一种基于铂电阻的内胆式双滞止罩总温探针头部制造技术

技术编号:35854053 阅读:13 留言:0更新日期:2022-12-07 10:40
本发明专利技术涉及总温测试技术领域,具体涉及一种基于铂电阻传感器、采用内胆式双滞止罩的总温探针头部。为了解决现有总温探针头部测量精度不足、不敏感角范围窄的问题,采用铂电阻替代热电偶作为感温元件,传感器精度更高;采用内、外两层滞止罩,内层滞止罩形似内胆,沿气流流入的方向,内壁按双纽线收缩,外壁按直线段收缩,并依靠前端的安装环与外层滞止罩顶面连接定位;内胆式双滞止罩的结构使得外层滞止腔内的气流能够对传感器根部和内层滞止罩壁面进行充分加热,减小导热和辐射误差;相较于单层滞止罩,双层滞止罩内流速度更低,气流的滞止效果更好,能够显著减小速度误差;进口采用双纽线倒角型式,能够有效拓宽总温测量的不敏感角范围。感角范围。感角范围。

【技术实现步骤摘要】
一种基于铂电阻的内胆式双滞止罩总温探针头部


[0001]本专利技术涉及总温测试
,特别涉及一种基于铂电阻传感器、采用内胆式双层滞止罩的总温探针头部。

技术介绍

[0002]对于航空发动机的压气机部件,等熵效率是重要的性能参数,其能够衡量压气机的先进性和经济性。通常在压气机部件实验中,采用温升法或扭矩法测量等熵效率,对于单级压气机等熵效率,只能采用温升法进行测量。温升法测量压气机等熵效率的计算公式如下:
[0003][0004]其中η
c
表示压气机等熵效率,T
t1
和T
t2
分别表示压气机进、出口总温,π
c
表示压气机总压比,k表示比热比。对于温升法测量等熵效率而言,进出口温升越小,精确测量等熵效率的难度越大,其主要原因在于进出口温升相对测量误差较大。
[0005]总温探针测量气流总温的性能通常采用总温恢复系数r来评价,其定义为:
[0006][0007]T
g
表示探针测得温度,T
t
表示来流总温,T
s
表示来流静温,由于气流绕流总温探针时存在一定的滞止效应,却又不能完全滞止,而且受限于传感器精度、支杆导热和辐射作用的影响,恒有T
t
>T
g
>T
s
成立。由此可知,探针测得温度与来流总温越接近,总温恢复系数越接近于1,总温探针的性能越好。
[0008]通常采用热电偶总温探针进行压气机流场总温测量,其主要存在三个方面的缺陷:其一,热电偶传感器精度较差;其二,在气流速度较高时,常规总温探针采用的单层滞止罩难以避免较大的速度误差,并且在气流角增大时总温恢复系数大大降低;其三,总温测量虽然在与外界环境温度差别不大的流场中进行,但仍存在一定的导热误差和辐射误差。因此,急需发展能够在小温升压气机性能测试中进行总温高精度测量、具有宽不敏感角范围的总温探针头部。

技术实现思路

[0009]针对现有技术上的缺陷,本专利技术的核心目的在于,提供一种基于铂电阻传感器、采用内胆式双滞止罩的总温探针头部,以解决现有总温探针头部测量精度不足、不敏感角范围窄的问题。
[0010]为了解决上述技术问题,采用铂电阻替代热电偶作为感温元件,传感器精度更高;相应地改进滞止罩的结构,采用内、外两层滞止罩,内层滞止罩形似内胆,沿气流流入的方向,内壁按双纽线收缩,外壁按直线段收缩,并依靠前端的安装环与外层滞止罩顶面连接定位,安装较为方便;气流由内层滞止罩进口流入内层滞止室并与传感器进行换热,然后由内
层滞止罩根部的出气孔流到外层滞止室内,最后由外层滞止罩顶部的出气孔流出,在这一过程中外层滞止腔内的气流能够对传感器根部和内层滞止罩壁面进行充分加热,减小导热和辐射误差;相较于单层滞止罩,双层滞止罩内流速度更低,气流的滞止效果更好,能够显著减小速度误差;进口采用双纽线倒角型式,能够有效拓宽总温测量的不敏感角范围。其特征在于:由铂电阻(1)、内层滞止罩(2)和外层滞止罩(3)组成;铂电阻(1)作为总温探针的感温元件,可根据具体环境选择铠装或裸装的型式;内层滞止罩(2)前端开设进气口(4),加工有双纽线型式的倒角;内层滞止罩(2)侧壁靠近底面的位置沿周向均匀开设2个或多个内出气孔(5);外层滞止罩(3)侧壁靠近顶面的位置沿周向均匀开设2个或多个外出气孔(6)。
[0011]优选地,外层滞止罩(3)外径为其长度的11/16至13/16,外层滞止罩(3)内径为其外径的19/24至7/8。
[0012]优选地,外出气孔(6)沿周向均匀布置的数量为2至4个,外出气孔(6)直径为外层滞止罩(3)外径的1/8至5/24,外出气孔(6)轴线与外层滞止罩(3)顶面的距离为外层滞止罩(3)长度的3/32至5/32。
[0013]优选地,内层滞止罩(2)内壁双纽线收缩段起始直径与外层滞止罩(3)外径相同,内层滞止罩(2)内壁双纽线收缩段长度为外层滞止罩(3)长度的7/20至9/20,内层滞止罩(2)内壁平直段直径为外层滞止罩(3)外径的7/16至9/16,内层滞止罩(2)内壁平直段长度为外层滞止罩(3)长度的11/20至13/20。
[0014]优选地,内层滞止罩(2)外壁安装环与外层滞止罩(3)壁面齐平,安装环长度为外层滞止罩(3)长度的3/20至1/4,内层滞止罩(2)外壁直线收缩段的长度为外层滞止罩(3)长度的3/20至1/4,内层滞止罩(2)外壁平直段的直径为外层滞止罩(3)外径的5/8至17/24。
[0015]优选地,内出气孔(5)沿周向均匀布置的数量为2至4个,内出气孔(5)直径为内层滞止罩(2)内壁平直段直径的1/4至5/12,内出气孔(5)轴线距离内层滞止罩(4)内壁底面的距离为内层滞止罩(2)内壁平直段长度的1/8至5/24。
[0016]优选地,铂电阻(1)伸入滞止罩内的长度为外层滞止罩(3)长度的19/24至7/8,铂电阻(1)的直径为外层滞止罩(3)外径的7/24至3/8。
[0017]与现有技术相比,本专利技术的一种基于铂电阻的内胆式双滞止罩总温探针头部,由于采用铂电阻和双层滞止罩,与现有的采用热电偶和单层滞止罩的总温探针相比,有效提高传感器精度,减小速度误差、导热误差和辐射误差,总温测量精度更高;内层滞止罩进口采用双纽线倒角型式,有效拓宽了总温探针的气流不敏感角范围,能够在较大的气流角范围内使得总温恢复系数保持基本稳定。
附图说明
[0018]图1是本专利技术实施例的侧视图。
[0019]图2是本专利技术实施例的俯视图的半剖面图。
[0020]图3是本专利技术实施例的内层滞止罩出气孔中心线所在面的剖面图。
[0021]图4是本专利技术实施例的外层滞止罩出气孔中心线所在面的剖面图。
[0022]附图中标记及相应零部件名称:1

铂电阻;2

内层滞止罩;3

外层滞止罩;4

进气口;5

内出气孔;6

外出气孔。
具体实施方式
[0023]针对现有技术上的缺陷,本专利技术的核心目的在于,提供一种基于铂电阻传感器、采用内胆式双滞止罩的总温探针头部,以解决现有总温探针头部测量精度不足、不敏感角范围窄的问题。
[0024]现结合说明书附图,来详细说明本专利技术所提供的一种基于铂电阻的内胆式双滞止罩总温探针头部。
[0025]图1、图2、图3、图4为本专利技术实施例的结构示意图,一种基于铂电阻的内胆式双滞止罩总温探针头部,其特征在于,由铂电阻(1)、内层滞止罩(2)和外层滞止罩(3);铂电阻(1)作为总温探针的感温元件,可根据具体环境选择铠装或裸装的型式;内层滞止罩(2)前端开设进气口(4),加工有双纽线型式的倒角;内层滞止罩(2)侧壁靠近底面的位置沿周向均匀开设2个内出气孔(5);外层滞止罩(3)侧壁靠近顶面的位置沿周向均匀本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于铂电阻的内胆式双滞止罩总温探针头部,其特征在于:由铂电阻(1)、内层滞止罩(2)和外层滞止罩(3)组成;铂电阻(1)作为总温探针的感温元件,可根据具体环境选择铠装或裸装的型式;内层滞止罩(2)前端开设进气口(4),加工有双纽线型式的倒角;内层滞止罩(2)侧壁靠近底面的位置沿周向均匀开设2个或多个内出气孔(5);外层滞止罩(3)侧壁靠近顶面的位置沿周向均匀开设2个或多个外出气孔(6);所述的一种基于铂电阻的内胆式双滞止罩总温探针头部外层滞止罩(3)外径为其长度的11/16至13/16,外层滞止罩(3)内径为其外径的19/24至7/8;所述的一种基于铂电阻的内胆式双滞止罩总温探针头部外出气孔(6)沿周向均匀布置的数量为2至4个,外出气孔(6)直径为外层滞止罩(3)外径的1/8至5/24,外出气孔(6)轴线与外层滞止罩(3)顶面的距离为外层滞止罩(3)长度的3/32至5/32;所述的一种基于铂电阻的内胆式双滞止罩总温探针头部内层滞止罩(2)内壁双纽线收缩段起始直径与外层滞止罩(3)外径相同,内层滞止罩(2)内壁双纽线收缩段长度为外层滞止罩(3)长度的7/20至9/20,内层滞止罩(2)内壁平直段直径为外层滞止罩(3)外径的7/16至9/16,内层滞止罩(2)内壁平直段长度为外层滞止罩(3)长度的11/20至13/20;所述的一种基于铂电阻的内胆式双滞止罩总温探针头部内层滞止罩(2)外壁安装环与外层滞止罩(3)顶面齐平,安装环长度为外层滞止罩...

【专利技术属性】
技术研发人员:马宏伟李赫
申请(专利权)人:北京航空航天大学
类型:发明
国别省市:

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