一种检测方法、检测装置和相关设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种检测方法、检测装置和相关设备，其中检测方法包括：获取显示面板中多个目标结构的初始图像，所述多个目标结构呈非矩阵排布或非直线排布；将所述初始图像转换为目标图像，并使得所述目标图像中所述多个目标结构呈矩阵排布或直线排布；将所述目标图像中多个目标结构的灰阶值进行对比，来确定所述多个目标结构是否具有缺陷，从而可以根据形状相同或相似的多个目标结构的图像，更准确地确定多个目标结构是否具有缺陷，进而可以提高显示面板的缺陷检出率。面板的缺陷检出率。面板的缺陷检出率。

【技术实现步骤摘要】
一种检测方法、检测装置和相关设备


[0001]本专利技术涉及显示
，具体涉及一种检测方法、检测装置和相关设备。

技术介绍

[0002]在显示面板制作完成之后，通常都需要对显示面板的良率进行检测。目前，都是采用光学检测方法(Automatic Optic Inspection，简称AOI)获得显示面板的光学图像，并根据光学图像来检测显示面板是否具有缺陷。但是，目前的显示面板检测方法的缺陷检出率有待进一步提高。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种检测方法、检测装置和相关设备，以提高显示面板的缺陷检出率。
[0004]第一方面，本专利技术公开了一种检测方法，包括：
[0005]获取显示面板中多个目标结构的初始图像，所述多个目标结构呈非矩阵排布或非直线排布；
[0006]将所述初始图像转换为目标图像，并使得所述目标图像中所述多个目标结构呈矩阵排布或直线排布；
[0007]将所述目标图像中多个目标结构的灰阶值进行对比，来确定所述多个目标结构是否具有缺陷。
[0008]可选地，所述将所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测方法，其特征在于，包括：获取显示面板中多个目标结构的初始图像，所述多个目标结构呈非矩阵排布或非直线排布；将所述初始图像转换为目标图像，并使得所述目标图像中所述多个目标结构呈矩阵排布或直线排布；将所述目标图像中多个目标结构的灰阶值进行对比，来确定所述多个目标结构是否具有缺陷。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述将所述初始图像转换为目标图像包括：确定所述初始图像中构成所述多个目标结构的各个点的第一坐标值；根据所述多个目标结构的各个点的第一坐标值以及坐标值转换公式，得到所述多个目标结构的各个点的第二坐标值；根据所述多个目标结构的各个点的第二坐标值，对所述多个目标结构的各个点进行重新排布，得到所述目标图像。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述初始图像中所述多个目标结构呈圆环状排布，则所述确定所述初始图像中所述多个目标结构的各个点的第一坐标值包括：确定所述多个目标结构所在圆环的圆心的坐标值以及所述多个目标结构的各个点的第一坐标值；所述根据所述多个目标结构的各个点的第一坐标值以及坐标值转换公式，得到所述多个目标结构的各个点的第二坐标值包括：根据所述多个目标结构所在圆环的圆心的坐标值、所述多个目标结构的各个点的第一坐标值以及坐标值转换公式，得到所述多个目标结构的各个点的第二坐标值；可选地，所述坐标值转换公式包括：其中，(x，y)表示所述第一坐标值，(r，θ)、(θ，r)、(r+x0，θ+y0)或(θ+x0，r+y0)表示所述第二坐标值，(x0，y0)为所述圆心的坐标值；可选地，所述第二坐标值(r，θ)、(θ，r)、(r+x0，θ+y0)或(θ+x0，r+y0)中，r的值取为(r
min
+r
step
r
’
),θ的值取为(θ
min
+θ
step
θ
’
)，r
min
为预设的极径r的最小值，r
step
为预设的所述目标结构的各个点之间的极径步长值，r
’
为r与r
min
的差值与r
step
的比值上取整的值；θ
min
为预设的极角θ的最小值，θ
step
为预设的所述目标结构的各个点之间的极角步长值，θ
’
为θ与θ
min
差值与θ
step
比值上取整的值；r
min
、r
step
、θ
min
的值可以根据需要进行预设，其预设值的大小可以依据对应的初始图像的...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹聪聪，马领玉，
申请(专利权)人：云谷固安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：