本发明专利技术提供一种状态推定装置及机器学习装置，其适于在具备对测定对象进行测定的测定装置的构成中推定测定装置的状态。一种推定对测定对象(14)进行测定的测定装置(20)的状态的状态推定装置(10)。状态推定装置(10)具备：获取部(150)，获取通过测定装置(20)测定到的测定值；以及推定部(152)，使用包括通过获取部(150)获取到的测定值的第一信息和标准来推定测定装置(20)的状态。标准是基于第二信息通过机器学习生成的模型，该第二信息包括在通过获取部(150)获取到测定值的时间点之前通过测定装置(20)或其他测定装置获取到的测定值。装置(20)或其他测定装置获取到的测定值。装置(20)或其他测定装置获取到的测定值。
【技术实现步骤摘要】
状态推定装置及机器学习装置
[0001]本专利技术涉及一种推定测定装置的状态的状态推定装置及机器学习装置。
技术介绍
[0002]在专利文献1中公开了一种进行由马达驱动的旋转机械的异常判断的异常诊断装置。
[0003]该异常诊断装置从旋转机械中的驱动马达的频谱获取参数。然后，基于该参数判断旋转机械的异常。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本特开2020－67334号公报
[0007]该异常诊断装置使用驱动马达的频谱来判断旋转机械的异常。
[0008]因此，不适于在具备对测定对象进行测定的测定装置的构成中利用测定值来推定测定装置的欠佳等装置的状态。
技术实现思路
[0009]本专利技术的目的在于提供一种状态推定装置及机器学习装置，其适于在具备对测定对象进行测定的测定装置的构成中推定测定装置的状态。
[0010]本专利技术的某个方案的状态推定装置是一种推定对测定对象进行测定的测定装置的状态的状态推定装置。状态推定装置具备：获取部，获取通过所述测定装置测定到的测定值；以及推定部，使用包括通过所述获取部获取到的测定值的第一信息和标准来推定所述测定装置的状态。所述标准是基于第二信息通过机器学习生成的模型，所述第二信息包括在通过所述获取部获取到测定值的时间点之前通过所述测定装置或其他测定装置获取到的测定值。
[0011]专利技术效果
[0012]在该方案中，在测定装置的状态的推定中使用包括测定值的第一信息和标准。标准是基于第二信息通过机器学习生成的模型，该第二信息包括在获取到测定值的时间点之前获取到的测定值。
[0013]由此，与不使用基于包括事先获取到的测定值的第二信息而生成的标准地进行异常判断的异常诊断装置相比较，上述方案的状态推定装置适于推定测定装置的状态。
[0014]此外，使用通过机器学习生成的标准来推定测定装置的状态。因此，与例如在测定装置设置检测各部分的状态的传感器来判断状态的情况相比较，能低成本化。
附图说明
[0015]图1是表示具备一个实施方式的状态推定装置的检查系统的构成图。
[0016]图2是表示状态推定装置的硬件构成的框图。
[0017]图3是表示状态推定装置的功能的功能框图。
[0018]图4是表示机器学习的分类的说明图。
[0019]图5是表示机器学习的过程的一例的工序图。
[0020]图6是表示通过无监督学习生成的自组织映射图的说明图。
[0021]图7是表示电感测定中的各测定值与装置的状态的关系的一例的图。
[0022]图8是表示使用学习模型的推定处理的过程的一例的工序图。
[0023]图9是表示机器学习处理的动作的流程图。
[0024]图10是表示检查处理的动作的流程图。
[0025]附图标记说明
[0026]10：状态推定装置(机器学习装置)
[0027]14：测定对象
[0028]20：测定装置
[0029]22：处理装置
[0030]32：测定部
[0031]44：探针
[0032]50、54：电缆
[0033]100：处理器
[0034]150：获取部
[0035]152：推定部
[0036]154：校正部
[0037]156：输出部
[0038]158：学习数据获取部
[0039]160：学习部
[0040]162：储存部
[0041]180：机器学习
[0042]204：学习模型生成工序
[0043]210：自组织映射图
[0044]254：学习完成模型
[0045]256：推定工序。
具体实施方式
[0046]以下，参照附图对一个实施方式进行说明。图1是表示具备一个实施方式的状态推定装置10的检查系统12的构成图。图2是表示状态推定装置10的硬件构成的框图。
[0047]检查系统12是进行出厂前的产品的检查的系统。作为产品即测定对象14，可以举出电子部件，作为电子部件，可以举出芯片部件。作为芯片部件，可以举出电阻器、电容器、线圈等。
[0048]在本实施方式中，作为一例，举出测定对象14是作为片式线圈的片式电感器的情况为例进行说明。
[0049]该检查系统12具备测定装置20、与测定装置20连接的处理装置22、与处理装置22
连接的状态推定装置10以及与状态推定装置10连接的自动机控制装置24。
[0050][测定装置][0051]测定装置20具有实施测定对象14的测定的机构部分。
[0052]测定装置20具备输送测定对象14的输送轨道30和用于测定通过输送轨道30输送的测定对象14的测定部32。
[0053](输送轨道)
[0054]在输送轨道30设定有被供给同种测定对象14的供给部位、实施被供给的测定对象14的测定的测定部位以及处理结束了测定的测定对象14的处理部位。
[0055]输送轨道30具备移送测定对象14的未图示的移送机构。移送机构向测定部位依次输送供给至供给部位的测定对象14。移送机构以规定的间隔向测定部位移送测定对象14。
[0056](测定部)
[0057]测定部32设于输送轨道30的测定部位。设有该测定部32的测定部位设定于多处。各测定部位的测定部32进行不同的测定项目的测定。
[0058]作为各测定项目，可以举出与测定对象14的电特性相关的项目。在各测定项目中进行的测定可以换言之为同种测定。
[0059]测定部32具备探头40和使探头40升降的升降装置42。探头40具备朝向上方伸出的一对探针44。
[0060]通过升降装置42使探头40上升，使探针44插通输送轨道30的插通孔并与输送轨道30上的测定对象14的各端子46接触。由此，能进行测定对象14的电特性的测定。
[0061]当通过升降装置42使探头40下降时，探针44远离测定对象14的各端子46。由此，测定对象14的测定结束。
[0062]当探针44到达下止点时，向测定部位输送下一测定对象14。使探针44上升并与下一测定对象14接触，由此，开始下一测定对象14的测定。
[0063]将从使探针44上升并开始测定对象14的测定起至针对输送到的下一测定对象14而使探针44上升并开始测定为止的期间设为测定周期。
[0064]测定部32按照来自处理装置22的指示进行动作。
[0065]作为一例，表示探针44被按压到测定对象14的探针载荷的插针载荷通过升降装置42的控制确定。需要说明的是，作为一例，插针载荷也可以通过设于各探针44的弹簧载荷来设定。
[0066]作为一例，表示探针44的上升量的行程量通过升降装置42的控制确定。此外，作为一例，表示测定对象14的测定间隔的测定周期用使探针44上升的间本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种状态推定装置，推定对测定对象进行测定的测定装置的状态，所述状态推定装置具备：获取部，获取通过所述测定装置测定到的测定值；以及推定部，使用包括通过所述获取部获取到的测定值的第一信息和标准来推定所述测定装置的状态，所述标准是基于第二信息通过机器学习生成的模型，所述第二信息包括在通过所述获取部获取到测定值的时间点之前通过所述测定装置或其他测定装置获取到的测定值。2.根据权利要求1所述的状态推定装置，其中，所述标准是使用信息组生成的学习完成模型，所述信息组表示所述第二信息与获取到所述第二信息的所述测定装置或所述其他测定装置的状态的关系。3.根据权利要求2所述的状态推定装置，其中，所述第一信息包括通过所述测定装置测定到的测定值和所述测定装置的测定条件，所述第二信息包括通过所述测定装置或所述其他测定装置测定到的测定值和所述测定装置或所述其他测定装置的测定条件。4.根据权利要求3所述的状态推定装置，其中，所述第一信息或所述第二信息的测定条件包括从所述测定装置或所述其他测定装置向所述测定对象施加的输出的测定频率、与所述测定对象相抵的探针的探针载荷、所述探针的行程量、所述测定装置或所述其他测定装置的测定周期中的至少一个。5.根据权利要求3或4所述的状态推定装置，其中，所述第一信息或所述第二信息的测定值包括电流、电压、直流电阻、交流阻抗、功率、所述直流电阻的平均值、所述直流电阻的方差值、所述直流电阻的变动系数、所述直流电阻的平均值的时序变动、所述直流电阻的方差值的时序变动、所述直流电阻的变动系数的时序变动、所述交流阻抗的平均值、所述交流阻抗的方差值、所述交流阻抗的变动系数、所述交流阻抗的平均值的时序变动、所述交流阻抗的方差值的时序变动、所述交流阻抗的变动系数的时序变动中的至少一个。6.根据权利要求1至5中任一项所述的状态推定装置，其中，所述推定部推定测定值的随时...
【专利技术属性】
技术研发人员：小林昌史，
申请(专利权)人：日置电机株式会社，
类型：发明
国别省市：
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