【技术实现步骤摘要】
显示模组和显示装置
[0001]本申请属于显示
,尤其涉及一种显示模组和显示装置。
技术介绍
[0002]随着显示技术的发展,对显示设备的性能要求越来越高。Micro
‑
LED显示技术以其功耗低、寿命长、亮度高等特点,逐渐成为下一代显示的主流产品。但是Micro
‑
LED存在发光效率受温度影响大的问题,从而影响了显示设备的性能。
技术实现思路
[0003]本申请实施例提供了一种显示模组和显示装置,可对显示模组中发光器件进行更为精准的温度检测。
[0004]本申请实施例第一方面的实施例提供了一种显示模组,包括:
[0005]衬底基板;
[0006]发光器件,所述发光器件位于所述衬底基板的一侧;
[0007]辐射部件,所述辐射部件位于所述发光器件靠近所述衬底基板的一侧,所述辐射部件在所述衬底基板上的正投影与所述发光器件在所述衬底基板上的正投影至少部分交叠,所述辐射部件用于将所述发光器件的热量以辐射信号的方式进行辐射;
[0008]探测单元,所述探测单元用于检测所述辐射信号,所述辐射信号能够用来表征所述发光器件的热量参数。
[0009]本申请第二方面的实施例还提供了一种显示装置,包括本申请第一方面提供的显示模组。
[0010]本申请提供的显示模组中,包括衬底基板、发光器件、辐射部件和探测单元。辐射部件和探测单元用于实现对发光器件的温度检测,具体地,通过辐射部件将发光器件的热量以辐射信号的形式进行辐射,并通过探测 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示模组,其特征在于,包括:衬底基板;发光器件,所述发光器件位于所述衬底基板的一侧;辐射部件,所述辐射部件位于所述发光器件靠近所述衬底基板的一侧,所述辐射部件在所述衬底基板上的正投影与所述发光器件在所述衬底基板上的正投影至少部分交叠,所述辐射部件用于将所述发光器件的热量以辐射信号的方式进行辐射;探测单元,所述探测单元用于检测所述辐射信号,所述辐射信号能够用来表征所述发光器件的热量参数。2.根据权利要求1所述的显示模组,其特征在于,所述辐射部件为吸光膜,所述辐射信号为红外线。3.根据权利要求2所述的显示模组,其特征在于,所述吸光膜的材质包括硫化钼及油墨中的至少一种。4.根据权利要求2所述的显示模组,其特征在于,还包括:阵列层,所述阵列层位于所述发光器件靠近所述衬底基板的一侧;所述辐射部件位于所阵列层靠近所述衬底基板的一侧。5.根据权利要求1所述的显示模组,其特征在于,所述辐射部件至少对应一个所述发光器件。6.根据权利要求5所述的显示模组,其特征在于,所述辐射部件包括第一辐射部件和第二辐射部件,所述第一辐射部件对应的所述发光器件的数量为M,所述第二辐射部件对应的所述发光器件的数量为N,M和N中的一者大于另一者。7.根据权利要求6所述的显示模组,其特征在于,所述显示模组包括围绕所述显示模组中心的中间显示区和围绕所述中间显示区的边缘显示区;所述第一辐射部件位于所述中间显示区,所述第二辐射部件位于所述边缘显示区;其中,M<N。8.根据权利要求7所述的显示模组,其特征在于,所述探测单元包括第一探测单元和第二探测单元,所述第一辐射部件对应至少一个所述第一探测单元,所述第二辐射部件对应至少一个所述第二探测单元,所述第一探测单元对应的所述发光器件的数量为P,所述第二探测单元对应的所述发光器件的数量为Q,其中,P≤Q。9.根据权利要求7所述的显示模组,其特征在于,所述显示模组还包括位于所述中间显示区和所述边缘显示区之间的过渡显示区;所述辐射部件还包括第三辐射部件,所述第三辐射部件位于所述过渡显示区,所述第三辐射部件对应的所述发光器件的数量为S;其中,M<S<N。10.根据权利要求9所述的显示模组,其特征在于,所述探测单元包括第一探测单元、第二探测单元和第三探测单元,所述第一辐射部件对应至少一个所述第一探测单元,所述第二辐射部件对应的至少一个所述第二探测单元,所述第三辐射部件对应至少一个所述第三探测单元,所述第一探测单元对应的所述发光器件的数量为P,所述第二探测单元对应的所述发光器件的数量为Q,所述第三探测单元对应的所述发光器件的数量为T,其中,P≤T≤Q。<...
【专利技术属性】
技术研发人员:翟应腾,
申请(专利权)人:湖北长江新型显示产业创新中心有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。