一种电容测试包装装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种电容测试包装装置，其能将电容装入载盒后用于电容的测试、外观检测、包装的一系列操作，同时在将电容置于载盒的过程中，其相较于传统上料装置，能够更快地完成上料，上料效率高。其包括上料工位、测试工位、外观检查及包装工位、载盒下料工位和输送装置，输送装置连通上料工位、测试工位、外观检查及包装工位和载盒下料工位并且用于输送载盒，上料工位安装有用于将载盒送至输送装置上的载盒上料机构和用于将电容置入载盒中的电容上料机构，电容上料机构包括振动上料装置和上料吸头，电容上料机构的数量大于一个并且沿着输送装置依次布置，每个电容上料机构具有多个上料吸头。个上料吸头。个上料吸头。

【技术实现步骤摘要】
一种电容测试包装装置


[0001]本技术涉及电容测试装置
，具体为一种电容测试包装装置。

技术介绍

[0002]在例如芯片电容（单层电容）等电容的批量测试、筛选及包装的生产线中，通常以散料方式进入生产线，以包装后的方式离开生产线。生产线内通常包括散料芯片电容的上料、电性能测试、外观检查、包装等运行装置，为尽量减少人工操作，需要将这些功能集成在一体化装置中。
[0003]其中，电容的测试项目一般包括耐压测试、绝缘电阻测试以及容量、损耗测试等，现有技术也有采用先将电容置于一电容载盒中再以盒为单位进行测试等操作，在测试时，一般通过加电、测试探针板下压使其探针压覆在载盒中的每个电容上来将电容接入至加电、测试电路中进行加电或者测试，这个过程一般持续时间较短，一次即可测试一整盒的电容，测试效率高，而在将电容上料至载盒中时，现有技术中的上料装置例如公开号为CN108761211A一种钽电容的后道生产检测工艺及生产线的专利申请，其通过空料盘输送机构将料盘送至轨道输送机构中，上料时则采用振动盘将电容振动送料至送料轨道中，再通过吸盘逐颗将电容转移至料盘中，相较于测试过程，上料过程反倒需要大量时间，当上料、测试集成在一体化装置中时，即使通过上述测试手段提高了测试效率，也仍需等待吸头逐个将电容置入载盒并在载盒摆满后再对下一盒电容进行测试，从而导致整体装置的效率不够理想。

技术实现思路

[0004]针对现有电容测试装置，其上料效率低的问题，本技术提供了一种电容测试包装装置，其能将电容装入载盒后用于电容的测试、外观检测、包装的一系列操作，同时在将电容置于载盒的过程中，其相较于传统上料装置，能够更快地完成上料，上料效率高。
[0005]其技术方案是这样的：一种电容测试包装装置，其包括上料工位、测试工位、外观检查及包装工位、载盒下料工位和输送装置，所述输送装置连通所述上料工位、所述测试工位、所述外观检查及包装工位和所述载盒下料工位并且用于输送载盒，所述上料工位安装有用于将载盒送至所述输送装置上的载盒上料机构和用于将电容置入所述载盒中的电容上料机构，所述电容上料机构包括振动上料装置和上料吸头，所述测试工位安装有测试探针板，每个测试探针板上连接有多个与载盒中的电容位置相对应的探针，其特征在于：所述电容上料机构的数量大于一个并且沿着所述输送装置依次布置，每个所述电容上料机构具有多个上料吸头。
[0006]其进一步特征在于：
[0007]所述振动上料装置为柔性振动盘；
[0008]所述测试工位包括耐压及绝缘电阻测试工位、容量损耗测试工位，每个测试工位分别设有对应的所述测试探针板以及用于驱动所述测试探针板运动的驱动装置；
[0009]所述外观检查及包装工位安装有用于检查电容外表的外观检查装置和用于包装电容的包装装置，所述外观检测装置包括顶面镜头、底面镜头、侧面镜头一、侧面镜头二和搬运装置，所述搬运装置上安装有吸头组用于将电容从载盒中取出并转移，所述输送装置上方安装有所述顶面镜头，所述吸头组包括多个吸头，每个所述吸头与旋转机构连接用于旋转被吸附的电子元件；所述输送装置的侧部安装有所述底面镜头、所述侧面镜头一、所述侧面镜头二、不良品箱、所述包装装置，所述搬运装置用于将取出的电子元件转移至所述底面镜头的上方、所述侧面镜头一的一侧、所述侧面镜头二的一侧，所述搬运装置还用于将不合格的电子元件转移至所述不良品箱、将合格的电子元件转移至所述包装装置；
[0010]所述搬运装置包括搬运装置一和搬运装置二，所述底面镜头、所述侧面镜头一、所述侧面镜头二和所述不良品箱、所述包装装置之间设有中转台，所述搬运装置一用于将电子元件转移至所述底面镜头、所述侧面镜头一、所述侧面镜头二、所述不良品箱后将电子元件置于所述中转台；所述搬运装置二用于将存在于所述中转台上的电子元件转移至所述所述包装装置；
[0011]所述输送装置侧部由近及远依次设有所述侧面镜头一、所述底面镜头、所述侧面镜头二、所述不良品箱、所述中转台、所述包装装置；所述侧面镜头一、所述侧面镜头二位于同一高度，所述搬运装置用于将电子元件转移至所述侧面镜头一和所述侧面镜头二的中间；
[0012]所述载盒上料机构和所述载盒下料工位分别位于所述输送装置的两端。
[0013]采用了这样的结构后，在上料时，通过多个电容上料机构分别对一个载盒进行上料，同时每次上料时同时通过吸头转移多个电容，能够有效加快电容的上料效率，进而与高的测试效率相匹配。
附图说明
[0014]图1为本技术俯视示意图；
[0015]图2为本技术主视示意图；
[0016]图3为本技术立体结构图；
[0017]图4为图3中A处放大结构图；
[0018]图5为图3中B处放大结构图。
具体实施方式
[0019]如图1
‑
图3所示的一种电容测试包装装置，其包括上料工位、测试工位、外观检查及包装工位、载盒下料工位和输送装置1（其可以为输送轨道），输送装置1连通上料工位、测试工位、外观检查及包装工位2和载盒下料工位3并且用于输送载盒100，载盒100中均匀分布有用于放置电容的容纳槽，上料工位安装有用于将载盒送至输送装置上的载盒上料机构4和用于将电容置入载盒中的电容上料机构5，结合图4所示，电容上料机构5包括振动上料装置51和上料吸头52，振动上料装置51优选为柔性振动盘，电容在柔性振动盘中排列后，通过上料吸头52吸取之后可以通过横向电动滑轨53和纵向电动滑轨54来进行横向和纵向的移动或者依靠机械臂来控制移动但是相应地会增加成本，电容上料机构5的数量大于一个（图中为4个）并且沿着输送装置1依次布置，每个电容上料机构具有多个上料吸头52（图中
为4个），依靠多个电容上料机构来分别对一载盒进行上料，提高了上料效率，另外值得一提的是，振动上料装置如果采用传统轨道式的，由于上料轨道需要与电容尺寸匹配，如果用于其它尺寸的电容，上料轨道也需要相应更换，而采用柔性振动盘，则不会被电容尺寸限制，吸头可以直接从柔性振动盘中吸取电容转移至电容载盒中。
[0020]结合图1、图2、图3、图5所示，测试工位安装有测试探针板6，每个测试探针板6上连接有多个与载盒中的电容位置相对应的探针61，测试探针板6与上下移动机构62例如气缸驱动，使探针板6下压在电容载盒上。具体的，测试工位包括耐压及绝缘电阻测试工位63、容量损耗测试工位64，每个测试工位分别设有对应的测试探针板以及用于驱动测试探针板运动的驱动装置，从而可以使探针与电容接触将电容与测试仪表连接进行测试。
[0021]在进行外观检查时，结合图1
‑
图3，外观检查及包装工位2安装有用于检查电容外表的外观检查装置和用于包装电容的包装装置，当仅需检查其中一面时，可以依靠吸头将电容吸起并转移至镜头处拍照，当需要六面外观检时，外观检测装置包括顶面镜头21、底面镜头22、侧面镜头一23、侧面镜头二24和搬运装置，搬运装置上安装有吸头组用于一次将多个电容从载盒中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电容测试包装装置，其包括上料工位、测试工位、外观检查及包装工位、载盒下料工位和输送装置，所述输送装置连通所述上料工位、所述测试工位、所述外观检查及包装工位和所述载盒下料工位并且用于输送载盒，所述上料工位安装有用于将载盒送至所述输送装置上的载盒上料机构和用于将电容置入所述载盒中的电容上料机构，所述电容上料机构包括振动上料装置和上料吸头，所述测试工位安装有测试探针板，每个测试探针板上连接有多个与载盒中的电容位置相对应的探针，其特征在于：所述电容上料机构的数量大于一个并且沿着所述输送装置依次布置，每个所述电容上料机构具有多个上料吸头。2.根据权利要求1所述的一种电容测试包装装置，其特征在于：所述振动上料装置为柔性振动盘。3.根据权利要求1所述的一种电容测试包装装置，其特征在于：所述测试工位包括耐压及绝缘电阻测试工位、容量损耗测试工位，每个测试工位分别设有对应的所述测试探针板以及用于驱动所述测试探针板运动的驱动装置。4.根据权利要求1所述的一种电容测试包装装置，其特征在于：所述外观检查及包装工位安装有用于检查电容外表的外观检查装置和用于包装电容的包装装置，所述外观检查装置包括顶面镜头、底面镜头、侧面镜头一、侧面镜头二和搬运装置，所述搬运装置上安装有吸头组用于将电容从载盒中取出并转移，所述输送装置上方安装有所述顶面镜头，所述吸头组包...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊焰明，
申请(专利权)人：江苏伊施德创新科技有限公司，
类型：新型
国别省市：