【技术实现步骤摘要】
一种高精度元件测试装置
[0001]本技术涉及高精度元件测试装置的
,特别涉及一种高精度元件测试装置。
技术介绍
[0002]现有的测试设备大多都是使用定位销，来实现对SIP产品的精确定位。未来的设备都时在向小型化、多元化发展，对于这类没有定位孔且精度要求很高的产品测试，如何高精度定位是影响测试准度的关键。
[0003]公开号为CN113917316A的一种高精度芯片测试治具，其公开了一种使用浮动式设计对产品下压接触测试，同时采用两组对称布置的针脚测试针与单只芯片引脚接触结构，提高接触稳定性使实验更为高效可靠，但该专利技术对产品定位采用定位部和定位销进行定位，定位结构复杂不利于产线快速测试，需要一种能实现快速落位的测试装置。
技术实现思路
[0004]本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种结构简洁，各部件之间安装定位精准且实现产品快速精准落位的一种高精度元件测试装置。
[0005]本技术所采用的技术方案是：本技术包括上盖模组、针块模组以及载板，所述上盖模组与所述针块模组导向连...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高精度元件测试装置，其特征在于：它包括上盖模组（1）、针块模组（2）以及载板（3），所述上盖模组（1）与所述针块模组（2）导向连接并与产品顶压配合，所述载板（3）设置在所述针块模组（2）上，所述载板（3）通过若干定位件（4）与所述针块模组（2）固定连接，所述载板（3）设置有与产品相配合的让位槽（5），所述让位槽（5）的中部设置有支撑块（6），所述支撑块（6）与产品支承配合，所述载板（3）的前段设置有若干针孔（7）。2.根据权利要求1所述的一种高精度元件测试装置，其特征在于：所述载板（3）的让位槽（5）四边设置有倾角，所述倾角的角度在60度至80度之间。3.根据权利要求1所述的一种高精度元件测试装置，其特征在于：所述载板（3）设置有若干压槽，若干所述压槽对应与若干所述定位件（4）顶压配合。4.根据权利要求1所述的一种高精度元件测试装置，其特征在于：所述上盖模组（1）包括上盖板（11）、两组卡扣块（12）、浮动垫板（13）、仿形压块（14）以及压块导向块（15），两组所述卡扣块（12）铰接于所述上盖板（11）的两侧，两组所述卡扣块（12）的一端均与所述针块模组（2）相连接，所述浮动垫板（13）与所述上盖板（11）浮动连接，所述仿形压块...
【专利技术属性】
技术研发人员：熊亮，张燕辉，朱彦飞，李峰，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
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