电子元件耐久度测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了电子元件耐久度测试装置，包括装置箱，装置箱内一体成形有承载箱，装置箱和承载箱之间为加热腔，装置箱内壁间固定安装有若干加热机构，承载箱内滑动设置有测试箱，测试箱内壁堆成固定安装有若干定位块，定位块上滑动设置有测试板，加热腔内设置有风扇机构。本实用新型专利技术通过设置测试平台机构，可以将待测试装置放置在支撑凸起上，同时可以利用固定螺栓将支撑柱拆卸，通过滑动设置测试板，可以在外侧将测试元件放置好后放置在定位块上,通过电加热管和风扇机构，可以在电加热管将加热腔内的空气加热时，通过驱动电机开启转动风扇，可以使得加热腔内的气体受热更加均匀，提高测试的准确性。提高测试的准确性。提高测试的准确性。

【技术实现步骤摘要】
电子元件耐久度测试装置


[0001]本技术涉及电子元件测试领域，尤其涉及电子元件耐久度测试装置。

技术介绍

[0002]目前，随着电子技术的不断发展，电子元件的应用也越来越多。在电子元件的生产后出厂前，一般需要对电子元件进行检测，以便保证电子元件的质量。目前的电子元件检测一般是人工手持检测探头来完成，这种检测方式效率较低，而且，难以对电子元件的表面质量以及尺寸进行有效检测，同时还需要检测电子元件的使用寿命，即需要测试电子元件的耐久度测试，通常情况下电子元件的耐久度测试需要在高温下运行，目前的一些高温测试装置常通过电加热管直接给予升温，但是这样的升温不够均匀，同时难以人为控制。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的电子元件耐久度测试装置。
[0004]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0005]电子元件耐久度测试装置，包括装置箱，所述装置箱内一体成形有承载箱，所述装置箱和承载箱之间为加热腔，所述装置箱内壁间固定安装有若干加热机构，所述承载箱内滑动设置有测试箱，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.电子元件耐久度测试装置，包括装置箱(1)，其特征在于，所述装置箱(1)内一体成形有承载箱(2)，所述装置箱(1)和承载箱(2)之间为加热腔(3)，所述装置箱(1)内壁间固定安装有若干加热机构，所述承载箱(2)内滑动设置有测试箱(4)，所述测试箱(4)内壁固定安装有若干定位块(5)，所述定位块(5)上滑动设置有测试板(6)，所述测试板(6)上设置有测试平台机构，所述装置箱(1)顶端设置有驱动机构，所述加热腔(3)内设置有风扇机构。2.根据权利要求1所述的电子元件耐久度测试装置，其特征在于，所述测试平台机构包括支撑柱(7)、支撑平台(8)、支撑凸起(9)和固定螺栓(10)，若干所述支撑柱(7)通过固定螺栓(10)固定安装在所述测试板(6)上端，所述支撑平台(8)固定安装在支撑柱(7)顶端，若干所述支撑凸起(9)固定安装在支撑平台(8)顶端。3.根据权利要求1所述的电子元件耐久度测试装置，其特征在于，所述加热机构包括固定块(17)和电加热管(18)，所述固定块(17...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑子杨，
申请(专利权)人：佛山市天泽测试服务有限公司，
类型：新型
国别省市：