半导体量子芯片测控方法、系统、测控系统及量子计算机技术方案

本申请涉及一种半导体量子芯片测控方法、系统、测控系统及量子计算机，应用于量子计算机技术领域，其包括在接收到请求指令时，根据预设的界面数据对页面进行渲染，生成实验界面；响应实验选择指令，显示与所述实验选择指令对应的实验界面；响应实验执行指令，读取与所述实验选择指令对应的实验界面，获取实验参数，并运行实验；接收并显示与所述实验参数对应的实验结果。本申请通过与多种仪器建立链接，生成实验界面，从而便于用户对实验参数进行设置，进而便于根据实验参数控制仪器运行实验，大大提高了用户进行实验的便捷性。大大提高了用户进行实验的便捷性。大大提高了用户进行实验的便捷性。

【技术实现步骤摘要】
半导体量子芯片测控方法、系统、测控系统及量子计算机


[0001]本申请涉及量子计算机
，尤其是涉及一种半导体量子芯片测控方法、系统、测控系统及量子计算机。

技术介绍

[0002]量子计算机是一类遵循量子力学规律进行高速数学和逻辑运算、存储及处理量子信息的物理装置。量子计算机有诸多发展方向，例如：超导、半导、离子井等，其中半导体量子计算机是指以门控半导体量子点实现量子比特编码为物理基础所形成的量子计算物理体系。
[0003]半导体量子计算机中包含测控系统，测控系统用于提供半导体量子芯片运行所需精密信号的生成、采集、控制与处理，测控系统中的测控硬件仍以商用仪器为主，在进行测量和控制半导体量子芯片时，需要依次对商用仪器进行参数设置，通过多种商用仪器对半导体量子芯片的参数进行设置，从而完成实验。
[0004]针对上述中的相关技术，得知半导体量子计算机的测控需要依次对多种商用仪器的参数进行设置，导致实验的参数设置比较复杂，不便于人员对半导体量子芯片进行测控。

技术实现思路

[0005]为了改善半导体量子计算机的测控需本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体量子芯片测控方法，其特征在于，所述方法包括：在接收到请求指令时，根据预设的界面数据对页面进行渲染，生成实验界面；响应实验选择指令，显示与所述实验选择指令对应的实验界面；响应实验执行指令，读取与所述实验选择指令对应的实验界面，获取实验参数，并运行实验；接收并显示与所述实验参数对应的实验结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述响应实验执行指令，解析并读取与所述实验选择指令对应的实验界面，获取实验参数之前，还包括：响应用户登录指令，在预设的用户数据库中查找与所述用户登录指令对应的用户实验参数；响应所述实验选择指令，显示与所述实验选择指令对应的所述实验界面，并将所述用户实验参数填充入所述实验界面。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述响应实验执行指令，解析并读取与所述实验选择指令对应的实验界面，获取实验参数之后，还包括：将所述实验参数与预设的对应的阈值范围进行比较；若检测到所述实验参数超过对应的所述阈值范围，则显示参数错误提示。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述实验结果包括实验数据以及实验动态绘图；所述接收并显示与所述实验参数对应的实验结果，包括：接收与所述实验参数对应的所述实验数据；在预设的实验绘图数据库中查找与实验名称对应的实验绘图模型；通过预设的统计图表组件将所述实验数据填充入所述实验绘图模型中，生成所述实验动态绘图；显示所述实验动态绘图以及所述实验数据。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述在预设的实验绘图数据库中查找与实验名称对应的实验绘图模型之后，还包括：根据所述实验参数确定实验绘图方向，所述实验绘图方向包括：正向或反向；根据所述实验绘图方向以及所述统计图表组件将所述实验数据填充入所述实验绘图模型中，生成所述实验动态绘图。6.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：张辉，石汉卿，侯需要，祝朗，孔伟成，
申请(专利权)人：合肥本源量子计算科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：