一种微波信号测试系统、方法、通信设备技术方案

技术编号:46585616 阅读:1 留言:0更新日期:2025-10-10 21:22
本发明专利技术涉及信号处理技术领域,特别是一种微波信号测试系统、方法、通信设备。微波信号测试系统包括:激光器用于生成原始光信号;集成光学电场传感器用于接收待测微波信号,基于待测微波信号对原始光信号进行调制获取调制光信号;测试终端包括分光器以及连接分光器的第一处理模块和第二处理模块;分光器用于将调制光信号分为第一光信号和第二光信号;第一处理模块用于接收第一光信号,生成第一采样数字信号;第二处理模块用于接收第二光信号,生成第二采样数字信号;现场可编程门阵列用于基于第一采样数字信号控制原始光信号的波长,基于第二采样数字信号进行分析,获取待测微波信号的微波参数。本发明专利技术能够提升微波信号探测结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及信号处理,特别是一种微波信号测试系统、方法、通信设备


技术介绍

1、随着微波技术的快速发展,传统的微波信号测试方法逐渐暴露出诸多问题,如传输损耗大、动态范围小、抗干扰能力弱等。这些问题严重制约了微波信号测试的准确性和效率,在高功率微波(hpm)信号测试领域尤为突出。传统的"天线接收+晶体管检波"方法由于测量天线体积大、天线方向性强、频率范围窄、金属结构对被测场扰动强,会干扰测试结果,导致检测结果不准确。


技术实现思路

1、本专利技术实施例提供一种微波信号测试系统、方法、通信设备,以解决微波信号检测结果不准确的问题。

2、本专利技术公开了一种微波信号测试系统包括:

3、激光器,用于生成原始光信号;

4、集成光学电场传感器,与所述激光器连接,用于接收待测微波信号,并基于所述待测微波信号对所述原始光信号进行调制获取调制光信号;

5、测试终端,与所述集成光学电场传感器通过光纤连接,包括分光器以及连接所述分光器的第一处理模块和第二处理模块;

6本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种微波信号测试系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的微波信号测试系统,其特征在于,所述集成光学电场传感器包括电场天线、调制电极和电光调制器,所述电场天线和所述调制电极为金属材料制成,其余组件为非金属材料制成。

3.根据权利要求2所述的微波信号测试系统,其特征在于,所述集成光学电场传感器输出的所述调制光信号光强与半电压的关系为:

4.根据权利要求1所述的微波信号测试系统,其特征在于,所述第一处理模块包括连接的第一光电转换器和第一采样器;

5.根据权利要求4所述的微波信号测试系统,其特征在于,所述第一处理模块还包括信号调制器;...

【技术特征摘要】

1.一种微波信号测试系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的微波信号测试系统,其特征在于,所述集成光学电场传感器包括电场天线、调制电极和电光调制器,所述电场天线和所述调制电极为金属材料制成,其余组件为非金属材料制成。

3.根据权利要求2所述的微波信号测试系统,其特征在于,所述集成光学电场传感器输出的所述调制光信号光强与半电压的关系为:

4.根据权利要求1所述的微波信号测试系统,其特征在于,所述第一处理模块包括连接的第一光电转换器和第一采样器;

5.根据权利要求4所述的微波信号测试系统,其特征在于,所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员:苏洋李荣明杨奎陈明福
申请(专利权)人:南京纳特通信电子有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1