一种阵列天线多探头多波束测试装置制造方法及图纸

技术编号:35850200 阅读:63 留言:0更新日期:2022-12-07 10:33
本实用新型专利技术提供一种阵列天线多探头多波束测试装置,所述装置包括时序控制器、多探头阵列、开关矩阵、扫描架和采样器;多探头阵列用于与待测阵列天线相对间隔设置;扫描架固定设置有多探头阵列,扫描架用于驱动多探头阵列相对待测阵列天线移动;开关矩阵的第一端与采样器连接,开关矩阵的第二端选择性的与多探头阵列连接;时序控制器分别与采样器、扫描架的扫描驱动器以及待测阵列天线的波束控制器电连接。该装置大幅提升了阵列天线的多波束测试效率和测试任务量;具有集成化程度高,精度高,稳定性好,体积小且重量轻的优点;该装置配置灵活,具有较强的通用性与可扩展性,可推广应用到不同制式、不同口径的阵列天线在不同测试场下的测试需求。下的测试需求。下的测试需求。

【技术实现步骤摘要】
一种阵列天线多探头多波束测试装置


[0001]本技术属于天线测试系统
,具体涉及一种阵列天线多探头多波束测试装置。

技术介绍

[0002]随着阵列天线技术的快速发展,尤其相控阵天线技术在军民用雷达、5G通信、电子战、导航等领域获得了广泛应用,已经成为现代天线技术产品发展的主流方向,天线的设计离不开天线测量技术。
[0003]传统的单探头一次扫描测得单波束的测试方式显然已无法满足相控阵天线多波束的测试效率需求。如何实现相控阵天线测试的自动化控制,快速提高测试效率,是解决相控阵天线测试过程中的关键问题。

技术实现思路

[0004]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提供一种阵列天线多探头多波束测试装置。
[0005]本技术提供一种阵列天线多探头多波束测试装置,所述装置包括时序控制器、多探头阵列、开关矩阵、扫描架和采样器;
[0006]所述多探头阵列用于与待测阵列天线相对间隔设置;
[0007]所述扫描架固定设置有所述多探头阵列,所述扫描架用于驱动所述多探头阵列相对所述待测阵列天线移动;<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阵列天线多探头多波束测试装置,其特征在于,所述装置包括时序控制器、多探头阵列、开关矩阵、扫描架和采样器;所述多探头阵列用于与待测阵列天线相对间隔设置;所述扫描架固定设置有所述多探头阵列,所述扫描架用于驱动所述多探头阵列相对所述待测阵列天线移动;所述开关矩阵的第一端与所述采样器连接,所述开关矩阵的第二端选择性的与所述多探头阵列连接;所述时序控制器分别与所述采样器、所述扫描架的扫描驱动器以及所述待测阵列天线的波束控制器电连接;其中,所述时序控制器,用于根据接收到的测试参数生成多组时序信号,以在所述扫描架移动至各测试位置时,利用对应组所述时序信号同步触发所述开关矩阵进行探头通道切换和所述波束控制器进行波束切换,并控制所述采样器对所述波束进行采样,以完成多波束测试。2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述扫描架包括底座、平移驱动机构和竖直驱动机构;所述平移驱动机构固定于所述底座,所述竖直驱动机构可移动地设置在所述平移驱动机构上,所述竖直驱动机构设置有所述多探头阵列。3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述扫描架朝向所述待测阵列天线的一侧设置有吸波...

【专利技术属性】
技术研发人员:苏洋宫长波申静雷奥陈阳李峰杨奎
申请(专利权)人:南京纳特通信电子有限公司
类型:新型
国别省市:

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