多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法技术方案

本发明专利技术提供了一种多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法。所述多晶硅破碎筛分系统包括破碎机以及与破碎机连通的筛分机，所述多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法包括在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，执行以下至少一项：去除所述破碎机和所述筛分机的磁性粉末；清洗所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板以除去金属杂质，直至所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板的表面金属杂质含量均小于或等于预设重量。本发明专利技术的方案能够快速去除多晶硅破碎筛分系统的金属杂质，从而加快多晶硅破碎筛分系统的投产效率。统的投产效率。统的投产效率。

【技术实现步骤摘要】
多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法


[0001]本专利技术涉及多晶硅破碎
，特别涉及一种多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法。

技术介绍

[0002]硅料中的金属杂质，特别是过渡金属杂质，无论是以单个原子形式出现，还是以沉淀形式出现，都会影响太阳能电池的转换效率。如果硅料中所含金属杂质超标，还会导致多单晶或铸锭异常，甚至还会引起电阻率的较大波动，从而严重影响经济效益。鉴于此，需要在多晶硅破碎筛分系统投产之前，对系统进行调试和检测，以除去系统中残留的金属杂质，防止多晶硅在破碎筛选过程中被金属杂质污染。然而，目前对金属杂质的产生源头清理不彻底，产尘点不清晰，导致系统的金属杂质去除效率低，从而在系统投产前浪费大量时间，严重影响投产进度。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是提供一种多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，用以解决现有技术中多晶硅破碎筛分系统的金属杂质去除效率低，影响投产进度的问题。
[0004]为达到上述目的，本专利技术实施例提供一种多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，所述多晶硅破碎筛分系统包括破碎机以及与破碎机连通的筛分机，所述方法包括在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，执行以下至少一项：
[0005]去除所述破碎机和所述筛分机的磁性粉末；
[0006]清洗所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板以除去金属杂质，直至所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板的表面金属杂质含量均小于或等于预设重量。
[0007]可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，所述多晶硅筛分系统还包括除尘装置，所述除尘装置用于去除所述筛分机内部的灰尘，在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，所述方法还包括：
[0008]将所述除尘装置的风管布置在与所述多晶硅破碎筛分系统的出料口相距预设距离处。
[0009]可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，所述方法还包括在所述多晶硅破碎筛分系统完成安装的情况下，执行以下至少一项：
[0010]将所述筛分机的除尘口的风速设置为预设速度；
[0011]使用多晶硅物料清洗所述多晶硅破碎筛分系统。
[0012]可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，在所述使用多晶硅物料清洗所述多晶硅破碎筛分系统之后，所述方法还包括：
[0013]从所述多晶硅破碎筛分系统的出料口提取多晶硅样本，检测所述多晶硅样本的金属杂质中各元素的含量；
[0014]基于所述多晶硅样本的金属杂质中各元素的含量，对所述多晶硅破碎筛分系统进
行清洗。
[0015]可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，所述去除所述破碎机的磁性粉末，包括以下至少一项：
[0016]采用磁铁去除所述破碎机的机架的磁性粉末；
[0017]采用磁铁去除所述破碎机的破碎机构的磁性粉末；
[0018]采用吸尘器去除所述破碎机的切割机构的磁性粉末。
[0019]可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，所述去除所述筛分机的磁性粉末，包括：
[0020]清理所述筛分机内部的非硅异物；
[0021]采用磁铁去除所述筛分机内部的磁性粉末。
[0022]可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，所述清洗所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板以除去金属杂质，包括：
[0023]将所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板分别放入超纯水超声波机中进行清洗以除去金属杂质。
[0024]可选的，所述的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其中，在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，所述方法还包括以下至少一项：
[0025]对所述破碎机的颚板进行打磨以除去油污；
[0026]清除所述破碎机的防护罩的表面杂质。
[0027]本专利技术的上述技术方案的有益效果如下：
[0028]上述方案中，通过在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，执行以下至少一项：去除所述破碎机和所述筛分机的磁性粉末；清洗所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板以除去金属杂质，直至所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板的表面金属杂质含量均小于或等于预设重量，从而节约调试时间，使多晶硅破碎筛分系统可以快速投产，提高投产效率。
附图说明
[0029]图1为本专利技术实施例提供的多晶硅破碎筛分系统的结构示意图；
[0030]图2为本专利技术实施例提供的多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法的流程示意图。
[0031]附图标记说明：
[0032]100
‑
破碎机；
[0033]102
‑
颚板；
[0034]200
‑
筛分机；
[0035]201
‑
筛板；
[0036]202
‑
除尘口；
[0037]203
‑
出料口；
[0038]300
‑
振动器；
[0039]301
‑
重量传感器。
具体实施方式
[0040]下面将参照附图更详细地描述本专利技术的示例性实施例。虽然附图中显示了本专利技术
的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本专利技术而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本专利技术，并且能够将本专利技术的范围完整的传达给本领域的技术人员。
[0041]为使本领域技术人员能够更好地理解本专利技术实施例，先进行如下说明。
[0042]图1表示多晶硅破碎筛分系统的结构示意图，该多晶硅破碎筛分系统包括破碎机100、与破碎机100连通的筛分机200以及设置在筛分机200的出料口203下方的振动器300。其中，破碎机100包括用于挤压多晶硅物料的颚板101；筛分机200包括用于筛分多晶硅物料的筛板201；筛分机上间隔设置有除尘口202，利用除尘装置的风管对筛分机200的内部进行除尘，消除多晶硅物料筛分过程中产生的粉尘，避免其扩散至空气中，对工作人员带来危害；振动器300设置有重量传感器301，重量传感器301可以识别出振动器300上破碎筛分的多晶硅物料的重量，从而振动器300提供不同振动频率的振动。
[0043]如图2所示，本专利技术的实施例提供了一种多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，包括如下步骤：
[0044]S201，在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，执行以下至少一项：
[0045]去除所述破碎机和所述筛分机的磁性粉末。
[0046]可选的，去除所述破碎机的磁性粉末包括以下至少一项：
[0047]采用磁铁去除所述破碎机的机架的磁性粉末；
[0048]采用磁铁去除所述破碎机的破碎机构的磁性粉末；
[0049]采用吸尘器去除所述破碎机的切割机构的磁性粉末。
[0050]为了使破碎机的机架上附着的磁性粉末达到最佳的去除效果，采用强磁铁去除。同样，为了使破碎机的破碎机构(即破碎机头)上附着的磁性本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多晶硅破碎筛分系统的金属处理方法，其特征在于，所述多晶硅破碎筛分系统包括破碎机以及与破碎机连通的筛分机，所述方法包括在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，执行以下至少一项：去除所述破碎机和所述筛分机的磁性粉末；清洗所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板以除去金属杂质，直至所述破碎机的颚板和所述破碎机的筛板的表面金属杂质含量均小于或等于预设重量。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多晶硅筛分系统还包括除尘装置，所述除尘装置用于去除所述筛分机内部的灰尘，在所述多晶硅破碎筛分系统安装过程中，所述方法还包括：将所述除尘装置的风管布置在与所述多晶硅破碎筛分系统的出料口相距预设距离处。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括在所述多晶硅破碎筛分系统完成安装的情况下，执行以下至少一项：将所述筛分机的除尘口的风速设置为预设速度；使用多晶硅物料清洗所述多晶硅破碎筛分系统。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述使用多晶硅物料清洗所述多晶硅破碎筛分系统之后，所述方法还包括：从所述多晶...

【专利技术属性】
技术研发人员：高向阳，曲雁鹏，马晓龙，杨帅，张万宝，邱召龙，
申请(专利权)人：新特硅基新材料有限公司，
类型：发明
国别省市：