电子元件耐久度测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了电子元件耐久度测试装置，包括装置箱，装置箱内一体成形有承载箱，装置箱和承载箱之间为加热腔，装置箱内壁间固定安装有若干加热机构，承载箱内滑动设置有测试箱，测试箱内壁堆成固定安装有若干定位块，定位块上滑动设置有测试板，加热腔内设置有风扇机构。本实用新型专利技术通过设置测试平台机构，可以将待测试装置放置在支撑凸起上，同时可以利用固定螺栓将支撑柱拆卸，通过滑动设置测试板，可以在外侧将测试元件放置好后放置在定位块上,通过电加热管和风扇机构，可以在电加热管将加热腔内的空气加热时，通过驱动电机开启转动风扇，可以使得加热腔内的气体受热更加均匀，提高测试的准确性。提高测试的准确性。提高测试的准确性。

【技术实现步骤摘要】
电子元件耐久度测试装置


[0001]本技术涉及电子元件测试领域，尤其涉及电子元件耐久度测试装置。

技术介绍

[0002]目前，随着电子技术的不断发展，电子元件的应用也越来越多。在电子元件的生产后出厂前，一般需要对电子元件进行检测，以便保证电子元件的质量。目前的电子元件检测一般是人工手持检测探头来完成，这种检测方式效率较低，而且，难以对电子元件的表面质量以及尺寸进行有效检测，同时还需要检测电子元件的使用寿命，即需要测试电子元件的耐久度测试，通常情况下电子元件的耐久度测试需要在高温下运行，目前的一些高温测试装置常通过电加热管直接给予升温，但是这样的升温不够均匀，同时难以人为控制。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的电子元件耐久度测试装置。
[0004]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0005]电子元件耐久度测试装置，包括装置箱，所述装置箱内一体成形有承载箱，所述装置箱和承载箱之间为加热腔，所述装置箱内壁间固定安装有若干加热机构，所述承载箱内滑动设置有测试箱，所述测试箱内壁堆成固定安装有若干定位块，所述定位块上滑动设置有测试板，所述测试板上设置有测试平台机构，所述装置箱顶端设置有驱动机构，所述加热腔内设置有风扇机构。
[0006]优选地，所述测试平台机构包括支撑柱、支撑平台、支撑凸起和固定螺栓，若干所述支撑柱通过固定螺栓固固定安装在所述测试板上端，所述支撑平台固定安装在支撑柱顶端，若干所述支撑凸起固定安装在支撑平台顶端。
>[0007]优选地，所述加热机构包括固定块和电加热管，所述固定块对称固定安装在所述装置箱内壁，所述电加热管固定安装在对称的固定块之间。
[0008]优选地，所述驱动机构包括电机箱和驱动电机，所述电机箱固定安装在装置箱顶端，所述驱动电机固定安装在电机箱内。
[0009]优选地，所述风扇机构包括转动轴和转动风扇，所述转动轴转动连接在装置箱顶端和承载箱顶端之间，且所述转动轴与驱动电机的输出轴同轴固定连接，若干所述转动风扇固定安装在转动轴上。
[0010]优选地，所述装置箱侧壁底端连通有抽气机，所述抽气机通过安装座固定安装在抽气机外侧，所述装置箱侧壁通过合页转动连接有密封箱门，且所述密封箱门上设置有玻璃窗口。
[0011]本技术具有以下有益效果：
[0012]1、通过设置电加热管和风扇机构，可以在电加热管将加热腔内的空气加热时，通过驱动电机开启转动风扇，可以使得加热腔内的气体受热更加均匀，避免温升实验时加热
时不够均匀，提高测试的准确性。
[0013]2、通过设置测试平台机构，可以将待测试装置放置在支撑凸起上，同时可以利用固定螺栓将支撑柱拆卸，通过滑动设置测试板，可以在外侧将测试元件放置好后放置在定位块上。
附图说明
[0014]图1为本技术提出的电子元件耐久度测试装置的示意图；
[0015]图2为本技术提出的电子元件耐久度测试装置的结构示意图；
[0016]图3为本技术测试箱的结构示意图。
[0017]图中：1、装置箱；2、承载箱；3、加热腔；4、测试箱；5、定位块；6、测试板；7、支撑柱；8、支撑平台；9、支撑凸起；10、固定螺栓；11、电机箱；12、驱动电机；13、转动轴；14、转动风扇；15、安装座；16、抽气机；17、固定块；18、电加热管；19、密封箱门；20、玻璃窗口。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0019]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0020]参照图1
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3，电子元件耐久度测试装置，包括装置箱1，装置箱1内一体成形有承载箱2，装置箱1和承载箱2之间为加热腔3，装置箱1内壁间固定安装有若干加热机构，承载箱2内滑动设置有测试箱4，测试箱4内壁堆成固定安装有若干定位块5，定位块5上滑动设置有测试板6，测试板6上设置有测试平台机构，装置箱1顶端设置有驱动机构，加热腔3内设置有风扇机构。
[0021]测试平台机构包括支撑柱7、支撑平台8、支撑凸起9和固定螺栓10，若干支撑柱7通过固定螺栓固10固定安装在测试板6上端，支撑平台8固定安装在支撑柱7顶端，若干支撑凸起9固定安装在支撑平台8顶端。
[0022]加热机构包括固定块17和电加热管18，固定块17对称固定安装在装置箱1内壁，电加热管18固定安装在对称的固定块17之间。
[0023]驱动机构包括电机箱11和驱动电机12，电机箱11固定安装在装置箱1顶端，驱动电机12固定安装在电机箱11内。
[0024]风扇机构包括转动轴13和转动风扇14，转动轴13转动连接在装置箱1顶端和承载箱2顶端之间，且转动轴13与驱动电机12的输出轴同轴固定连接，若干转动风扇14固定安装在转动轴13上。
[0025]装置箱1侧壁底端连通有抽气机16，抽气机16通过安装座15固定安装在抽气机16外侧，装置箱1侧壁通过合页转动连接有密封箱门19，且密封箱门19上设置有玻璃窗口20。
[0026]驱动电机12、抽气机16和电加热管18均与安装在装置箱1侧壁的控制面板均电性
连接，测试箱4内设置有可以与电子元件连接的测试机构。
[0027]需要说明的是，需要说明的是，测试机构的结构和控制面板的电控技术均为成熟的现有技术，且非本技术技术点所在，在此不多做赘述。
[0028]本技术中，工作人员将测试板6取出，将待测试的电子元件设置在支撑凸起9上，再将测试板6推回至定位块5上，再通过控制中心开启电加热管18，同时开启驱动电机12，驱动电机12通过转动轴13驱动转动风扇14，使得加热腔3内的空气加热的更加均匀，避免温升实验时加热不够均匀，提高测试的准确性，关闭密封箱门19，从玻璃窗口20可以观察内部的电子元件，同时可以保护工作人员。
[0029]以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.电子元件耐久度测试装置，包括装置箱(1)，其特征在于，所述装置箱(1)内一体成形有承载箱(2)，所述装置箱(1)和承载箱(2)之间为加热腔(3)，所述装置箱(1)内壁间固定安装有若干加热机构，所述承载箱(2)内滑动设置有测试箱(4)，所述测试箱(4)内壁固定安装有若干定位块(5)，所述定位块(5)上滑动设置有测试板(6)，所述测试板(6)上设置有测试平台机构，所述装置箱(1)顶端设置有驱动机构，所述加热腔(3)内设置有风扇机构。2.根据权利要求1所述的电子元件耐久度测试装置，其特征在于，所述测试平台机构包括支撑柱(7)、支撑平台(8)、支撑凸起(9)和固定螺栓(10)，若干所述支撑柱(7)通过固定螺栓(10)固定安装在所述测试板(6)上端，所述支撑平台(8)固定安装在支撑柱(7)顶端，若干所述支撑凸起(9)固定安装在支撑平台(8)顶端。3.根据权利要求1所述的电子元件耐久度测试装置，其特征在于，所述加热机构包括固定块(17)和电加热管(18)，所述固定块(17...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑子杨，
申请(专利权)人：佛山市天泽测试服务有限公司，
类型：新型
国别省市：