一种全自动光学精密测量设备的自动上料机构制造技术

本发明专利技术公开了一种全自动光学精密测量设备的自动上料机构，属工业精密测量设备技术领域，其特征在于：自动上料机构的下部放置有两辆相同上料车，上料车上有多层料盘架，在多层料盘架开口处设有从多层料盘架上取出或放入料盘的料盘转移机构，料盘转移机构具有横向移动装置（X轴向）、纵向移动装置（Y轴向）和垂直移动装置（Z轴向），纵向移动装置上设有吸盘，吸盘吸住料盘进行取放，本发明专利技术简化了自动上料机构的结构，实现了连续不间断的上料，提高自动检测效率。测效率。测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种全自动光学精密测量设备的自动上料机构


[0001]本专利技术涉及一种全自动光学精密测量设备的自动上料机构，属工业精密测量设备


技术介绍

[0002]中国专利公开号：CN113245212A《一种全自动光学精密测量设备》提供了一种自动上料、自动移料、一键式测量仪、自动分拣、自动下料的精密五金件的全自动光学精密测量设备的技术方案，实现了自动上下料和自动分拣功能，但是自动上料机构的上料车只能放置一层装载待测工件的料盘，而且需要将空料盘放置到另一个下料车上，续料的时候需要将上料车和下料车同时拉出将工件装盘，这时属于断料时间，无法真正实现连续的上料，影响测量效率。

技术实现思路

[0003]本专利技术的专利技术目的就是为了解决以上自动上料机构的断料问题。
[0004]为实现以上目的，本专利技术采用的技术方案如下：一种全自动光学精密测量设备的自动上料机构，在自动上料机构上靠近测试装置的一侧设置有用于将工件进行摆盘的上料柔性机械手，在上料车下端设有导正结构，其特征在于：自动上料机构的下部放置有两辆相同上料车，上料车上有多本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种全自动光学精密测量设备的自动上料机构，在自动上料机构上靠近测试装置的一侧设置有用于将工件进行摆盘的上料柔性机械手，在上料车下端设有导正结构，其特征在于：自动上料机构的下部放置有两辆相同上料车，上料车上有多层料盘架，在多层料盘架取料位置设有从多层料盘架上取出或放入料盘的料盘转移机构；所述的料盘转移机构具有横向移动装置、纵向移动装置和垂直移动装置，垂直移动装置安装在横向移动装置上，纵向移动装置安装在垂直移动装置上，纵向移动装置在垂直移动装置上沿Y轴做前后移动，垂直移动装置在横向移动装置上沿Z轴做上下运动，横向移动装置带动纵向移动装置和垂直移动装置沿X轴做左右水平运动，纵向移动装置上设有吸盘，吸盘吸住料盘进行取放。2.如权利要求1所述的一种全自动光学精密测量设备的自动上料机构，其特征在于：所述的横向移动装置由安装架、导轨轴、横向运动直线电机和立柱组成，两个L形安装架对称固定安装在下层安装板上，导轨轴安装在安装架上方，横向运动直线电机在安装架下方固定在下层安装板上，立柱上部穿过导轨轴，立柱下部安装在横向运动直线电机...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈志特，王华，黄海浩，
申请(专利权)人：广东科视光学技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：