一种AD采样电路及其采样方法、采样装置和家用电器制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种AD采样电路及其采样方法、采样装置和家用电器。其中，采样方法包括：在校准模式下，利用AD采样芯片对标准电压源输出的标准电压值Vref进行采样，得到标准电压采样值Nv；根据标准电压值Vref和标准电压采样值Nv确定采样修正系数，并将采样修正系数进行存储，采样修正系数用于对AD采样芯片的采样值进行修正。本发明专利技术对AD电压采样芯片采样过程中的比例换算值通过给予标准电压的方式进行了重新获取，由分压电阻以及芯片内阻导致的采样误差因此能够被修正，并且不需要外加采样补偿电路，简化了硬件电路，降低产品成本。降低产品成本。降低产品成本。

【技术实现步骤摘要】
一种AD采样电路及其采样方法、采样装置和家用电器


[0001]本专利技术属于AD采样
，尤其涉及一种AD采样电路及其采样方法、采样装置和家用电器。

技术介绍

[0002]在电压采样方面，AD采样芯片因为其电路简单，并且在一定实时性的基础上也保证了采样的分辨率而被广泛应用于各种工况下的电压采样。如图1所示，AD芯片有各自的电压采样范围限制，对需要采样的高电压V经过电阻R1、R2分压后对分压后的芯片采样电压范围内的电压进行采样，然后在软件部分对AD芯片发送的数值换算成电压值再乘以电阻分压的比例(R1+R2)/R2换算得到原高电压值。
[0003]上述过程中，负责分压的采样电阻R1、R2与采样的AD芯片U1不可能为理想元件，采样电阻R1、R2实际阻值会有误差，AD芯片差分输入端Vin+与Vin
‑
之间也会有内阻，电压采样也会因此出现偏差，且该偏差会随着采样电压的升高而增大，因此这种采样会需要有一个采样补偿的方法。
[0004]申请号为202110950744.X的专利公开了一种通过利用变压器退磁时间和续流二极管导通时间对电压采样进行补偿的一种电压采样补偿方案。申请号为201811280637.5的专利公开了一种通过MOS管、微分电路、限幅电路对电压采样电路进行补偿的方法。这些专利都是通过对采样电路添加补偿电路进行采样补偿，均需要对硬件电路进行修改，并增加元器件，增加了产品成本。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本专利技术公开了一种AD采样电路及其采样方法、采样装置和家用电器，用以解决相关技术中对采样电路添加补偿电路进行采样补偿，均需要对硬件电路进行修改的问题。
[0006]为解决上述技术问题，本专利技术第一方面提供了一种AD采样电路，AD采样电路包括AD采样芯片和多个分压电阻，多个分压电阻用于对AD采样芯片的采样电压进行分压，
[0007]在多个分压电阻的两端分别预留有第一接口和第二接口，第一接口和第二接口用于接入标准电压源，其中，标准电压源用于对AD采样芯片的采样值进行校准。
[0008]进一步可选地，多个分压电阻包括第一电阻和第二电阻，第二电阻与AD采样芯片并联，其中，
[0009]第一电阻的输入端为采样电压的输入端，第二电阻的输出端接地；
[0010]第一接口设在第一电阻的输入端，第二接口设在第二电阻的输出端。
[0011]本专利技术第二方面提供了一种用于如权利要求1或2的AD采样电路的采样方法，采样方法包括：
[0012]在校准模式下，利用AD采样芯片对标准电压源输出的标准电压值Vref进行采样，得到标准电压采样值Nv；
[0013]根据标准电压值Vref和标准电压采样值Nv确定采样修正系数，并将采样修正系数进行存储，采样修正系数用于对AD采样芯片的采样值进行修正。
[0014]进一步可选地，采用如下公式计算采样修正系数：
[0015]k＝Vref
÷
Nv；
[0016]其中，k表示采样修正系数。
[0017]进一步可选地，在进入校准模式前，采样方法还包括：
[0018]响应于校准模式指令，进入校准模式。
[0019]进一步可选地，采样方法还包括：
[0020]校准完成后，切换至非校准模式。
[0021]进一步可选地，在非校准模式下，采样方法还包括：
[0022]利用AD采样芯片对待采样电压进行采样；
[0023]根据采样修正系数对AD采样芯片的采样值进行修正，得到目标采样值。
[0024]进一步可选地，根据采样修正系数对AD采样芯片的采样值进行修正，得到目标采样值，包括：
[0025]将AD采样芯片的采样值与采样修正系数进行相乘，并将乘积作为目标采样值。
[0026]本专利技术第三方面提供了一种采样装置，包括存储器和处理器；
[0027]存储器用于存储计算机程序；
[0028]处理器，用于当执行计算机程序时，实现第二方面中任一项的采样方法。
[0029]本专利技术第四方面提供了一种家用电器，其采用第一方面的AD采样电路，或采用第二方面中任一项所述的方法，或包括第三方面的采样装置。
[0030]采用上述技术方案后，本专利技术与现有技术相比具有以下有益效果：
[0031]本专利技术对AD电压采样芯片采样过程中的比例换算值通过给予标准电压的方式进行了重新获取，由多个分压电阻以及芯片内阻导致的采样误差因此能够被修正，并且不需要外加采样补偿电路，简化了硬件电路，降低产品成本。
[0032]下面结合附图对本专利技术的具体实施方式作进一步详细的描述。
附图说明
[0033]附图作为本专利技术的一部分，用来提供对本专利技术的进一步的理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，但不构成对本专利技术的不当限定。显然，下面描述中的附图仅仅是一些实施例，对于本领域普通技术人员来说，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。在附图中：
[0034]图1是现有技术的AD采样电路的原理图。
[0035]图2是根据本专利技术一种实施例的AD采样电路的原理图。
[0036]图3是根据本专利技术一种实施例的AD采样电路的采样方法的流程示意图。
[0037]图4是根据本专利技术一种实施例的AD采样电路的采样方法的流程示意图。
[0038]图5是根据本专利技术一种实施例的AD采样电路的采样方法的流程示意图。
[0039]需要说明的是，这些附图和文字描述并不旨在以任何方式限制本专利技术的构思范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本专利技术的概念。
具体实施方式
[0040]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0041]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“接触”、“连通”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0042]本专利技术第一方面实施例提供了一种AD采样电路，结合图2，AD采样电路包括AD采样芯片U1和多个分压电阻，多个分压电阻用于对AD采样芯片U1的采样电压进行分压，
[0043]在多个分压电阻的两端分别预留有第一接口和第二接口，第一接口和第二接口用于接入标准电压源，其中，标准电压源用于对AD采样芯片U1的采样值进行校准。
[0044]在本实施例中标准电压源优选为高精度电压源，图2中采样电压Vref就是高精度电压源的输出电压。
[0045]进一步可选地，多个分压电阻本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种AD采样电路，所述AD采样电路包括AD采样芯片和多个分压电阻，所述多个分压电阻用于对所述AD采样芯片的采样电压进行分压，其特征在于，在所述多个分压电阻的两端分别预留有第一接口和第二接口，所述第一接口和所述第二接口用于接入标准电压源，其中，所述标准电压源用于对所述AD采样芯片的采样值进行校准。2.根据权利要求1所述的AD采样电路，其特征在于，所述多个分压电阻包括串联的第一电阻和第二电阻，所述第二电阻与所述AD采样芯片并联，其中，所述第一电阻的输入端为所述采样电压的输入端，所述第二电阻的输出端接地；所述第一接口设在所述第一电阻的输入端，所述第二接口设在所述第二电阻的输出端。3.一种用于如权利要求1或2所述的AD采样电路的采样方法，其特征在于，所述采样方法包括：在校准模式下，利用AD采样芯片对标准电压源输出的标准电压值Vref进行采样，得到标准电压采样值Nv；根据所述标准电压值Vref和所述标准电压采样值Nv确定采样修正系数，并将所述采样修正系数进行存储，所述采样修正系数用于对所述AD采样芯片的采样值进行修正。4.根据权利要求3所述的采样方法，其特征在于，采用如下公式计算所述采样修正系数：k＝Vref
÷
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【专利技术属性】
技术研发人员：经琦，刘荣翔，许凤霞，于力奇，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：