插接多个SATA SSD；其中，所述上位机和所述下位机通信连接，用于下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统，所述下位机用于执行测试脚本，获取多块SATA SSD的性能测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。
[0009]根据第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，所述上位机采用Windows系统，所述下位机采用Linux系统。
[0010]第二方面，本申请提供了一种应用于如上所述的多块SATA SSD高低温测试装置中的多块SATA SSD高低温测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
[0011]通过上位机获取测试项目，并下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统；
[0012]下位机的治具槽口插接多个SATA SSD，控制下位机根据测试脚本对多块SATA SSD进行测试，获取多块SATA SSD的测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。
[0013]根据第二方面，在第二方面的第一种可能的实现方式中，所述通过上位机获取测试项目，并下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统的步骤，具体包括以下步骤：
[0014]控制上位机程序启动，获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试。
[0015]根据第二方面的第一种可能的实现方式，在第二方面的第二种可能的实现方式中，所述控制上位机程序启动，获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试的步骤，具体包括以下步骤：
[0016]控制上位机程序启动，读取测试项配置信息；
[0017]比对测试项配置信息和预设测试项配置结果，获取比对工况；
[0018]当测试项配置信息和预设测试项配置结果匹配时，判定测试信息准备好，控制上位机获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS(Full Disk Scan)测试、PCT测试和BITPCT测试。
[0019]根据第二方面的第二种可能的实现方式，在第二方面的第三种可能的实现方式中，所述下位机的治具槽口插接多个SATA SSD，控制下位机根据测试脚本对多块SATA SSD进行测试，获取多块SATA SSD的测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示的步骤，具体包括以下步骤：
[0020]控制获取SATA SSD对应于下位机上的串口并进行初始化；
[0021]获取测试命令；
[0022]检查SATA SSD运行工况，根据SATA SSD的运行工况，执行不同的对多块SATA SSD进行测试的测试策略，获取多块SATA SSD的测试结果。
[0023]根据第二方面的第三种可能的实现方式，在第二方面的第四种可能的实现方式中，所述检测SATA SSD运行工况，根据SATA SSD的运行工况，执行不同的对多块SATA SSD进行测试的测试策略，获取多块SATA SSD的测试结果的步骤，具体包括以下步骤：
[0024]当检测到SATA SSD运行时，控制从治具槽口上移除设备，控制多个SATA SSD进行掉电上电测试操作扫描SATA SSD，再执行对多块SATA SSD进行测试。
[0025]根据第二方面的第三种可能的实现方式在，在第二方面的第五种可能的实现方式中，所述检测SATA SSD运行工况，根据SATA SSD的运行工况，执行不同的对多块SATA SSD进行测试的测试策略，获取多块SATA SSD的测试结果的步骤，还包括以下步骤：
[0026]当检测到SATA SSD运行时，依次检测BIT测试、PCT测试和FDS测试的测试需求；
[0027]当BIT测试、PCT测试和FDS测试任一项需要进行测试时，控制控制从治具槽口上移除设备，控制多个SATA SSD进行掉电上电测试操作扫描SATA SSD，再执行对多块SATA SSD进行测试。
[0028]第三方面，本申请提供了一种多块SATA SSD高低温测试系统，包括：
[0029]测试项目获取模块，用于通过上位机获取测试项目，并下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统；
[0030]测试控制模块，与所述测试项目获取模块通信连接，用于下位机的治具槽口插接多个SATA SSD，控制下位机根据测试脚本对多块SATA SSD进行测试，获取多块SATA SSD的测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。
[0031]与现有技术相比，本专利技术的优点如下：
[0032]本申请提供的多块SATA SSD高低温测试装置、方法及系统，通过上位机和下位机通信下发测试脚本，下位机通过治具的插口插接多个SATA SDD，实现同时检测多块SATA SSD产品本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多块SATA SSD高低温测试装置，其特征在于，包括：上位机，用于控制SATA SSD的腔室进行高低温的变化；下位机，所述下位机通过治具的槽口插接多个SATA SSD；其中，所述上位机和所述下位机通信连接，用于下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统，所述下位机用于执行测试脚本，获取多块SATA SSD的性能测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。2.如权利要求1所述的多块SATA SSD高低温测试装置，其特征在于，所述上位机采用Windows系统，所述下位机采用Linux系统。3.一种应用于如权利要求1
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2任一项所述的多块SATA SSD高低温测试装置中的多块SATA SSD高低温测试方法，其特征在于，包括以下步骤：通过上位机获取测试项目，并下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统；下位机的治具槽口插接多个SATA SSD，控制下位机根据测试脚本对多块SATA SSD进行测试，获取多块SATA SSD的测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。4.如权利要求3所述的多块SATA SSD高低温测试方法，其特征在于，所述通过上位机获取测试项目，并下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统的步骤，具体包括以下步骤：控制上位机程序启动，获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试。5.如权利要求4所述的多块SATA SSD高低温测试方法，其特征在于，所述控制上位机程序启动，获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试的步骤，具体包括以下步骤:控制上位机程序启动，读取测试项配置信息；比对测试项配置信息和预设测试项配置结果，获取比对工况；当测试项配置信息和预设测试项配置结果匹配时，判定测试信息准备好，控制上位机获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试。6.如权利要求3所述的多块SATA SSD高低温测试方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗恒毅，弗兰克，
申请(专利权)人：至誉科技武汉有限公司，
类型：发明
国别省市：