一种激光能量测试仪的调试系统及方法技术方案

技术编号:36093639 阅读:66 留言:0更新日期:2022-12-24 11:11
本发明专利技术属于光学仪器调试技术领域,涉及一种激光能量测试仪的调试系统及方法,调试系统包括高能量激光器、光学平台、冷却系统、激光功率测量装置、照射时间测量装置、激光照射校正装置和稳压电源;高能量激光器根据调试需要,发射相应能量的激光;激光照射校正装置用于探测并监控激光的光斑大小及方向;照射时间测量装置用于确定激光发射时间,所述激光功率测量用于测定激光功率;冷却系统用于冷却高能量激光器和激光功率测量装置;照射时间测量装置和激光功率测量装置分别通过线缆与稳压电源电连接。本申请提出的激光能量测试仪的调试系统及方法,在测试精度、测试波长范围、测试能量范围等技术指标方面,可满足多种激光测试仪的调试需求。试需求。试需求。

【技术实现步骤摘要】
一种激光能量测试仪的调试系统及方法


[0001]本专利技术属于光学仪器调试
,具体地说,涉及一种激光能量测试仪的调试系统及方法。

技术介绍

[0002]随着国际局势和国民经济的发展,高能量激光在国内军用、民用各领域的应用日趋重要,如何测试出高能量激光的准确能量值,关乎着高能量激光的应用范围和在相应领域的应用深度。
[0003]目前高能量激光能量计的种类非常有限,针对激光能量测试仪的调试设备及测试手段很少,不能完全满足测试需求。在激光能量测试仪的调试过程中,如何排除环境条件的影响,准确高效的进行多次激光测试进而得到大量有效的测试数据,成为制约激光能量测试仪性能提高的瓶颈和关键。
[0004]针对目前这种情况,本领域亟需研发一种激光能量测试仪的调试系统及方法,以便在测试精度、测试波长范围、测试能量范围等技术指标方面,可满足多种激光能量测试仪的调试需求。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的就在于克服上述不足,提出一种激光能量测试仪的调试系统及方法。
[0006]根据本申请的一个方面,提出了如下技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光能量测试仪的调试系统,包括高能量激光器,其特征在于:还包括光学平台、冷却系统、激光功率测量装置、照射时间测量装置、激光照射校正装置和稳压电源;所述高能量激光器安装在光学平台左侧中心位置上,用于根据调试需要,发射相应能量的激光;所述激光照射校正装置用于探测并监控激光的光斑大小及方向;包括校正靶板,所述校正靶板活动放置于光学平台右侧中心位置上,且校正靶板的靶面正对高能量激光器的发射口设置;所述照射时间测量装置用于确定激光发射时间,包括第一光电探测器,所述第一光电探测器设于光学平台上,且设于高能量激光器与校正靶板之间,第一光电探测器的光敏面朝向校正靶板;所述激光功率测量装置设于光学平台远离高能量激光器的一端的外侧,且沿高能量激光器的激光发射路径设置,用于测定激光功率;所述冷却系统与高能量激光器的冷却管路连通设置,用于冷却高能量激光器;所述照射时间测量装置和激光功率测量装置分别通过线缆与稳压电源电连接。2.根据权利要求1所述的一种激光能量测试仪的调试系统,其特征在于:所述高能量激光器包括为其提供电能的激光器电源。3.根据权利要求2所述的一种激光能量测试仪的调试系统,其特征在于:所述激光照射校正装置还包括显示器和带调节支架的相机,所述相机设于高能量激光器远离校正靶板的一侧,且与校正靶板对准设置,所述相机与显示器通过线缆连接,用于监控激光发射过程。4.根据权利要求3所述的一种激光能量测试仪的调试系统,其特征在于:所述的相机采用摄像机、数码相机或CMOS摄像头。5.根据权利要求4所述的一种激光能量测试仪的调试系统,其特征在于:所述激光照射校正装置还包括带透镜的二维调节架,所述带透镜的二维调节架设于校正靶板与第一光电探测器之间。6.根据权利要求5所述的一种激光能量测试仪的调试系统,其特征在于:所述照射时间测量装置还包括示波器,所述示波器与第一光电探测器电连接。7.根据权利要求6所述的一种激光能量测试仪的调试系统,其特征在于:所述激光功率测量装置包括第二光电...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈龙飞王维博李杰封涛李帅李清丹张艳丽徐向前
申请(专利权)人:河南平原光电有限公司
类型:发明
国别省市:

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