一种荧光检测成像系统技术方案

技术编号:35970983 阅读:30 留言:0更新日期:2022-12-14 11:27
本实用新型专利技术公开一种荧光检测成像系统,包括光源装置、匀光装置、第一光纤束和成像装置,匀光装置使得光源装置出射的激发光通过匀光装置后光能量均匀。第一光纤束包括至少两部分光纤,每一部分光纤的入射端用于接收匀光装置出射的激发光,激发光经本部分光纤传输后从本部分光纤的出射端出射,使得激发光照射到与本部分光纤的出射端对应的待检样品,成像装置获取待检样品在激发光照射下产生的光,并基于获取的光进行成像。本实用新型专利技术通过匀光装置将光源装置出射的激发光匀光,匀光装置出射的激发光能量均匀,使得进入各部分光纤的激发光能量较一致,使得入射到各个待检样品的激发光能量较一致,从而提高了入射到各个待检样品的激发光能量的均匀性。光能量的均匀性。光能量的均匀性。

【技术实现步骤摘要】
一种荧光检测成像系统


[0001]本技术涉及光学系统领域,特别是涉及一种荧光检测成像系统。

技术介绍

[0002]荧光检测是聚合酶链式反应(PCR)中常用的技术手段,用于检测PCR反应中目标DNA的含量。
[0003]荧光检测可以分为点信号检测和面信号检测,点信号检测采用光电倍增管等光电探测器,探测灵敏度高,然而由于是单点探测,通常需要逐点扫描,因此其检测速度较低。相比于点信号检测,面信号检测为成像检测,即通过光学成像的手段一次获取全部待检信息,大大缩减了检测时间。并且,随着面阵探测器工艺的成熟,以及一些新型成像芯片的研究和发展,面阵探测器的灵敏度不断提高,因此面信号荧光检测的优势越专利技术显。
[0004]然而,现有的面信号检测方法存在激发光照度不均匀,激发光照度会影响产生的荧光信号,因此激发光照度不均匀会对荧光信号的强度引入误差,从而会影响最终检测结果。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是提供一种荧光检测成像系统,能够提高入射到各个待检样品的激发光能量的均匀性。
[0006]为实现上述目的,本技术提本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种荧光检测成像系统,其特征在于,包括光源装置、匀光装置、第一光纤束和成像装置,所述匀光装置设置于所述光源装置的出光光路上,用于使得所述光源装置出射的激发光通过所述匀光装置后光能量均匀;所述第一光纤束包括至少两部分光纤,每一部分光纤的入射端用于接收所述匀光装置出射的所述激发光,所述激发光经本部分光纤传输后从本部分光纤的出射端出射,使得所述激发光照射到与本部分光纤的出射端对应的待检样品,所述成像装置用于获取所述待检样品在所述激发光照射下产生的光,并基于获取的光进行成像。2.根据权利要求1所述的荧光检测成像系统,其特征在于,所述第一光纤束的每一部分光纤的入射端位于所述匀光装置的出光端端面上。3.根据权利要求1所述的荧光检测成像系统,其特征在于,还包括第一光纤固定装置,所述第一光纤固定装置设置于所述匀光装置的出光端,所述第一光纤束的每一部分光纤的入射端固定在所述第一光纤固定装置上。4.根据权利要求1所述的荧光检测成像系统,其特征在于,所述光源装置包括光源和第一滤光元件,所述第一滤光元件用于将所述光源的出射光进行波段选择,以形成所述激发光。5.根据权利要求4所述的荧光检测成像系统,其特征在于,所述光源装置还包括准直光学元件和会聚光学元件,所述第一滤光元件设置于所述准直光学元件和所述会聚光学元件之间,所述准直光学元件用于将...

【专利技术属性】
技术研发人员:张超徐金喆黄宝福
申请(专利权)人:威高苏州医疗器械研究院有限公司
类型:新型
国别省市:

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