本申请实施例提供一种测试校正方法、装置、设备、存储介质及程序产品，该方法包括：获取待测试的设备拍摄参照对象得到的图像，根据所述参照对象在所述图像中的位置，计算所述设备的倾斜程度和偏移程度，并根据所述倾斜程度和偏移程度，将所述设备的位姿调整至目标位姿，以基于所述设备处于所述目标位姿时拍摄的图像对所述设备进行测试，在测试过程中不依赖镜头模组内置参数对测试图像进行处理，减少了测试成本和测试流程，节约了测试时间，提高了测试效率，同时，解决了部分机型镜头模组的内置参数不可获取的问题，扩大了测试范围，具有较强的适用性。较强的适用性。较强的适用性。
【技术实现步骤摘要】
测试校正方法、装置、设备、存储介质及程序产品
[0001]本申请实施例涉及测试
，尤其涉及一种测试校正方法、装置、设备、存储介质及程序产品。
技术介绍
[0002]常见的电子设备如手机等，一般需要在出厂前进行测试。在对手机的镜头性能进行测试中，需要手机拍摄测试图像，并根据图像测试镜头。但是，测试过程中需要借助三脚架支撑手机后再拍摄测试图像，由于三脚架位置不固定，测试员手法不规范等原因，手机拍摄到的画面经常会存在质量差、歪斜的情况，影响了手机镜头测试的准确性。
[0003]现有技术中，可以通过自动化测试的方法，借助镜头模组的内置参数信息，对图像进行处理以满足测试要求。
[0004]现有技术中存在的问题是，由于需要获取镜头模组的内置参数信息，并对图像进行处理，增加了测试成本，测试效率较低；此外，在部分手机机型中，镜头模组的内置参数信息不可获取，导致测试难以正常进行。
技术实现思路
[0005]本申请实施例提供一种测试校正方法、装置、设备、存储介质及程序产品，以解决对电子设备的测试效率较低的技术问题。
[0006]第一方面，本申请实施例提供一种测试校正方法，包括：
[0007]获取待测试的设备拍摄参照对象得到的图像；
[0008]根据所述参照对象在所述图像中的位置，计算所述设备的倾斜程度和偏移程度，并根据所述倾斜程度和偏移程度，将所述设备的位姿调整至目标位姿，以基于所述设备处于所述目标位姿时拍摄的图像对所述设备进行测试。
[0009]可选的，所述参照对象包括图卡中的四个边缘图案，所述四个边缘图案的中心点形成矩形的四个顶点；所述图卡为所述设备在测试时的拍摄目标；
[0010]根据所述参照对象在所述图像中的位置，计算所述设备的倾斜程度，包括：
[0011]识别所述图像中的四个边缘图案，确定每个边缘图案的中心点；
[0012]根据确定的四个中心点形成的四边形，确定所述设备的倾斜程度。
[0013]可选的，根据确定的四个中心点形成的四边形相对于所述矩形的差异，确定所述设备的倾斜程度，包括：
[0014]针对所述四边形的每一组对边，计算该组的两个边长的差值；
[0015]根据所述四边形的任意一个边，计算该边的斜率；
[0016]其中，两组对边对应的差值以及所述斜率分别用于表征所述设备相对于XYZ轴的倾斜程度；X轴和Y轴形成的平面与所述图卡所在的平面平行。
[0017]可选的，所述参照对象还包括：所述图卡中的基准图案；在所述图卡中，基准图案的中心与所述矩形的中心重合；
[0018]根据所述参照对象在所述图像中的位置，计算所述设备的偏移程度，包括：
[0019]识别所述图像中的基准图案，并确定所述基准图案的中心；
[0020]若所述图像中基准图案的中心与所述四边形的中心重合，则计算所述四边形的中心相对于所述图像的中心的偏移程度。
[0021]可选的，根据所述参照对象在所述图像中的位置，计算所述设备的倾斜程度和偏移程度，并根据所述倾斜程度和偏移程度，将所述设备的位姿调整至目标位姿，包括：
[0022]根据所述参照对象在所述图像中的位置，计算所述设备相对于X轴的倾斜程度和Y轴的倾斜程度，若计算得到的倾斜程度大于第一预设阈值，则驱动所述设备沿X轴和Y轴转动，直至对应的倾斜程度小于第一预设阈值；
[0023]重新拍摄所述参照对象，根据拍摄的图像计算所述设备相对于Z轴的倾斜程度，若计算得到的倾斜程度大于第二预设阈值，则驱动所述设备沿Z轴转动，直至对应的倾斜程度小于第二预设阈值；
[0024]重新拍摄所述参照对象，根据拍摄的图像计算所述设备的偏移程度，若所述偏移程度大于第三预设阈值，则驱动所述设备在XY轴的平面内移动，直至偏移程度小于第三预设阈值。
[0025]可选的，对于所述设备相对于X轴和Y轴的倾斜程度、偏移程度中的任一指标，根据该指标调整所述设备位姿的过程具体包括：
[0026]重复执行下述步骤，直至所述指标小于对应的预设阈值：
[0027]根据当前的指标和单位运动幅度，计算所述指标对应的运动幅度，并控制机械臂根据所述运动幅度对所述设备进行调整；
[0028]重新拍摄参照对象并计算所述指标，判断计算得到的指标是否小于对应的预设阈值；
[0029]若不小于，且所述指标与上一轮的指标的符号相反，则减小所述单位运动幅度；
[0030]其中，所述单位运动幅度用于表示单位指标对应的机械臂的运动幅度；所述指标为正数或负数，符号用于表示运动幅度对应的方向。
[0031]第二方面，本申请实施例提供一种测试校正装置，包括：
[0032]获取模块，用于获取待测试的设备拍摄参照对象得到的图像；
[0033]计算模块，用于根据所述参照对象在所述图像中的位置，计算所述设备的倾斜程度和偏移程度，并根据所述倾斜程度和偏移程度，将所述设备的位姿调整至目标位姿，以基于所述设备处于所述目标位姿时拍摄的图像对所述设备进行测试。
[0034]第三方面，本申请实施例提供一种电子设备，包括：存储器和至少一个处理器；
[0035]所述存储器存储计算机执行指令；
[0036]所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，使得所述至少一个处理器执行如上第一方面所述的测试校正方法。
[0037]第四方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，当处理器执行所述计算机执行指令时，实现如上第一方面所述的测试校正方法。
[0038]第五方面，本申请实施例提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上第一方面所述的测试校正方法。
[0039]本申请实施例提供的测试校正方法、装置、设备、存储介质及程序产品，可以通过获取待测试的设备拍摄参照对象得到的图像，根据所述参照对象在所述图像中的位置，计算所述设备的倾斜程度和偏移程度，并根据所述倾斜程度和偏移程度，将所述设备的位姿调整至目标位姿，以基于所述设备处于所述目标位姿时拍摄的图像对所述设备进行测试，在测试过程中不依赖镜头模组内置参数对测试图像进行处理，减少了测试成本和测试流程，节约了测试时间，提高了测试效率，同时，解决了部分机型镜头模组的内置参数不可获取的问题，扩大了测试范围，具有较强的适用性。
附图说明
[0040]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0041]图1为本申请实施例的一种应用场景图；
[0042]图2为本申请实施例提供的一种测试校正方法的流程示意图；
[0043]图3为本申请实施例提供的一种图卡的示意图；
[0044]图4本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试校正方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测试的设备拍摄参照对象得到的图像；根据所述参照对象在所述图像中的位置，计算所述设备的倾斜程度和偏移程度，并根据所述倾斜程度和偏移程度，将所述设备的位姿调整至目标位姿，以基于所述设备处于所述目标位姿时拍摄的图像对所述设备进行测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参照对象包括图卡中的四个边缘图案，所述四个边缘图案的中心点形成矩形的四个顶点；所述图卡为所述设备在测试时的拍摄目标；根据所述参照对象在所述图像中的位置，计算所述设备的倾斜程度，包括：识别所述图像中的四个边缘图案，确定每个边缘图案的中心点；根据确定的四个中心点形成的四边形，确定所述设备的倾斜程度。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据确定的四个中心点形成的四边形相对于所述矩形的差异，确定所述设备的倾斜程度，包括：针对所述四边形的每一组对边，计算该组的两个边长的差值；根据所述四边形的任意一个边，计算该边的斜率；其中，两组对边对应的差值以及所述斜率分别用于表征所述设备相对于XYZ轴的倾斜程度；X轴和Y轴形成的平面与所述图卡所在的平面平行。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述参照对象还包括：所述图卡中的基准图案；在所述图卡中，基准图案的中心与所述矩形的中心重合；根据所述参照对象在所述图像中的位置，计算所述设备的偏移程度，包括：识别所述图像中的基准图案，并确定所述基准图案的中心；若所述图像中基准图案的中心与所述四边形的中心重合，则计算所述四边形的中心相对于所述图像的中心的偏移程度。5.根据权利要求1
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4任一项所述的方法，其特征在于，根据所述参照对象在所述图像中的位置，计算所述设备的倾斜程度和偏移程度，并根据所述倾斜程度和偏移程度，将所述设备的位姿调整至目标位姿，包括：根据所述参照对象在所述图像中的位置，计算所述设备相对于X轴的倾斜程度和Y轴的倾斜程度，若计算得到的倾斜程度大于第一预设阈值，则驱动所述设备沿X轴和Y轴转动，直至对应的倾斜程度小于第一预设阈值；重新拍摄所述参照对象，根据拍摄的...
【专利技术属性】
技术研发人员：马闯，庞晨涛，戴忠旭，
申请(专利权)人：东莞华贝电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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