一种割缝检测方法、调高器及其调高方法技术

本发明专利技术提供一种割缝检测方法、调高器及其调高方法，应用于等离子切割技术领域，通过检测弧压值的变化进行割缝判断，割缝判断的过程包括：第一阶段和第二阶段；调高器包括用于执行上述割缝检测方法的割缝检测模块；调高方法具体步骤包括：调高器进入第一阶段后判断是否满足进入第二阶段的条件，若满足则关闭调高，若不满足则进入正常调高跟随状态；进入第二阶段后判断是否满足进入第三阶段的条件，若满足则降低调高灵敏度，若不满足则进入正常调高跟随状态；进入第三阶段后判断是否满足结束第三阶段的条件，若满足则进入正常调高跟随状态，若不满足则降低调高灵敏度。通过检测值判断割炬是否处于割缝位置，从而及时调整调高器的跟随状态。随状态。随状态。

【技术实现步骤摘要】
一种割缝检测方法、调高器及其调高方法


[0001]本专利技术属于等离子切割
，具体涉及一种割缝检测方法、调高器及其调高方法。

技术介绍

[0002]等离子弧切割是利用高温等离子电弧的热量使工件切口处的金属局部熔化（和蒸发），并借高速等离子的动量排除熔融金属以形成切口的一种加工方法。等离子切割时，为了保证切割的质量及割嘴的寿命，引弧穿孔时割嘴和钢板之间需要保持合适的高度，弧压调高器的功能就是在引弧切割时，测量割炬和钢板之间的电压值，并且根据测量到的电压值实时调节等离子割炬的切割高度。
[0003]目前现有的等离子弧压调高器大多是通过直接测量割炬与钢板之间的弧压来判断割炬高度，从而进行调高工作的。因此测量到的弧压值，成为了弧压调高的基础和重点。
[0004]然而，在使用过程中，实际弧压存在各种各样情况的干扰，尤其是在切割时遇到割缝的情况，比如在切割路径上，经过了一段之前切割过的线路，或者切割的线路与之前切割的线路存在平行或重叠。这种情况对于实际弧压值会造成直接的干扰，产生急剧增大或者不稳定的抖动等情况。这种情况是实际产生的一种物理现象，不能直接通过滤波等测量手段有效去除，且会导致切割时割炬高度控制不稳定，从而降低切割质量，严重时，还会使割炬撞击钢板，导致割炬或者工件损坏的情况。
[0005]因此，亟需提出一种等离子弧压调高器的割缝检测方法和割缝位置的调高方法，有效保证切割质量，避免过割缝时割炬抖动等异常情况，能够增大加工效率，完善加工效果。

技术实现思路

[0006]鉴于现有技术中存在上述问题，本专利技术的一个目的是提供一种等离子弧压调高器的割缝检测方法，用于通过检测弧压值、弧压变化率以判断割炬是否处于割缝位置。
[0007]一种等离子弧压调高器的割缝检测方法，通过检测弧压值的变化进行割缝判断，所述割缝判断的过程包括：第一阶段，所述调高器的弧压值增大后，调高器由正常调高跟随状态进入第一阶段，所述第一阶段用于判断当前弧压值是否超过割缝弧压阈值，若超过，则进入第二阶段并暂时关闭调高，若未超过则判定当前不处于割缝位置；第二阶段，用于根据第二阶段时间内的弧压平均值判断弧压值增大是否因调高器当前处于割缝位置。
[0008]第二阶段的判断过程为：所述调高器进入第二阶段并暂时关闭调高后，监测第二阶段时间内的弧压值，然后判断第二阶段的弧压值是否稳定，若不稳定，则判定当前不处于割缝位置，若稳定，则判断第二阶段稳定时间内的弧压平均值是否超过割缝弧压阈值，若超过，则判定当前处于割缝位置，若未超过则判定当前不处于割缝位置。
[0009]本专利技术的第二方面，还提出一种等离子弧压调高器的割缝检测方法，通过检测弧压值的变化进行割缝判断，所述割缝判断的过程包括：第一阶段，所述调高器的弧压值增大后，调高器由正常调高跟随状态进入第一阶段，所述第一阶段用于判断当前弧压值是否超过割缝弧压阈值，若未超过则判定当前不处于割缝位置，若超过，则判断弧压变化率是否超过过割缝弧压变化率，若超过，则进入第二阶段并暂时关闭调高，若未超过则判定当前不处于割缝位置；第二阶段，用于根据第二阶段时间内的弧压平均值判断弧压值增大是否因调高器当前处于割缝位置。
[0010]第二阶段的判断过程为：所述调高器进入第二阶段并暂时关闭调高后，监测第二阶段时间内的弧压值，然后判断第二阶段的弧压值是否稳定，若不稳定，则判定当前不处于割缝位置，若稳定，则判断第二阶段稳定时间内的弧压平均值是否超过割缝弧压阈值，若超过，则判定当前处于割缝位置，若未超过则判定当前不处于割缝位置。
[0011]本专利技术的另一个目的是提出一种等离子弧压调高器，用于判断割炬当前是否处于割缝位置，从而自动调整跟随状态，保障稳定性和安全性，避免割炬突然下降撞击工件。
[0012]一种等离子弧压调高器，包括割缝检测模块，所述割缝检测模块执行上述的割缝检测方法。
[0013]基于上述等离子弧压调高器，本专利技术还提出一种等离子弧压调高器的调高方法，具体包括如下步骤：所述调高器切割运行时检测到弧压值增大后，由正常调高跟随状态进入第一阶段，判断是否满足进入第二阶段的条件，若满足条件则进入第二阶段并暂时关闭调高，若不满足条件则进入正常调高跟随状态，继续监测弧压值；所述调高器进入第二阶段后，判断是否满足进入第三阶段的条件，若满足条件则进入第三阶段并降低调高灵敏度，若不满足条件则进入正常调高跟随状态，继续监测弧压值；所述调高器进入第三阶段后，判断是否满足结束第三阶段的条件，若满足条件则进入正常调高跟随状态，继续监测弧压值，若不满足条件则降低调高灵敏度，直至满足条件后进入正常调高跟随状态，继续监测弧压值。
[0014]所述判断是否满足结束第三阶段的条件为：当前弧压值是否低于割缝弧压阈值和退出割缝阈值的差值。
[0015]若当前弧压值不低于割缝弧压阈值和退出割缝阈值的差值，则判定当前仍处于割缝位置，继续监测弧压值并判断当前弧压值是否低于割缝弧压阈值和退出割缝阈值的差值；若当前弧压值低于割缝弧压阈值和退出割缝阈值的差值，则判定当前退出割缝位置，进入正常调高跟随状态，继续监测弧压值。
[0016]本专利技术的有益效果是：该等离子弧压调高器的割缝检测方法、调高器及其调高方法，能够根据测量的弧压值计算弧压变化率，并通过弧压值、弧压变化率判断当前割炬是否处于割缝位置，并控制调高器执行暂时关闭调高或降低调高灵敏度等响应操作，从而能够提高稳定性，使割炬经过割缝时，能够自动调整跟随状态，保障切割过程稳定，切割效果好；同时，能够提高安全性，能够在检测到割缝后，保护割炬不会突然下降撞击工件，有利于保障切割的安全性。
附图说明
[0017]附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1是本专利技术的实施例一中割缝检测方法的流程图；图2是本专利技术的实施例二中割缝检测方法的流程图；图3是本专利技术的调高方法的流程图；图4是本专利技术的第一种调高方法的具体流程图；图5是本专利技术的第二种调高方法的具体流程图；图6是本专利技术的调高方法的各阶段分布示意图。
具体实施方式
[0018]实施例一如图1所示，一种等离子弧压调高器的割缝检测方法，通过检测弧压值的变化进行割缝判断，割缝判断的过程包括第一阶段P1和第二阶段P2，调高器的弧压值增大后，调高器由正常调高跟随状态进入第一阶段P1。
[0019]第一阶段P1的判断过程具体包括：判断当前弧压值是否超过割缝弧压阈值，若超过，则进入第二阶段P2并暂时关闭调高，若未超过则判定当前不处于割缝位置。
[0020]其中，割缝弧压阈值=设置弧压值+设置弧压值*系数，系数范围为30%至50%，检测当前弧压值的工作原理与现有调高器检测弧压值的工作原理相同。例如，设置弧压值为120V，系数为30%，则割缝弧压阈值为156V，即当实际测量的弧压值超过156V时，调高器会暂时关闭调高，使割炬不再升降移动，从而避免割炬与切割料台或机床发生碰撞。
[0021]第二阶段P2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种等离子弧压调高器的割缝检测方法，通过检测弧压值的变化进行割缝判断，其特征在于，所述割缝判断的过程包括：第一阶段，所述调高器的弧压值增大后，调高器由正常调高跟随状态进入第一阶段，所述第一阶段用于判断当前弧压值是否超过割缝弧压阈值，若超过，则进入第二阶段并暂时关闭调高，若未超过则判定当前不处于割缝位置；第二阶段，用于根据第二阶段时间内的弧压平均值判断弧压值增大是否因调高器当前处于割缝位置。2.根据权利要求1所述的等离子弧压调高器的割缝检测方法，其特征在于，所述调高器进入第二阶段并暂时关闭调高后，监测第二阶段时间内的弧压值，然后判断第二阶段的弧压值是否稳定，若不稳定，则判定当前不处于割缝位置，若稳定，则判断第二阶段稳定时间内的弧压平均值是否超过割缝弧压阈值，若超过，则判定当前处于割缝位置，若未超过则判定当前不处于割缝位置。3.一种等离子弧压调高器的割缝检测方法，通过检测弧压值的变化进行割缝判断，其特征在于，所述割缝判断的过程包括：第一阶段，所述调高器的弧压值增大后，调高器由正常调高跟随状态进入第一阶段，所述第一阶段用于判断当前弧压值是否超过割缝弧压阈值，若未超过则判定当前不处于割缝位置，若超过，则判断弧压变化率是否超过过割缝弧压变化率，若超过，则进入第二阶段并暂时关闭调高，若未超过则判定当前不处于割缝位置；第二阶段，用于根据第二阶段时间内的弧压平均值判断弧压值增大是否因调高器当前处于割缝位置。4.根据权利要求3所述的等离子弧压调高器的割缝检测方法，其特征在于，所述调高器进入第二阶段并暂时关闭调高后，监测第二阶段时间内的弧压值，然后判断第二阶段的弧压值是否稳定，若不稳定，则判定...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟祥群，涂义泉，杨楚，
申请(专利权)人：上海方菱计算机软件有限公司，
类型：发明
国别省市：