环形架多探头近场天线测试装置制造方法及图纸

技术编号:36148163 阅读:9 留言:0更新日期:2022-12-28 15:22
本实用新型专利技术公开了环形架多探头近场天线测试装置,涉及天线测试及其相关配件技术领域。本实用新型专利技术包括外部框架,外部框架的内部底端中心位置设置有转动组件,转动组件包括外壳和电机A,外壳的内部一侧安装有电机A,外部框架的内部底端一侧设置有驱动组件,驱动组件包括安装座和电机B,安装座的上表面中心位置安装有电机B,电机B的输出轴上安装有齿盘C。本实用新型专利技术通过利用驱动组件和转动组件,电机B运转带动内部框架旋转,进而使得内部的多个调节板上的多个探头转动,进而可以实现多个探头部件绕同一圆心同时旋转一定角度,并且通过电机A带动转台旋转,进而可以带动被测件旋转,从而可以使被测件实现旋转运动,配合完成近场天线测试。线测试。线测试。

【技术实现步骤摘要】
环形架多探头近场天线测试装置


[0001]本技术属于天线测试及其相关配件
,特别是涉及环形架多探头近场天线测试装置。

技术介绍

[0002]随着科技和社会的发展,各个领域的设备都得到了极大的发展,在日常生活和生产中,无线电通信、广播、电视、雷达、导航等工程系统,凡是利用电磁波来传递信息的,都是依靠天线来工作的,而天线的特性需要通过测量得出,天线近场测试就是其中一种,通过多个探头进行测试,但它在实际使用中仍存在以下弊端:
[0003]1、现有的多个探头在天线近场测试时,无法在同一圆弧上精确定位的难点;
[0004]2、现有的多个探头在天线近场测试时,多探头无法整体绕同一圆心无跳动精确地旋转定位的难点。
[0005]因此,现有的环形架多探头近场天线测试装置,无法满足实际使用中的需求,所以市面上迫切需要能改进的技术,以解决上述问题。

技术实现思路

[0006]本技术的目的在于提供环形架多探头近场天线测试装置,通过利用驱动组件和转动组件,电机B运转带动齿盘C旋转,通过齿盘C和圆弧导轨的传动作用,使得内部框架进行一定的角度旋转,进而使得内部的多个调节板上的多个探头转动,进而可以实现多个探头部件绕同一圆心同时旋转一定角度,电机A运转带动齿盘A旋转,通过齿盘A和齿盘B的传动作用,使得顶部的转台旋转,进而可以带动被测件旋转,从而可以使被测件实现旋转运动,配合完成近场天线测试。
[0007]为解决上述技术问题,本技术是通过以下技术方案实现的:
[0008]本技术为环形架多探头近场天线测试装置,包括外部框架,所述外部框架的内部底端中心位置设置有转动组件,所述转动组件包括外壳和电机A,所述外壳的内部一侧安装有电机A,所述外部框架的内部底端一侧设置有驱动组件,所述驱动组件包括安装座和电机B,所述安装座的上表面中心位置安装有电机B,所述电机B的输出轴上安装有齿盘C,电机A通过固定架与外壳的内壁连接,安装座通过固定螺栓安装在外部框架内,外部框架用于承载整个设备,底部可与地面等连接固定。
[0009]进一步地,所述外壳的上表面中心位置焊接有凸环,所述电机A的输出轴上安装有齿盘A,所述齿盘A的一侧设置有齿盘B,所述齿盘B的上表面中心位置安装有转轴,齿盘A外壁上的齿轮与齿盘B外壁上的齿轮啮合连接,实现同步运动,进而带动转轴旋转。
[0010]进一步地,所述转轴的底端贯穿齿盘B上表面与外壳内部底端上的轴承连接,所述转轴的顶端贯穿外壳上表面的通孔与转台连接,所述转台的底部套设在凸环的外壁外侧,凸环主要对转台起到限位的作用,转台主要安装被测件,并实现旋转运动,配合完成近场天线测试。
[0011]进一步地,所述外部框架的外壁外侧沿圆周方向均匀间隔安装有安装底板,所述外部框架的内部安装有内部框架,所述内部框架的前后两端端面顶部均安装在外部框架内壁上的滑槽内,安装底板用于安装吸波材料,内部框架可安装若干个数量的探头调整组件,各个探头调整组件按特定的固定角度间距安装,使内部框架与探头调整组件形成整体。
[0012]进一步地,所述内部框架的前端端面斜下方焊接有圆弧导轨,所述圆弧导轨的外壁外侧设置有弧形齿条,所述外部框架和内部框架相对的端面之间设置有电缆线框,圆弧导轨用于外部框架和内部框架的连接,保证内圈的精确旋转和定位,弧形齿条外壁上的齿轮与齿盘C外壁上的齿轮啮合连接,实现同步运动,电缆线框用于各探头走线。
[0013]进一步地,所述内部框架的内部沿圆周方向均匀间隔设置有探头调整组件,所述探头调整组件包括固定板和电动伸缩杆,所述固定板的外侧壁均匀间隔通过铰链与电动伸缩杆连接,电动伸缩杆设置有六个,且两两一组紧靠设置,相邻的两个电动伸缩杆的形状可形成等腰三角形。
[0014]进一步地,所述电动伸缩杆的另一端通过铰链与调节板连接,所述调节板的外侧壁中心位置设置有安装槽,安装槽内可安装探头。
[0015]本技术具有以下有益效果:
[0016]1、本技术通过设置驱动组件,当工作人员使用时,先将被测件放置在转台上以及探头安装在调节板上的安装槽内,接着启动电机B,电机B的输出轴转动带动齿盘C旋转,而齿盘C外壁上的齿轮与圆弧导轨外壁上的弧形齿条上的齿轮啮合连接,因此,在齿盘C旋转时会带动圆弧导轨转动,而圆弧导轨固定在内部框架上,使得内部框架进行一定的角度旋转,进而使得内部的多个调节板上的多个探头转动,进而可以实现多个探头部件绕同一圆心同时旋转一定角度,解决了现有的多个探头在天线近场测试时,无法在同一圆弧上精确定位的问题。
[0017]2、本技术通过设置转动组件,使用时,将被测件放置在转台上,接着启动电机A,电机A的输出轴转动带动齿盘A旋转,而齿盘A外壁上的齿轮与齿盘B外壁上的齿轮啮合连接,因此,在齿盘A旋转时会带动齿盘B转动,齿盘B转动会带动内壁上的转轴旋转,通过在转轴的转动作用下使得顶部的转台旋转,进而可以带动被测件旋转,从而可以使被测件实现旋转运动,配合完成近场天线测试,解决了现有的多个探头在天线近场测试时,多探头无法整体绕同一圆心无跳动精确地旋转定位的问题。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案,下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为本技术的结构图;
[0020]图2为本技术的剖视图;
[0021]图3为本技术转动组件的剖视图;
[0022]图4为本技术探头调整组件的结构图。
[0023]附图中,各标号所代表的部件列表如下:
[0024]1、外部框架;101、安装底板;102、转动组件;1021、外壳;1022、电机A;1023、齿盘A;1024、齿盘B;1025、转轴;1026、转台;1027、凸环;103、圆弧导轨;104、内部框架;105、电缆线框;106、探头调整组件;1061、固定板;1062、电动伸缩杆;1063、调节板;1064、安装槽;2、驱动组件;201、安装座;202、电机B;203、齿盘C。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0026]请参阅图1

4所示,本技术为环形架多探头近场天线测试装置,包括外部框架1,外部框架1的内部底端中心位置设置有转动组件102,转动组件102包括外壳1021和电机A1022,外壳1021的内部一侧安装有电机A1022,外部框架1的内部底端一侧设置有驱动组件2,驱动组件2包括安装座201和电机B202,安装座201的上表面中心位置安装有电机B202,电机B202的输出轴上安装有齿盘C203,电机A1022通过固定架与外壳1021的内壁连接,安装座201通过固定螺栓安装在外部框架1内,本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.环形架多探头近场天线测试装置,包括外部框架(1),其特征在于:所述外部框架(1)的内部底端中心位置设置有转动组件(102),所述转动组件(102)包括外壳(1021)和电机A(1022),所述外壳(1021)的内部一侧安装有电机A(1022),所述外部框架(1)的内部底端一侧设置有驱动组件(2),所述驱动组件(2)包括安装座(201)和电机B(202),所述安装座(201)的上表面中心位置安装有电机B(202),所述电机B(202)的输出轴上安装有齿盘C(203)。2.根据权利要求1所述的环形架多探头近场天线测试装置,其特征在于:所述外壳(1021)的上表面中心位置焊接有凸环(1027),所述电机A(1022)的输出轴上安装有齿盘A(1023),所述齿盘A(1023)的一侧设置有齿盘B(1024),所述齿盘B(1024)的上表面中心位置安装有转轴(1025)。3.根据权利要求2所述的环形架多探头近场天线测试装置,其特征在于:所述转轴(1025)的底端贯穿齿盘B(1024)上表面与外壳(1021)内部底端上的轴承连接,所述转轴(1025)的顶端贯穿外壳(1021)上表面的通孔与转台(1026)连接,所述转台(1026)的底部套设在凸...

【专利技术属性】
技术研发人员:程杰
申请(专利权)人:南京艾文森电子系统工程有限公司
类型:新型
国别省市:

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