一种干法刻蚀铌酸锂的方法技术

技术编号:36064455 阅读:112 留言:0更新日期:2022-12-24 10:30
本发明专利技术涉及一种干法刻蚀铌酸锂的方法,属于半导体加工领域。干法刻蚀铌酸锂的方法的刻蚀步骤包括,将已图形化的铌酸锂放入刻蚀机中;向刻蚀机的刻蚀腔内通入混合后的刻蚀气体Cl2,H2与惰性气体,刻蚀机射频点火起辉,开始刻蚀;达到刻蚀时间后,刻蚀完成。本发明专利技术采用干法刻蚀铌酸锂的方法,其气体采用Cl2/H2进行铌酸锂刻蚀,不同于传统的氟基刻蚀铌酸锂体系。本发明专利技术可以使用介质材料或光刻胶做掩膜,应用于产线后,可优化生产流程,极大提升产能,节约成本。干法刻蚀铌酸锂可以使用传统的光刻胶掩膜或SiO,SiN,Si等介质材料作为硬掩膜,并获得较好的选择比和良好的形貌。较好的选择比和良好的形貌。较好的选择比和良好的形貌。

【技术实现步骤摘要】
一种干法刻蚀铌酸锂的方法


[0001]本专利技术涉及一种干法刻蚀铌酸锂的方法,属于半导体加工领域。

技术介绍

[0002]铌酸锂(lithiumniobate,LN)晶体是具有氧八面体结构的铁电体。它集压电、电光、声光、非线性光学性能和光折变等效应于一身,在光调制、光放大、光开关、光存储和光波导等众多方面有着广泛的应用,是迄今人们所发现的光学性能最多、综合指标最好的人工晶体之一。随着集成光学的发展,对器件的性能、集成度的要求不断提高,对于LN的刻蚀工艺也提出了更多要求。
[0003]干法刻蚀是利用等离子态的原子、分子与材料表面作用,形成挥发性物质或直接轰击样品表面使之被刻蚀的工艺,它能实现各向异性刻蚀,即纵向的刻蚀速率远大于横向的刻蚀速率,从而保证了细小图形转移后的保真度。干法刻蚀中的感应耦合等离子体(ICP)刻蚀技术由于其控制精度高、大面积刻蚀均匀性好、污染少等优点,在半导体器件制造中获得越来越多的应用。
[0004]然而,LN是一种非常难刻蚀的材料。传统使用ICP刻蚀LN,一般选择使用氟基气体(如CF4,CHF3,SF6)和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种干法刻蚀铌酸锂的方法,其特征在于:该刻蚀步骤如下:步骤一、将已图形化的铌酸锂放入刻蚀机中;步骤二、向刻蚀机的刻蚀腔内通入混合后的刻蚀气体Cl2、H2与惰性气体,刻蚀机射频点火起辉,开始刻蚀;步骤三、达到刻蚀时间后,刻蚀完成。2.根据权利要求1所述的干法刻蚀铌酸锂的方法,其特征在于:步骤一中的所述铌酸锂为铌酸锂晶片,所述铌酸锂晶片作为待刻蚀材料。3.根据权利要求1所述的干法刻蚀铌酸锂的方法,其特征在于:步骤一中所述铌酸锂为生长于基底上方的铌酸锂薄膜所制成的晶片,所述铌酸锂薄膜作为待刻蚀材料。4.根据权利要求 2或3所述的干法刻蚀铌酸锂的方法,其特征在于:所述铌酸锂晶片、所述含有铌酸锂薄膜的晶片使用SiO薄膜或SiN薄膜或Si薄膜作为干法刻蚀中的掩膜材料,所述掩膜材料已完成图形化;所述SiO薄膜或所述SiN薄膜或所述Si薄膜为硬掩膜。5.根据权利要求 2或3所述的干法刻蚀铌酸锂的方法,其特征在于:所述铌酸锂晶片、...

【专利技术属性】
技术研发人员:冯英雄戴海成刘建车东晨彭泰彦许开东
申请(专利权)人:江苏鲁汶仪器有限公司
类型:发明
国别省市:

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