PCB图像校正方法、装置、终端设备和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了PCB图像校正方法、装置、终端设备和存储介质，该方法中根据待测PCB的深度图和二维图确认对应的基板区域；基于所述深度图的深度信息和二维图的坐标，确认所述基板区域的三维坐标数据；从所述三维坐标数据中随机选择设定数量的点进行拟合，得到基准面；基于所述基准面，以预设的参考平面为参考，对所述深度图中每个点的深度进行校正，得到校正后的深度图。通过综合深度图中的深度信息和二维图中的颜色信息，进行基板区域的确认，基于基板区域的三维坐标数据进行拟合，并以预设的参考平面为参考，对深度图中每个点的深度进行校正，保证光学检测过程中获得的图像，最终能得到尽可能准确的深度数据，有效减少误检结果的出现。果的出现。果的出现。

【技术实现步骤摘要】
PCB图像校正方法、装置、终端设备和存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及光学质量检测
，尤其涉及PCB图像校正方法、装置、终端设备和存储介质。

技术介绍

[0002]在三维自动光学检测(3
‑
dimension Automated Optical Inspection)领域中，通过结构光等三维成像的方法对PCB(Printed Circuit Board，印刷电路板)等目标物体(这里主要针对PCB)进行扫描，获得目标物体的深度信息，并与摄像机采集到的二维纹理图像结合起来，与数据库中的标准合格数据进行对比，从而实现PCB板的缺陷检测。通常3DAOI机器在出厂前会设定一个参考平面(高度为0)，可看作与机器导轨平面平行，传感器模组最终获取的深度信息是相对于这个参考平面的相对深度。
[0003]专利技术人在使用现有的检测设备进行光学检测时，由于PCB元件引脚和基板弯曲等原因，放置在导轨上的PCB不一定与参考平面平行，会导致获取的深度与需要得到的深度差别过大，从而导致误检。

技术实现思路
<br/>[0004]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种PCB图像校正方法，其特征在于，包括：根据待测PCB的深度图和二维图确认对应的基板区域；基于所述深度图的深度信息和二维图的坐标，确认所述基板区域的三维坐标数据；从所述三维坐标数据中随机选择设定数量的点进行拟合，得到基准面；基于所述基准面，以预设的参考平面为参考，对所述深度图中每个点的深度进行校正，得到校正后的深度图。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述三维坐标数据中随机选择设定数量的点进行拟合，得到基准面，包括：从所述三维坐标数据中随机选择预设数量的点进行拟合，得到至少两个初始基准面；根据所述三维坐标数据计算每个点到每个所述初始基准面的距离；统计每个初始基准面对应的有效点，所述有效点为与该初始基准面的距离小于预设距离阈值的点；将所述有效点最多的初始基准面作为所述基板区域的基准面。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据待测PCB的深度图和二维图确认对应的基板区域，包括：对待测PCB的深度图进行预处理，得到第一基板区域；对待测PCB的二维图进行预处理，得到第二基板区域；基于所述第一基板区域和第二基板区域的交集区域，确认所述基板区域。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对待测PCB的深度图进行预处理，得到第一基板区域，具体为：基于预设的高度阈值，对待测PCB的深度图进行分割，提取所述深度图中低于所述高度阈值的部分，得到第一基板区域。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，对待测PCB的二维图进行预处理，得到第二基板区域，具体为：对所述二维图的三个颜色通道分别进行灰度直方图统计；基于预设的灰度范围值，确认每个颜色通道对应的待定掩膜区域；根据每个颜色通道对应的待定掩膜区域的交集，得到第二基板区域。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述二维图通过远心镜头采集得到；所述基于所述深度图的深度信息和二维图的坐标，确认所述基板区域的三维坐标数据，具体为：基于所述远心镜头的参数对所述二维图的像素坐标做等比换算得到所述三维坐标数据中的x坐标和y坐标，获取所述基板区域对应于所述深度图的深度信息作为z坐标，将对应的x坐标、y坐标和z坐标作为所述基板区域的三维坐标数据。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基准面为平面或曲面，所述平面的空间方程为k0x+k1y+z+k2＝0，所述曲面的空间方程为k3x2+k4y2+k5xy+k6x+k7y+k8+z＝0；所述基于所述基准面，以预设的参考平面为参考，对所述深度图中每个点的深度进行校正，得到校正后的深度图，包括：若所述基准面为平面，所述深度图中的点通过如...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾玮，
申请(专利权)人：广州视源人工智能创新研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：