【技术实现步骤摘要】
一种应用于薄片涂层厚度检测的检测仪结构
[0001]本技术涉及涂层厚度红外检测
,尤其涉及一种应用于薄片涂层厚度检测的检测仪结构。
技术介绍
[0002]涂覆涂层的铝箔是一种广泛使用的包装材料。铝箔涂覆有机涂层材料生产过程中,需要实时测量和控制铝箔表面涂层的厚度。
[0003]目前常用的测量方法是称重法:取面积1m2的铝箔,用天平称出涂覆有机涂层前后的质量增量,可以得到单位面积的涂层涂覆量厚度(g/m2)。
[0004]现有方法测量速度慢、效率低,不便于在生产线上连续测量,难以通过厚度的实时测量进行涂层厚度的及时反馈控制。
技术实现思路
[0005]鉴于以上问题,本技术提供一种应用于薄片涂层厚度检测的检测仪结构。
[0006]为了达到上述专利技术目的,本技术采用的技术方案如下:
[0007]提供一种应用于薄片涂层厚度检测的检测仪结构,包括架体、安装座和安装盒,架体包括水平的横梁,安装座水平滑动设置在横梁上,安装盒设置在安装座上,安装盒内设置有光源、调整组件和光电探测器,安装盒 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种应用于薄片涂层厚度检测的检测仪结构,其特征在于:包括架体(1)、安装座(2)和安装盒(3),所述架体(1)包括水平的横梁(11),所述安装座(2)水平滑动设置在横梁(11)上,所述安装盒(3)设置在安装座(2)上,所述安装盒(3)内设置有光源(31)、调整组件(32)和光电探测器(33),所述安装盒(3)的外壁上间隔开设有光线出口(34)和光线入口(35),所述光源(31)发出的光线依次经过光线出口(34)、待测平面(5)、光线入口(35)和光电探测器(33),所述调整组件(32)用于对光源(31)发出的光线进行调制。2.根据权利要求1所述的一种应用于薄片涂层厚度检测的检测仪结构,其特征在于,所述调整组件(32)包括转盘片(321)和驱动源(322),所述转盘片(321)转动设置在安装盒(3)内,所述转盘片(321)的盘面上沿转盘片(321)的周向间隔嵌设有一个用于透过涂层高吸收率的特征谱线红外光的滤光片(323)和一个用于透过涂层低吸收率的特征谱线红外光的滤光片(323),所述驱动源(322)固定设置在安装盒(3)内,所述驱动源(322)用于驱使转盘片(321)转动。3.根据权利要求1所述的一种应用于薄片涂层厚度检测的...
【专利技术属性】
技术研发人员:张国正,
申请(专利权)人:绵阳海天新测控技术有限公司,
类型:新型
国别省市:
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