测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种测试装置。该测试装置包括固定座；驱动机构，驱动机构设置在固定座上；探针部，探针部包括探针座和探针，探针座绕第一轴线可转动地连接在固定座上，探针座与驱动机构连接，并在驱动机构的驱动下绕第一轴线转动，探针用于与被测物接触，探针设置在探针座上，并在探针座的驱动下运动。该测试装置可靠性高。可靠性高。可靠性高。

【技术实现步骤摘要】
测试装置


[0001]本技术涉及低压电器
，尤其涉及一种测试装置。

技术介绍

[0002]低压电器产品在生产制造过程中，为保证产品性能的可靠性，需要对产品进行通电测试，从中获得所需要的各项参数。现有的测试方式通常是采用下压式探针结构或机械夹紧式结构与待测产品的端子接触，然后对其进行通电测试，并采集需要的参数。
[0003]机械夹紧式结构存在操作复杂、过于消耗时间，使得测试成本增加的问题。在使用下压式探针结构，通过低电压高电流方式进行测试时存在的问题在于：容易出现通电不良、供电不可靠的问题，导致无法完成测试或者采集的参数不能反映待测产品的真实情况的问题。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种测试装置，以解决低压电器产品测试效果不好的问题。
[0005]根据本申请实施例的第一方面，提供了一种测试装置，包括：固定座；驱动机构，驱动机构设置在固定座上；探针部，探针部包括探针座和探针，探针座绕第一轴线可转动地连接在固定座上，探针座与驱动机构连接，并在驱动机构的驱动下绕第一轴线转动，探针用于与被测物接触，探针设置在探针座上，并在探针座的驱动下运动。
[0006]可选地，固定座上设置有导杆，导杆可相对固定座转动，导杆的转动轴线为第一轴线，探针座与导杆固定连接。
[0007]可选地，固定座和探针座之间设置有弹性件，弹性件向探针座施加使探针和被测物抵紧的作用力。
[0008]可选地，弹性件包括弹簧，弹簧套设在导杆外，且弹簧的第一端与固定座抵接，弹簧的第二端与探针座抵接。
[0009]可选地，探针具有中轴线，探针的中轴线与第一轴线同轴，或者，中轴线与第一轴线之间的距离小于或等于0.5mm。
[0010]可选地，驱动机构包括：驱动件，驱动件设置在固定座上，且驱动件具有移动端；传动件，传动件与驱动件的移动端连接，并在驱动件的驱动下，相对固定座沿第一方向移动，第一方向垂直于第一轴线；滑动杆，滑动杆连接在探针座和传动件之间，在传动件的驱动下相对固定座绕第一轴线转动，以带动探针座和探针绕第一轴线转动。
[0011]可选地，固定座上设置有滑槽，滑动杆穿过滑槽，且滑动杆在传动件的驱动下沿滑槽移动。
[0012]可选地，滑槽为圆弧槽，且圆弧槽的圆心在第一轴线上。
[0013]可选地，传动件上设置有导向槽，滑动杆伸入导向槽内，以通过导向槽与传动件连接。
[0014]可选地，驱动件的移动端和传动件之间连接有浮动接头。
[0015]通过本申请实施例的测试装置，探针部可以在需要时与被测物(例如前述的低压电器)的触点等接触，从而实现对被测物通电，以对被测物进行测试。由于被测物的触点和探针部的探针之间可能存在影响通电性能的物质(如杂质或者绝缘介质等)，导致通电不良或者供电不足，而影响了测试准确性，所以，为了解决该问题，本实施例中的测试装置包括驱动机构，在出现通电不良等情况时，通过驱动机构带动探针座和探针绕第一轴线转动，使得探针和被测物之间出现相对运动，使得探针可以有效划破探针和被测物的触点之间的杂质或者绝缘介质，从而获得良好的导通性，确保测试准确性，也可以避免频繁更换或者清理探针，从而提升测试效率。
附图说明
[0016]图1是本申请实施例提供的一种测试装置的第一视角立体结构示意图；
[0017]图2是本申请实施例提供的一种测试装置的第二视角立体结构示意图；
[0018]图3是本申请实施例提供的一种测试装置的导杆处的剖视结构示意图；
[0019]图4是本申请实施例提供的一种测试装置去除固定座的立体结构示意图；
[0020]图5是本申请实施例提供的一种测试装置的固定座的结构示意图；
[0021]附图标记列表：
[0022]10、固定座；11、滑槽；20、驱动机构；21、驱动件；221、导向槽；22、传动件；23、滑动杆；24、浮动接头；30、探针部；31、探针座；32、探针；41、导杆；42、弹簧；A1、第一轴线；A2、中轴线。
具体实施方式
[0023]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。
[0024]在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
[0025]参照图1到图5，本申请实施例提供一种测试装置，该测试装置可以用于低压电器的测试，例如通过对低压电器进行通电测试，确定低压电器的参数是否满足需求，从而确定低压电器的性能和可靠性。
[0026]该测试装置包括固定座10、驱动机构20和探针部30，驱动机构20设置在固定座10上；探针部30包括探针座31和探针32，探针座31绕第一轴线A1可转动地连接在固定座10上，探针座31与驱动机构20连接，并在驱动机构20的驱动下绕第一轴线A1转动，探针32用于与被测物接触，探针32设置在探针座31上，并在探针座31的驱动下运动。
[0027]该测试装置的固定座10用于安装驱动机构20和探针部30，驱动机构20与探针部30连接，用于为探针部30提供动力，使其能够在需要时绕第一轴线A1转动。探针部30可以在需要时与被测物(例如前述的低压电器)的触点等接触，从而实现对被测物通电，以对被测物进行测试。由于被测物的触点和探针部30的探针32之间可能存在影响通电性能的物质(如
杂质或者绝缘介质等)，导致通电不良或者供电不足，而影响了测试准确性，所以，为了解决该问题，本实施例中的测试装置包括驱动机构20，在出现通电不良等情况时，通过驱动机构20带动探针座31和探针32绕第一轴线A1转动，使得探针32和被测物之间出现相对运动，使得探针32可以有效划破探针32和被测物的触点之间的杂质或者绝缘介质，从而获得良好的导通性，确保测试准确性，也可以避免频繁更换或者清理探针32，从而提升测试效率。
[0028]需要说明的是，本实施例中探针32相对触点运动时的运动平面平行于探针32与触点的接触面，或者，该运动平面和接触面之间的夹角小于或等于5
°
。
[0029]下面结合附图对测试装置的结构进行说明：
[0030]如图1到图3所示，固定座10可以与其他的固定物(安装框架或者墙壁等)连接，固定座10可以相对固定物移动，进而带动驱动机构20和探针部30相对固定物移动，从而使探针32与被测物接触或者分离；或者，固定座10也可以相对固定物固定，通过被测物的移动实现探针32与被测物的接触或者分离，对此不作限制。
[0031]可选地，为了使探针座31相对固定座10转动更加顺畅、可靠，固定座10上设置有导杆41，导杆41可相对固定座1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：固定座(10)；驱动机构(20)，所述驱动机构(20)设置在所述固定座(10)上；探针部(30)，所述探针部(30)包括探针座(31)和探针(32)，所述探针座(31)绕第一轴线(A1)可转动地连接在所述固定座(10)上，所述探针座(31)与所述驱动机构(20)连接，并在所述驱动机构(20)的驱动下绕所述第一轴线(A1)转动，所述探针(32)用于与被测物接触，所述探针(32)设置在所述探针座(31)上，并在所述探针座(31)的驱动下运动。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述固定座(10)上设置有导杆(41)，所述导杆(41)可相对所述固定座(10)转动，所述导杆(41)的转动轴线为所述第一轴线(A1)，所述探针座(31)与所述导杆(41)固定连接。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述固定座(10)和所述探针座(31)之间设置有弹性件，所述弹性件向所述探针座(31)施加使所述探针(32)和所述被测物抵紧的作用力。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述弹性件包括弹簧(42)，所述弹簧(42)套设在所述导杆(41)外，且所述弹簧(42)的第一端与所述固定座(10)抵接，所述弹簧(42)的第二端与所述探针座(31)抵接。5.根据权利要求1
‑
4中任一项所述的测试装置，其特征在于，所述探针(32)具有中轴线(A2)，所述探针(32)的中轴线(A2)与所述第一轴线(A1)同轴，或者，所述中轴线(A2)与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：代世华，
申请(专利权)人：苏州西门子电器有限公司，
类型：新型
国别省市：