一种电流测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及电流测试领域，具体公开一种电流测试装置及方法，转接卡上设置金手指插槽和电源连接器，金手指插槽插接GPU卡上的金手指，电源连接器与GPU卡上的外部电源连接器连接；供电电源输出第一路电源经第一线缆连接至金手指插槽，输出第二路电源经第二线缆连接至电源连接器，使第一路电源和第二路电源给GPU卡供电；第一线缆上设置第一电阻，第二线缆上设置第二电阻；电压采集器采集预设时长内第一电阻和第二电阻的平均电压并输出给上位机，上位机基于第一电阻和第二电阻的平均电压，计算流经第一电阻和第二电阻的平均电流，获得GPU卡预设时长内的EDPP电流。本发明专利技术提供准确的电流测试数据，测试方法简单高效，便于方案选型和系统设计。系统设计。系统设计。

【技术实现步骤摘要】
一种电流测试装置及方法


[0001]本专利技术涉及电流测试领域，具体涉及一种电流测试装置及方法。

技术介绍

[0002]目前主流的显卡(以下都称为GPU卡)厂商，研发出的GPU卡都有一个性能参数，称为EDPP(Electrical Date Peak Processing:供电数据峰值处理)。具体定义为：在某种测试条件下，GPU卡工作，GPU芯片的性能可以发挥到90％以上，此时GPU卡供电输入的12V,分别在200us/1ms/5ms时间内的平均电流，称为GPU卡的EDPP。
[0003]在服务器的不同系统配置中，可能会使用到不同厂商的GPU卡，设计人员可依据厂商提供的GPU卡规格书，参考EDPP的数据，来指导系统设计，例如AC电源的选型、系统的OCP设计、功耗分配设计等。但是在一些特殊应用条件下，或者客户有特殊需求，现有的GPU卡无法满足时，需要自研带有特殊功能或者算力更强劲的GPU卡，这种GPU卡的EDPP电流无法在GPU卡规格书中获得，需要设计人员自行测试。
[0004]图1是GPU卡供电结构示意图，GPU卡的12V供电分为两路，第一路是来自主板的X16 PCIE金手指插槽,经过金手指供电，第二路是来自外部电源连接器，通过线缆与主板相连。
[0005]当前测试电流的方式之一是使用电流枪测试，然而电流枪只能测量线缆上的电流大小，无法测量出供给GPU卡的全部12V的电流；另一种电流测试方式是，主板可以通过GPU卡上X16 PCIE金手指的I2C接口，读取GPU卡上power monitor的电流寄存器，得到12V的电流值，或者是读取主板上仅给GPU卡供12V的power monitor的电流寄存器。
[0006]当前的电流测试方式对于测试GPU卡的EDPP电流具有以下缺陷：1)EDPP的定义是在200us/1ms/5ms时间内，输入的12V的平均电流。对于现有的应用和测试条件下，使用电流枪，只能测量出线缆的12V电流数据；2)12V的power monitor的电流寄存器是一段时间内的平均电流，I2C通信会存在延时，用读取电流寄存器这种方法无法得到瞬态的电流，读取的数据跟实际的EDPP数据会有很大的差异。

技术实现思路

[0007]为解决上述问题，本专利技术提供一种电流测试装置及方法，提供准确的电流测试数据，且测试方法简单高效，便于方案选型和系统设计。
[0008]第一方面，本专利技术的技术方案提供一种电流测试装置，包括：转接卡、供电电源、上位机和电压采集器；
[0009]转接卡上设置有金手指插槽和电源连接器，其中金手指插槽用于插接GPU卡上的金手指，电源连接器用于与GPU卡上的外部电源连接器连接；
[0010]供电电源给转接卡供电，并输出第一路电源经第一线缆连接至所述金手指插槽，输出第二路电源经第二线缆连接至所述电源连接器，使第一路电源和第二路电源给GPU卡供电；第一线缆上设置第一电阻，第二线缆上设置第二电阻；
[0011]电压采集器采集预设时长内第一电阻和第二电阻的平均电压并输出给上位机，上
位机基于第一电阻和第二电阻的平均电压，计算流经第一电阻和第二电阻的平均电流，获得GPU卡预设时长内的EDPP电流。
[0012]进一步地，电压采集器采用示波器。
[0013]进一步地，第一线缆上在第一电阻两侧各设置一同轴线缆连接器，两个同轴线缆连接器经同轴线缆连接至示波器的相应通道，使示波器获得两个同轴线缆连接器处的电压值，且示波器计算两个电压值的差值获得第一电阻的电压；
[0014]第二线缆上在第二电阻两侧各设置一同轴线缆连接器，两个同轴线缆连接器经同轴线缆连接至示波器的相应通道，使示波器获得两个同轴线缆连接器处的电压值，且示波器计算两个电压值的差值获得第二电阻的电压。
[0015]进一步地，上位机还与GPU卡通信，在GPU卡上电后，控制GPU卡达到测试EDPP电流的工作条件。
[0016]进一步地，转接卡上还设置有USB转I2C芯片，上位机的USB接口与该USB转I2C芯片连接，且该USB转I2C芯片与转接卡上的金手指插槽连接，实现上位机与GPU卡的通信。
[0017]进一步地，供电电源采用PSU电源，转接板上设置PSU连接器与PSU电源连接。
[0018]进一步地，转接卡上还设置有散热风扇。
[0019]第二方面，本专利技术的技术方案提供一种电流测试方法，包括以下步骤：
[0020]连接转接卡、供电电源、上位机、电压采集器和GPU卡；
[0021]启动供电电源给转接卡和GPU卡供电；
[0022]上位机发送指令使GPU卡达到测试EDPP电流的工作条件；
[0023]电压采集器采集预设时长内第一电阻和第二电阻的平均电压传输给上位机；
[0024]上位机根据第一电阻和第二电阻的平均电压，计算流经第一电阻和第二电阻的平均电流，获得GPU卡预设时长内的EDPP电流。
[0025]进一步地，该方法具体包括：
[0026]配置多个预设时长；
[0027]电压采集器采集其中一个预设时长内第一电阻和第二电阻的平均电压，使上位机获得GPU卡该预设时长内的EDPP电流；
[0028]判断是否所有预设时长内的EDPP电流均已获得；
[0029]若否，则电压采集器继续采集下一个预设时长内第一电阻和第二电阻的平均电压，使上位机获得GPU卡该下一个预设时长内的EDPP电流；
[0030]若是，则上位机发送指令使GPU卡停止工作。
[0031]进一步地，电压采集器采集预设时长内电阻平均电压，具体包括：
[0032]采集电阻所在线缆上电阻两侧的两个电压值；
[0033]计算两个电压值的差值，获得电阻的电压；
[0034]其中电阻包括第一电阻和第二电阻。
[0035]本专利技术提供的一种电流测试装置及方法，相对于现有技术，具有以下有益效果：设置转接卡与GPU卡连接，并由供电电源经转接卡给GPU卡供两路电源，并在两路电源供电线路上配置电阻，通过采集电阻的电压计算电流，从而获得流入GPU卡的实际实时的平均电流，获得准确的EDPP电流。本专利技术的装置结构简单，成本低，测试方法简单高效，实现准确的EDPP电流的自动获取，测试效率高，节省人力，适用于不同架构、平台的GPU卡研发，为每个
项目的系统设计、功耗分配、PSU的选型等提供准确依据。
附图说明
[0036]为了更清楚的说明本申请实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0037]图1是GPU卡供电结构示意图。
[0038]图2是本专利技术实施例提供的一种电流测试装置结构示意图。
[0039]图3是本专利技术实施例提供的一种电流测试装置的一优选实施例结构本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电流测试装置，其特征在于，包括：转接卡、供电电源、上位机和电压采集器；转接卡上设置有金手指插槽和电源连接器，其中金手指插槽用于插接GPU卡上的金手指，电源连接器用于与GPU卡上的外部电源连接器连接；供电电源给转接卡供电，并输出第一路电源经第一线缆连接至所述金手指插槽，输出第二路电源经第二线缆连接至所述电源连接器，使第一路电源和第二路电源给GPU卡供电；第一线缆上设置第一电阻，第二线缆上设置第二电阻；电压采集器采集预设时长内第一电阻和第二电阻的平均电压并输出给上位机，上位机基于第一电阻和第二电阻的平均电压，计算流经第一电阻和第二电阻的平均电流，获得GPU卡预设时长内的EDPP电流。2.根据权利要求1所述的电流测试装置，其特征在于，电压采集器采用示波器。3.根据权利要求2所述的电流测试装置，其特征在于，第一线缆上在第一电阻两侧各设置一同轴线缆连接器，两个同轴线缆连接器经同轴线缆连接至示波器的相应通道，使示波器获得两个同轴线缆连接器处的电压值，且示波器计算两个电压值的差值获得第一电阻的电压；第二线缆上在第二电阻两侧各设置一同轴线缆连接器，两个同轴线缆连接器经同轴线缆连接至示波器的相应通道，使示波器获得两个同轴线缆连接器处的电压值，且示波器计算两个电压值的差值获得第二电阻的电压。4.根据权利要求3所述的电流测试装置，其特征在于，上位机还与GPU卡通信，在GPU卡上电后，控制GPU卡达到测试EDPP电流的工作条件。5.根据权利要求4所述的电流测试装置，其特征在于，转接卡上还设置有USB转I2C芯片，上位机的USB接口与该USB...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄钦，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：