走滑断层滑距定量评价方法技术

本申请实施例提供了一种走滑断层滑距定量评价方法，包括：基于断层走向和地质信息，确定第一断层剖面和第二断层剖面；基于所述第一断层剖面，获取第一断层剖面厚度曲线，基于所述第二断层剖面，获取第二断层剖面厚度曲线；使所述第二断层剖面厚度曲线在所述第一断层剖面厚度曲线进行多次移动，其中每次移动的距离为第一预设步长；获取所述第二断层剖面厚度曲线在不同位置时与第二断层剖面厚度曲线的拟合率；基于多个所述拟合率，确定走滑断层的滑距。该方法仅需要具备3D地震资料即可实现走滑断层滑距定量评价，应用限制小，且应用范围广，尤其适用于滑距小、稳定地层发育、未断开地表的断层。表的断层。表的断层。

【技术实现步骤摘要】
走滑断层滑距定量评价方法


[0001]本专利技术涉及石油勘探地震资料解释与综合地质分析
，具体而言，涉及一种走滑断层滑距定量评价方法。

技术介绍

[0002]走滑断层滑距是指走滑断层两侧地层在地球表面上水平相对移动的最大距离，亦称之为平移幅度。目前确定走滑断层滑距的方法主要有三种：断层两盘地质参考点类比法、古地磁学法和地壳变形速度估算法。这三种方法应用较为广泛，但都具有一定的局限性。(1)地质参考点类比法应用条件为沿着走滑断层带的两盘发育可大致进行对比的断层带、化石带、岩相带或岩性带等。运用该方法计算滑距时，首先必须保证这些地质体的可观测性；其次要保证这些地质体的可对比性，即要保证走滑断层活动前断层两侧的地质体是统一的整体，两者的错开是走滑断层活动的结果，因此此方法适用于走滑断层滑距较大、且地表地质特征较为丰富的地区，对于断层没有断到地表、或地表可观测地质特征不太丰富的地区该方法并不适用；(2)古地磁学法是通过测定走滑断层两盘地层中不同时期的古地磁数据，再通过古纬度差值的对比和换算就可以得出这一时期内断层两盘的相对移动方向和距离，但是由于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种走滑断层滑距定量评价方法，其特征在于，包括：基于断层走向和地质信息，确定第一断层剖面和第二断层剖面；基于所述第一断层剖面，获取第一断层剖面厚度曲线，基于所述第二断层剖面，获取第二断层剖面厚度曲线；使所述第二断层剖面厚度曲线在所述第一断层剖面厚度曲线进行多次移动，其中每次移动的距离为第一预设步长；获取所述第二断层剖面厚度曲线在不同位置时与第二断层剖面厚度曲线的拟合率；基于多个所述拟合率，确定走滑断层的滑距。2.根据权利要求1所述的走滑断层滑距定量评价方法，其特征在于，所述基于断层走向和地质信息，确定第一断层剖面和第二断层剖面的步骤包括：基于断层走向和地质信息，获取稳定发育的泥岩层或稳定发育的灰岩层；基于所述稳定发育的泥岩层或所述稳定发育的灰岩层，确定所述走滑断层的稳定发育标志层；基于所述稳定发育标志层和井震合成地震记录，确定第一断层剖面和第二断层剖面。3.根据权利要求1所述的走滑断层滑距定量评价方法，其特征在于，所述基于所述第一断层剖面，获取第一断层剖面厚度曲线，基于所述第二断层剖面，获取第二断层剖面厚度曲线的步骤包括：建立第一平面直角坐标系，以第一断层剖面的端面的最低点为原点，以第一断层剖面的长度为横坐标，以所述第一断层剖面的厚度为纵坐标，获取第一断层剖面厚度曲线；建立第二平面直角坐标系，以第一断层剖面的端面的最低点为原点，以第二断层剖面的长度为横坐标，以所述第二断层剖面的厚度为纵坐标，获取第二断层剖面厚度曲线。4.根据权利要求1所述的走滑断层滑距定量评价方法，其特征在于，使所述第二断层剖面厚度曲线在所述第一断层剖面厚度曲线进行多次移动的步骤包括：在所述第二断层剖面厚度曲线上截取移动曲线；将所述移动曲线在第一平面直角坐标系内沿X轴方向进行移动。5.根据权利要求4所述的走滑断层滑距定量评价方法，其特征在于，所述第一断层剖面的长度与所述第一预设步长的长度的比值为100至2...

【专利技术属性】
技术研发人员：马中振，田作基，周玉冰，阳孝法，刘亚明，赵永斌，王丹丹，韩彬，刘章聪，田园，
申请(专利权)人：中国石油天然气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：