本申请提出一种基于工业CT图像的薄壁筒形构件缺陷定位方法及装置，其中，方法包括：获取薄壁筒形构件的工业CT图像，并对工业CT图像之中圆环截面进行预处理以获取圆环截面之中的缺陷区域；确定工业CT图像之中薄壁筒形构件的壁厚像素值；基于壁厚像素值和薄壁筒形构件的壁厚长度，获取单位像素点与距离长度之间的映射关系；确定缺陷区域的多个关键点，并根据圆环截面之中的内圆和/或外圆、缺陷区域的多个关键点、以及映射关系，确定缺陷区域的关键信息；关键信息包括长度信息和位置信息中的至少一种。本申请通过工业CT图像的像素信息以及缺陷区域的多个关键点，确定构件缺陷的关键信息，可精确定位出薄壁筒形构件中细小缺陷的位置及尺寸大小。置及尺寸大小。置及尺寸大小。
【技术实现步骤摘要】
基于工业CT图像的薄壁筒形构件缺陷定位方法及装置
[0001]本申请涉及工业CT无损检测
，尤其涉及一种基于工业CT图像的薄壁筒形构件缺陷定位方法及装置。
技术介绍
[0002]工业CT作为无损检测技术中的一种，由于其检测结果具有直观、清晰、准确、不损坏被检测工件、不受被检测工件材料形状限制、可直接获得三维体数据、纵向分辨能力强、检测效率高等诸多优点，是当今世界先进的检测装备之一。工业CT检测在薄壁筒形构件的内部质量检测方面，相较于X光射线检测、超声波检测具有更强的适应性，能依据工业CT图像进行薄壁构件内部缺陷定位，尺寸测量等检测工作。进而基于构件内缺陷的检测结果，对产品进行质量评估。因此，如何根据工业CT图像高精度地定位薄壁构件内部缺陷，成为本领域的重点研究方向之一。
技术实现思路
[0003]本申请旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
[0004]本申请第一方面提出一种基于工业CT图像的薄壁筒形构件缺陷定位方法，包括：
[0005]获取所述薄壁筒形构件的工业CT图像，并对所述工业CT图像之中圆环截面进行预处理以获取所述圆环截面之中的缺陷区域；
[0006]确定所述工业CT图像之中所述薄壁筒形构件的壁厚像素值；
[0007]基于所述壁厚像素值和所述薄壁筒形构件的壁厚长度，获取单位像素点与距离长度之间的映射关系；
[0008]确定所述缺陷区域的多个关键点，并根据所述圆环截面之中的内圆和/或外圆、所述缺陷区域的多个关键点、以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的关键信息；所述关键信息包括长度信息和位置信息中的至少一种。
[0009]在本申请的一些实施例中，所述确定所述工业CT图像之中所述薄壁筒形构件的壁厚像素值，包括：确定所述圆环截面的圆心位置；基于所述圆心位置，对所述圆环截面进行处理以获得所述薄壁筒形构件的内圆边界线圆和外圆边界线圆；确定所述内圆边界线圆至所述圆心位置的内圆半径像素值，并确定所述外圆边界线圆至所述圆心位置的外圆半径像素值；根据所述内圆半径像素值和所述外圆半径像素值，确定所述工业CT图像之中所述薄壁筒形构件的壁厚像素值。
[0010]在本申请的一些实施例中，所述确定所述圆环截面的圆心位置，包括：在所述缺陷区域附近，对所述薄壁筒形构件的外圆边界线圆绘制第一切线和第二切线；基于所述第一切线的垂线和所述第二切线的垂线的相交点，确定所述圆环截面的圆心位置。
[0011]在本申请的一些实施例中，所述多个关键点包括第一端点和第二端点；所述根据所述圆环截面之中的内圆和/或外圆、所述缺陷区域的多个关键点、以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的关键信息，包括：基于所述工业CT图像中的像素信息，确定所述第一端点
与所述内圆和/或外圆之间的第一像素值、所述第二端点与所述内圆和/或外圆之间的第二像素值，以及所述第一端点与所述第二端点之间的第三像素值；根据所述第一像素值、所述第二像素值以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的位置信息；根据所述第三像素值以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的长度信息。
[0012]在本申请的一些实施例中，所述多个关键点还包括其他关键点，所述其他关键点为所述缺陷区域之中除所述第一端点和所述第二端点之外的关键点；所述根据所述第一像素值、所述第二像素值以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的位置信息，包括：基于所述工业CT图像中的像素信息，确定所述其他关键点与所述内圆和/或外圆之间的第四像素值；根据所述第一像素值、所述第二像素值、所述第四像素值以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的位置信息；其中，所述位置信息为缺陷区域之中各关键点距离所述内圆和/或外圆的距离信息。
[0013]本申请第二方面提出一种基于工业CT图像的薄壁筒形构件缺陷定位装置，包括：
[0014]第一获取模块，用于获取所述薄壁筒形构件的工业CT图像，并对所述工业CT图像之中圆环截面进行预处理以获取所述圆环截面之中的缺陷区域；
[0015]第一确定模块，用于确定所述工业CT图像之中所述薄壁筒形构件的壁厚像素值；
[0016]第二获取模块，用于基于所述壁厚像素值和所述薄壁筒形构件的壁厚长度，获取单位像素点与距离长度之间的映射关系；
[0017]第二确定模块，用于确定所述缺陷区域的多个关键点，并根据所述圆环截面之中的内圆和/或外圆、所述缺陷区域的多个关键点、以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的关键信息；所述关键信息包括长度信息和位置信息中的至少一种。
[0018]在本申请的一些实施例中，所述第一确定模块具体用于：确定所述圆环截面的圆心位置；基于所述圆心位置，对所述圆环截面进行处理以获得所述薄壁筒形构件的内圆边界线圆和外圆边界线圆；确定所述内圆边界线圆至所述圆心位置的内圆半径像素值，并确定所述外圆边界线圆至所述圆心位置的外圆半径像素值；根据所述内圆半径像素值和所述外圆半径像素值，确定所述工业CT图像之中所述薄壁筒形构件的壁厚像素值。
[0019]在本申请的一些实施例中，所述第一确定模块还用于：在所述缺陷区域附近，对所述薄壁筒形构件的外圆边界线圆绘制第一切线和第二切线；基于所述第一切线的垂线和所述第二切线的垂线的相交点，确定所述圆环截面的圆心位置。
[0020]在本申请的一些实施例中，所述多个关键点包括第一端点和第二端点；所述第二确定模块还用于：基于所述工业CT图像中的像素信息，确定所述第一端点与所述内圆和/或外圆之间的第一像素值、所述第二端点与所述内圆和/或外圆之间的第二像素值，以及所述第一端点与所述第二端点之间的第三像素值；根据所述第一像素值、所述第二像素值以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的位置信息；根据所述第三像素值以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的长度信息。
[0021]在本申请的一些实施例中，所述多个关键点还包括其他关键点，所述其他关键点为所述缺陷区域之中除所述第一端点和所述第二端点之外的关键点；所述第二确定模块还用于：基于所述工业CT图像中的像素信息，确定所述其他关键点与所述内圆和/或外圆之间的第四像素值；根据所述第一像素值、所述第二像素值、所述第四像素值以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的位置信息；其中，所述位置信息为缺陷区域之中各关键点距离所述
内圆和/或外圆的距离信息。
[0022]本申请第三方面提出一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时，实现如前述第一方面所述的方法。
[0023]本申请第四方面提出一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如前述第一方面所述的方法。
[0024]根据本申请实施例的基于工业CT图像的薄壁筒形构件缺陷定位方法，通过工业CT图像的像素信息以及缺陷区域的多个关键点，确定薄壁筒形构件缺陷的关键信息，即薄壁筒形构件中的缺陷相对于薄壁内环、外环的距离信息，以及缺陷长度信息，可精确定位出薄壁筒形构件中细小缺陷的位置本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于工业CT图像的薄壁筒形构件缺陷定位方法，其特征在于，包括以下步骤：获取所述薄壁筒形构件的工业CT图像，并对所述工业CT图像之中圆环截面进行预处理以获取所述圆环截面之中的缺陷区域；确定所述工业CT图像之中所述薄壁筒形构件的壁厚像素值；基于所述壁厚像素值和所述薄壁筒形构件的壁厚长度，获取单位像素点与距离长度之间的映射关系；确定所述缺陷区域的多个关键点，并根据所述圆环截面之中的内圆和/或外圆、所述缺陷区域的多个关键点、以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的关键信息；所述关键信息包括长度信息和位置信息中的至少一种。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述工业CT图像之中所述薄壁筒形构件的壁厚像素值，包括：确定所述圆环截面的圆心位置；基于所述圆心位置，对所述圆环截面进行处理以获得所述薄壁筒形构件的内圆边界线圆和外圆边界线圆；确定所述内圆边界线圆至所述圆心位置的内圆半径像素值，并确定所述外圆边界线圆至所述圆心位置的外圆半径像素值；根据所述内圆半径像素值和所述外圆半径像素值，确定所述工业CT图像之中所述薄壁筒形构件的壁厚像素值。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述圆环截面的圆心位置，包括：在所述缺陷区域附近，对所述薄壁筒形构件的外圆边界线圆绘制第一切线和第二切线；基于所述第一切线的垂线和所述第二切线的垂线的相交点，确定所述圆环截面的圆心位置。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个关键点包括第一端点和第二端点；所述根据所述圆环截面之中的内圆和/或外圆、所述缺陷区域的多个关键点、以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的关键信息，包括：基于所述工业CT图像中的像素信息，确定所述第一端点与所述内圆和/或外圆之间的第一像素值、所述第二端点与所述内圆和/或外圆之间的第二像素值，以及所述第一端点与所述第二端点之间的第三像素值；根据所述第一像素值、所述第二像素值以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的位置信息；根据所述第三像素值以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的长度信息。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述多个关键点还包括其他关键点，所述其他关键点为所述缺陷区域之中除所述第一端点和所述第二端点之外的关键点；所述根据所述第一像素值、所述第二像素值以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的位置信息，包括：基于所述工业CT图像中的像素信息，确定所述其他关键点与所述内圆和/或外圆之间的第四像素值；根据所述第一像素值、所述第二像素值、所述第四像素值以及所述映射关系，确定所述缺陷区域的位置信息；其中，所述位置信息为缺陷区域之中各关键点距离所述内圆和/或外
圆的距离信息。6.一种基于工业CT图像的薄壁筒形构件缺陷定位装置，其特征在于，包括：第一获取模块，用于获取所述薄壁筒形构件...
【专利技术属性】
技术研发人员：李佳，闫熙，张宏，康达，马兆光，李启春，
申请(专利权)人：北京动力机械研究所，
类型：发明
国别省市：
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