本实用新型专利技术公开了一种用于光接收器件加工的芯片固晶检验装置，包括检验装置和支撑平台，所述支撑平台位于检验装置的顶部，所述检验装置的顶部固定连接有支撑柱，所述支撑柱的顶部开设有伸缩孔，所述伸缩孔的内部插接有伸缩杆，所述伸缩杆的顶部与支撑平台的底部固定连接，所述伸缩杆的两侧均开设有限位槽。本实用新型专利技术通过设置检验装置、支撑平台、固定块、限位组件和调节组件的配合使用，使用者通过向靠近固定块的一侧推动按压块，通过按压块与调节组件之间的配合使限位杆离开限位槽的内部，之后便可以对支撑平台位置进行调节，最后通过限位组件进行定位，解决了现有固晶检验装置难以对需要检测物品位置进行调节的问题。对需要检测物品位置进行调节的问题。对需要检测物品位置进行调节的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种用于光接收器件加工的芯片固晶检验装置
[0001]本技术属于光接收器件
，尤其涉及一种用于光接收器件加工的芯片固晶检验装置。
技术介绍
[0002]光接收器件是光接收转换部分，主要完成光信号接收和将光转换为电信号的功能，主要使用器件为光电转换模块或转换器件，光接收器件在加工过程中会使用到固晶检验装置，为了使固晶检验装置检验的效果更好，我们需要适当的对检测位置进行调整，现有技术存在的问题是：固晶检验装置难以对需要检测物品位置进行调节。
技术实现思路
[0003]针对现有技术存在的问题，本技术提供了一种用于光接收器件加工的芯片固晶检验装置，具备便于对固晶检验装置位置进行调整的优点，解决了现有固晶检验装置难以对需要检测物品位置进行调节的问题。
[0004]本技术是这样实现的，一种用于光接收器件加工的芯片固晶检验装置，包括检验装置和支撑平台，所述支撑平台位于检验装置的顶部，所述检验装置的顶部固定连接有支撑柱，所述支撑柱的顶部开设有伸缩孔，所述伸缩孔的内部插接有伸缩杆，所述伸缩杆的顶部与支撑平台的底部固定连接，所述伸缩杆的两侧均开设有限位槽，所述支撑柱的两侧均固定连接有固定块，所述固定块的内部设置有限位组件，所述固定块的顶部和底部均设置有调节组件。
[0005]作为本技术优选的，所述限位组件包括滑杆和限位杆，所述滑杆插接与限位杆的内部，所述滑杆远离支撑柱的一侧与固定块的内壁固定连接，所述限位杆靠近伸缩杆的一侧贯穿至伸缩孔的内部，且与限位槽配合使用，所述滑杆的表面套设有弹簧，所述弹簧靠近限位杆的一侧与限位杆的表面固定连接，所述弹簧远离限位杆的一侧与固定块的内壁固定连接，所述限位杆的顶部固定连接有传动块，所述传动块与调节组件配合使用。
[0006]作为本技术优选的，所述调节组件包括活动块和调节杆，所述调节杆靠近活动块的一侧贯穿至固定块的内部，且与活动块的表面固定连接，所述活动块的底部固定连接有连接块，所述连接块的前侧通过第二转轴活动连接有传动杆，所述传动杆靠近传动块的一侧通过第二转轴与传动块的前侧活动连接。
[0007]作为本技术优选的，所述调节杆远离活动块的一侧固定连接有按压块。
[0008]作为本技术优选的，所述活动块远离支撑柱的一侧固定连接有滑块，所述固定块的内壁开设有与滑块配合使用的滑槽。
[0009]作为本技术优选的，所述限位槽的数量为若干，且均匀分布于伸缩杆的两侧。
[0010]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
[0011]1、本技术通过设置检验装置、支撑平台、固定块、限位组件和调节组件的配合使用，使用者通过向靠近固定块的一侧推动按压块，通过按压块与调节组件之间的配合使
限位杆离开限位槽的内部，之后便可以对支撑平台位置进行调节，最后通过限位组件进行定位，解决了现有固晶检验装置难以对需要检测物品位置进行调节的问题。
[0012]2、本技术通过设置限位组件，能够通过对支撑平台位置进行调节，最后通过限位组件进行定位，从而固定伸缩杆的位置，提高其稳定性。
[0013]3、本技术通过设置调节组件，能够通过向靠近固定块的一侧推动按压块，通过按压块与调节组件之间的配合使限位杆离开限位槽的内部，方便了使用者使用。
[0014]4、本技术通过设置按压块，能够提高手指与调节杆接触面积，便于使用者按压调节杆。
[0015]5、本技术通过设置滑块和滑槽，能够限制活动块的位置，提高活动块移动时的稳定性。
[0016]6、本技术通过设置限位槽，能够通过限位杆与对应限位槽之间的配合，来对伸缩杆位置进行定位。
附图说明
[0017]图1是本技术实施例提供的结构示意图；
[0018]图2是本技术实施例提供支撑柱前视的剖视图；
[0019]图3是本技术实施例提供图2中A处的局部放大图。
[0020]图中：1、检验装置；2、支撑平台；3、支撑柱；4、伸缩孔；5、伸缩杆；6、限位槽；7、固定块；8、限位组件；801、滑杆；802、限位杆；803、弹簧；804、传动块；9、调节组件；901、活动块；902、调节杆；903、连接块；904、传动杆；10、按压块；11、滑块；12、滑槽。
具体实施方式
[0021]为能进一步了解本技术的
技术实现思路
、特点及功效，兹例举以下实施例，并配合附图详细说明如下。
[0022]下面结合附图对本技术的结构作详细的描述。
[0023]如图1至图3所示，本技术实施例提供的一种用于光接收器件加工的芯片固晶检验装置，包括检验装置1和支撑平台2，支撑平台2位于检验装置1的顶部，检验装置1的顶部固定连接有支撑柱3，支撑柱3的顶部开设有伸缩孔4，伸缩孔4的内部插接有伸缩杆5，伸缩杆5的顶部与支撑平台2的底部固定连接，伸缩杆5的两侧均开设有限位槽6，支撑柱3的两侧均固定连接有固定块7，固定块7的内部设置有限位组件8，固定块7的顶部和底部均设置有调节组件9。
[0024]参考图3，限位组件8包括滑杆801和限位杆802，滑杆801插接与限位杆802的内部，滑杆801远离支撑柱3的一侧与固定块7的内壁固定连接，限位杆802靠近伸缩杆5的一侧贯穿至伸缩孔4的内部，且与限位槽6配合使用，滑杆801的表面套设有弹簧803，弹簧803靠近限位杆802的一侧与限位杆802的表面固定连接，弹簧803远离限位杆802的一侧与固定块7的内壁固定连接，限位杆802的顶部固定连接有传动块804，传动块804与调节组件9配合使用。
[0025]采用上述方案：通过设置限位组件8，能够通过对支撑平台2位置进行调节，最后通过限位组件8进行定位，从而固定伸缩杆5的位置，提高其稳定性。
[0026]参考图3，调节组件9包括活动块901和调节杆902，调节杆902靠近活动块901的一侧贯穿至固定块7的内部，且与活动块901的表面固定连接，活动块901的底部固定连接有连接块903，连接块903的前侧通过第二转轴活动连接有传动杆904，传动杆904靠近传动块804的一侧通过第二转轴与传动块804的前侧活动连接。
[0027]采用上述方案：通过设置调节组件9，能够通过向靠近固定块7的一侧推动按压块9，通过按压块9与调节组件9之间的配合使限位杆802离开限位槽6的内部，方便了使用者使用。
[0028]参考图2和图3，调节杆902远离活动块901的一侧固定连接有按压块10。
[0029]采用上述方案：通过设置按压块9，能够提高手指与调节杆902接触面积，便于使用者按压调节杆902。
[0030]参考图3，活动块901远离支撑柱3的一侧固定连接有滑块11，固定块7的内壁开设有与滑块11配合使用的滑槽12。
[0031]采用上述方案：通过设置滑块11和滑槽12，能够限制活动块901的位置，提高活动块901移动时的稳定性。
[0032]参考图2和图3，限位槽6的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于光接收器件加工的芯片固晶检验装置，包括检验装置(1)和支撑平台(2)，其特征在于：所述支撑平台(2)位于检验装置(1)的顶部，所述检验装置(1)的顶部固定连接有支撑柱(3)，所述支撑柱(3)的顶部开设有伸缩孔(4)，所述伸缩孔(4)的内部插接有伸缩杆(5)，所述伸缩杆(5)的顶部与支撑平台(2)的底部固定连接，所述伸缩杆(5)的两侧均开设有限位槽(6)，所述支撑柱(3)的两侧均固定连接有固定块(7)，所述固定块(7)的内部设置有限位组件(8)，所述固定块(7)的顶部和底部均设置有调节组件(9)。2.如权利要求1所述的一种用于光接收器件加工的芯片固晶检验装置，其特征在于：所述限位组件(8)包括滑杆(801)和限位杆(802)，所述滑杆(801)插接与限位杆(802)的内部，所述滑杆(801)远离支撑柱(3)的一侧与固定块(7)的内壁固定连接，所述限位杆(802)靠近伸缩杆(5)的一侧贯穿至伸缩孔(4)的内部，且与限位槽(6)配合使用，所述滑杆(801)的表面套设有弹簧(803)，所述弹簧(803)靠近限位杆(802)的一侧与限位杆(802)的表面固定连接，所述弹簧(803)远离限位杆(802)的一侧与固定块(7)的内壁固定连接，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：娄永国，娄海峰，张传清，
申请(专利权)人：深圳市炬鑫光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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