表面检查装置、存储介质及表面检查方法制造方法及图纸

一种表面检查装置，其具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，处理由所述摄像器件拍摄的图像，计算表示所述表面的品质的数值，所述处理器使包含确定有助于计算所述数值的部分的位置的标识的所述图像和该数值显示在显示器件上。值显示在显示器件上。值显示在显示器件上。

【技术实现步骤摘要】
表面检查装置、存储介质及表面检查方法


[0001]本专利技术涉及一种表面检查装置、存储介质及表面检查方法。

技术介绍

[0002]目前，在各种产品中，使用将合成树脂成型而成的组件(以下称为“成型品”)。另一方面，有时在成型品的表面显现视觉上能够观察的不良。这种不良包括无意形成的凹陷即“缩痕”、在熔融的树脂合流的部分形成的“焊缝”等。并且，在表面特意形成凹凸的纹理加工的情况下，有时也会显现与设想的质感的差异。质感根据颜色、光泽、凹凸的复合性因素而变化。
[0003]专利文献1：日本特开2009
‑
264882号公报
[0004]在检查物体表面的品质的装置中包括用一个数值显示所检查的部分的品质的装置。定量化的数值与感官检查的情况不同，客观性高。另一方面，仅通过显示数值无法得知有助于计算数值的主要部分。因此，工作人员无法确认是自身所关注的部分用于数值的计算，还是自身未设想的部分用于数值的计算。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于，与表示表面的品质的数值和有助于计算的部分的关系不明确的情况不同，能够确认有助于计算表示表面的品质的数值的部分是否与工作人员所关注的部分一致。
[0006]方案1所述的专利技术为表面检查装置，其具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，处理由所述摄像器件拍摄的图像，计算表示所述表面的品质的数值，所述处理器使包含确定有助于计算所述数值的部分的位置的标识的所述图像和该数值显示在显示器件上。
[0007]方案2所述的专利技术在方案1所述的表面检查装置中，确定所述位置的标识赋予所述部分与其他部分的边界。
[0008]方案3所述的专利技术在方案2所述的表面检查装置中，确定所述位置的标识是包围所述部分的周围的框线。
[0009]方案4所述的专利技术在方案1所述的表面检查装置中，在存在复数个所述数值的候补的情况下，所述处理器显示确定与最大的数值对应的所述部分的位置的所述标识。
[0010]方案5所述的专利技术在方案1所述的表面检查装置中，在存在复数个所述数值的候补的情况下，所述处理器显示确定与各候补对应的所述部分的位置的所述标识。
[0011]方案6所述的专利技术在方案5所述的表面检查装置中，在显示复数个所述标识的情况下，所述处理器将对应的所述数值的大小的顺序与该标识的显示形式建立对应关联。
[0012]方案7所述的专利技术在方案5所述的表面检查装置中，在显示复数个所述标识的情况下，所述处理器按照对应的所述数值的大小顺序切换所述数值和该标识的显示。
[0013]方案8所述的专利技术在方案1至7中任一项所述的表面检查装置中，所述处理器将所
述数值与对应的所述标识排列显示。
[0014]方案9所述的专利技术在方案1至8中任一项所述的表面检查装置中，在接受了针对所述图像的区域的指定的情况下，所述处理器将针对该区域计算出的所述数值与对应的该区域排列显示。
[0015]方案10所述的专利技术在方案1至9中任一项所述的表面检查装置中，在与所述部分对应的所述图像内的亮度差大于预先设定的阈值的情况下，所述处理器通知用户。
[0016]方案11所述的专利技术在方案1至9中任一项所述的表面检查装置中，当检查开始时，所述处理器在所述图像上显示所述数值和所述标识。
[0017]方案12所述的专利技术在方案1至9中任一项所述的表面检查装置中，当接受指示开始检查的操作时，所述处理器在所述图像上显示所述数值和所述标识。
[0018]方案13所述的专利技术在方案1至12中任一项所述的表面检查装置中，其特征在于，装置主体能够携带。
[0019]方案14所述的专利技术为存储介质，其存储有用于使对用摄像器件拍摄作为检查对象的物体表面而得到的图像进行处理的计算机实现如下功能的程序：计算表示所述表面的品质的数值的功能；及使包含确定有助于计算所述数值的部分的位置的标识的所述图像和该数值显示在显示器件上的功能。
[0020]方案15所述的专利技术为表面检查方法，其包括如下步骤：计算表示表面的品质的数值；及使包含确定有助于计算所述数值的部分的位置的标识的图像和该数值显示在显示器件上。
[0021]专利技术效果
[0022]根据本专利技术的第1方案，与表示表面的品质的数值和有助于计算的部分的关系不明确的情况不同，能够确认有助于计算表示表面的品质的数值的部分是否与工作人员所关注的部分一致。
[0023]根据本专利技术的第2方案，能够容易地确认有助于计算数值的部分。
[0024]根据本专利技术的第3方案，能够同时确认有助于计算数值的部分的图像的内容和位置。
[0025]根据本专利技术的第4方案，即使在存在复数个表示表面的品质的数值的候补的情况下，也能够确认与显示在画面上的数值对应的部分的位置。
[0026]根据本专利技术的第5方案，在存在复数个表示表面的品质的数值的候补的情况下，能够确认与品质相关的部分的位置。
[0027]根据本专利技术的第6方案，能够确认与表示表面的品质的数值的大小的关系对应的部分的位置。
[0028]根据本专利技术的第7方案，能够确认与表示表面的品质的数值对应的部分的位置。
[0029]根据本专利技术的第8方案，能够容易地确认与表示表面的品质的数值对应的部分的关系。
[0030]根据本专利技术的第9方案，对于用户所关注的区域，也能够在画面上确认表示品质的数值。
[0031]根据本专利技术的第10方案，能够要求用户确认所计算出的数值和有助于计算的部分的位置。
[0032]根据本专利技术的第11方案，能够提高检查时的操作性。
[0033]根据本专利技术的第12方案，能够提高检查时的操作性。
[0034]根据本专利技术的第13方案，即使作为检查对象的物体表面和表面检查装置所拍摄的范围不确定，也能够提高表面的品质检查的精度。
[0035]根据本专利技术的第14方案，与表示表面的品质的数值和有助于计算的部分的关系不明确的情况不同，能够确认有助于计算表示表面的品质的数值的部分是否与工作人员所关注的部分一致。
[0036]根据本专利技术的第15方案，与表示表面的品质的数值和有助于计算的部分的关系不明确的情况不同，能够确认有助于计算表示表面的品质的数值的部分是否与工作人员所关注的部分一致。
附图说明
[0037]根据以下附图，对本专利技术的实施方式进行详细叙述。
[0038]图1是对在实施方式1中设想的表面检查装置的使用例进行说明的图；
[0039]图2是对在检查对象的表面显现的缺陷的例子进行说明的图，图2的(A)表示缩痕的例子，图2的(B)表示焊缝的例子；
[0040]图3是对在实施方式1中使用的表面检查装置的硬件结构的一例进行说明的图；
[0041]图4是对实施方式1的表面检查装置的光学系统的结构例进行说明的图，图4的(A)示意地表示表面检查装置的框体的内部结构，图4的(B)表示在检查时按压在检查对象的表面上的开口部的结构；
[0042]图5本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种表面检查装置，其具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，处理由所述摄像器件拍摄的图像，计算表示所述表面的品质的数值，所述处理器使包含确定有助于计算所述数值的部分的位置的标识的所述图像和所述数值显示在显示器件上。2.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，确定所述位置的标识赋予所述部分与其他部分的边界。3.根据权利要求2所述的表面检查装置，其中，确定所述位置的标识是包围所述部分的周围的框线。4.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，在存在复数个所述数值的候补的情况下，所述处理器显示确定与最大的数值对应的所述部分的位置的所述标识。5.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，在存在复数个所述数值的候补的情况下，所述处理器显示确定与各候补对应的所述部分的位置的所述标识。6.根据权利要求5所述的表面检查装置，其中，在显示复数个所述标识的情况下，所述处理器将对应的所述数值的大小的顺序与所述标识的显示形式建立对应关联。7.根据权利要求5所述的表面检查装置，其中，在显示复数个所述标识的情况下，所述处理器按照对应的所述数值的大小顺序切换所述数值和所述标识的显示。8.根据权利要求1至7中任一项所述的表面检查装置，其中，所述处理器将所述数值与对应的所述标识...

【专利技术属性】
技术研发人员：平松崇，田崎海渡，相川清史，宇野美穂，市川裕一，大贯宏子，桑田良隆，
申请(专利权)人：富士胶片商业创新有限公司，
类型：发明
国别省市：