多点校正方法、系统和采样方法技术方案

本发明专利技术涉及一种多点校正方法、系统和采样方法。多点校正方法为：基于待采样的物理量的取值范围，选取多个校正点，并存储各个校正点对应的校正数据，校正数据包括采样点对应的设备理论采样物理量及其对应的实际物理量；当采样设备检测到对任意一个校正点的校正指令时，则更新存储校正点对应的校正数据。多点校正系统包括通信连接的MCU和存储设备。采样方法为：采用上述多点校正方法校正后的采样设备启动采样后，读取所存储的各个校正点对应的校正数据并计算得到采样校正函数，从而针对当前采样的设备理论采样物理量，利用采样校正函数计算得到当前采样对应的实际物理量。本发明专利技术具有灵活性好，依赖性弱的优点。依赖性弱的优点。依赖性弱的优点。

【技术实现步骤摘要】
多点校正方法、系统和采样方法


[0001]本专利技术属于系统数据处理
，具体涉及一种针对采样数据的多点校正方法、系统和采样方法。

技术介绍

[0002]对数据进行高精度采样是实现高精度控制的前提。例如，目前，光伏发电系统普及度越来越高，随着大量光伏系统接入电网，电网公司对光伏发电系统的功能以及控制精度需求也越来越严格。实现多功能高精度的控制不仅能够增强电力系统的稳定性，同时也能够给客户提供良好的产品体验。但是，从软硬件开发的角度讲，要实现高精度的控制需要系统对电压、电流等信号进行高精度的采样；同时，由于不同设备同一规格的硬件间也存在一定非理想的差异，导致实际设计出来的采样通常会有偏差，从而使实际信号和设备的采样信号间产生误差，影响光伏发电系统的控制精度。
[0003]目前，对于实现高精度采样问题常用的解决方法是：增加软件校正流程，该方法将实际物理量(通过外部高精度测量设备得到)和设备理论采样物理量(通过设备硬件和传感器之间关系计算得到)进行校正处理，通过设计数学函数的方式将设备理论采样物理量换算为实际物理量，从而得到精确的采样数据，其中通过校正得到的数学函数会通过存储设备(如Flash)进行存储，每次设备上电时会读取存储的数学函数并用于对设备理论采样物理量和实际物理量的计算，如附图4所示。
[0004]其中，常用数学函数为一次函数：Y＝kX+b，式中，Y为实际物理量，X为设备理论采样物理量，k为一次函数的比例，b为偏置。
[0005]常用的校正方法有单点校正和多点校正。单点校正的方案一般会在设备运行较多的工况下进行校正，如额定工作点。但对远离校正点以外的工况存在误差较大的问题，如如1所示。多点校正为满足多种工况的需求，通过增加校正点能够有效解决单点校正存在的误差问题，如图2所示。但是，如附图3所示，传统的多点校正方法需要分别校正所有校正点的信息，才能更新并存储数学函数，存在灵活度较差的问题，若其中某一点校正数据出现问题，则需要将所有点重新校正一遍，无法对某一点进行单独的校正。同时，传统的多点校正方法对测试环境要求严格，如果在现场出现精度问题，由于现场条件的限制无法提供满足所有校正点运行的工况，则无法进行校正。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的是提供一种灵活性好、减少对校正环境的依赖的多点校正方法。
[0007]为达到上述目的，本专利技术采用的技术方案是：
[0008]一种多点校正方法，应用于采样设备中，该多点校正方法为：基于待采样的物理量的取值范围，选取多个校正点，并存储各个所述校正点对应的校正数据，所述校正数据包括所述采样点对应的设备理论采样物理量及其对应的实际物理量；当所述采样设备检测到对任意一个所述校正点的校正指令时，则更新存储所述校正点对应的校正数据。
[0009]所述采样设备首次启动时，各个所述校正点对应的校正数据初始化为相应理论值。
[0010]在更新所存储的所述校正点对应的校正数据前，先判断待更新的所述校正点对应的校正数据是否合理，若合理再进行数据更新，否则将待更新的所述校正点对应的校正数据初始化为相应理论值。
[0011]判断待更新的所述校正点对应的校正数据是否合理方法为：若待更新的所述校正数据在相应理论值允许偏差范围内，则待更新的所述校正点对应的校正数据合理。
[0012]在不同工况下对不同所述校正点进行校正。
[0013]更新存储所述校正点对应的校正数据后，基于所存储的所述校正点对应的校正数据分段计算得到采样校正函数。
[0014]以均匀间隔选取所述校正点。
[0015]本专利技术还提供实现上述多点校正方法的多点校正系统，其方案是：
[0016]一种多点校正系统，包括通信连接的MCU和存储设备，所述存储设备用于存储各个所述校正点对应的校正数据，所述MCU用于根据所述校正点的校正指令，控制所述存储设备更新存储所述校正点对应的校正数据。所述存储设备为FLASH。
[0017]本专利技术还提供一种基于上述多点校正方法的采样方法，能够更加灵活、精确得到实际物理量，进而提高后续系统的计算或控制精度，其方案是：
[0018]一种采样方法，应用于采用上述多点校正方法的采样设备中，所述采样方法为：所述采样设备启动采样后，读取所存储的各个所述校正点对应的校正数据并计算得到采样校正函数，从而针对当前采样的设备理论采样物理量，利用所述采样校正函数计算得到当前采样对应的实际物理量。
[0019]所述采样校正函数的各段均为一次函数或多次函数。
[0020]由于上述技术方案运用，本专利技术与现有技术相比具有下列优点：1.本专利技术的多点校正方法及装置解决了传统多点校正方法灵活度差的问题对校正环境严重依赖的问题，具有灵活性好，依赖性弱的优点；2.本专利技术的采样方法灵活、精确，有利于对采样数据的应用。
附图说明
[0021]附图1为现有单点校正方法的误差示意图。
[0022]附图2为现有多点校正方法的误差示意图。
[0023]附图3为现有多点校正方法的流程图。
[0024]附图4为应用现有多点校正方法的装置框图。
[0025]附图5为本专利技术的多点校正方法的流程图。
[0026]附图6为本专利技术的采样方法的流程图。
[0027]附图7为本专利技术的多点校正系统的框图。
[0028]附图8为本专利技术中校正点的示意图。
具体实施方式
[0029]下面结合附图所示的实施例对本专利技术作进一步描述。
[0030]实施例一：一种新的多点校正方法，应用于采样设备中，该方法是采样校正函数
(数学函数)不再通过存储设备进行保存，而是对多点校正过程中采样点的的设备理论采样物理量和实际物理量进行保存。而在采样过程中，通过每次上电读取设备理论采样物理量和实际物理量后计算出数学函数。具体方案如下：
[0031]如附图5所示，一种多点校正方法为：基于待采样的物理量的取值范围，选取多个校正点，校正点可以以均匀间隔选取，并存储各个校正点对应的校正数据，校正数据包括采样点对应的设备理论采样物理量及其对应的实际物理量。当采样设备检测到对任意一个校正点的校正指令时，则更新存储校正点对应的校正数据。在不同工况下对不同校正点进行校正。更新存储校正点对应的校正数据后，基于所存储的校正点对应的校正数据分段计算得到采样校正函数。
[0032]该多点校正方法中，采样设备首次启动时，各个校正点对应的校正数据初始化为相应理论值。在更新所存储的校正点对应的校正数据前，先判断待更新的校正点对应的校正数据是否合理，若合理再进行数据更新，否则将待更新的校正点对应的校正数据初始化为相应理论值。判断待更新的校正点对应的校正数据是否合理方法为：若待更新的校正数据在相应理论值允许偏差范围内，则待更新的校正点对应的校正数据合理。
[0033]下面以光伏发电系统中，对光伏板直流侧电压进行校正为例(这里只是以光伏板直流侧的电压参数作为实施例，实际也可采样光伏发电系统的其他参数，并不限定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多点校正方法，应用于采样设备中，其特征在于：所述多点校正方法为：基于待采样的物理量的取值范围，选取多个校正点，并存储各个所述校正点对应的校正数据，所述校正数据包括所述采样点对应的设备理论采样物理量及其对应的实际物理量；当所述采样设备检测到对任意一个所述校正点的校正指令时，则更新存储所述校正点对应的校正数据。2.根据权利要求1所述的多点校正方法，其特征在于：所述采样设备首次启动时，各个所述校正点对应的校正数据初始化为相应理论值。3.根据权利要求1所述的多点校正方法，其特征在于：在更新所存储的所述校正点对应的校正数据前，先判断待更新的所述校正点对应的校正数据是否合理，若合理再进行数据更新，否则将待更新的所述校正点对应的校正数据初始化为相应理论值。4.根据权利要求3所述的多点校正方法，其特征在于：判断待更新的所述校正点对应的校正数据是否合理方法为：若待更新的所述校正数据在相应理论值允许偏差范围内，则待更新的所述校正点对应的校正数据合理。5.根据权利要求1所述的多点校正方法，其特征在于：在不同工况下对不同所述校正点进行校正。6.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈晨，项坤，李胜，蒋峰，徐卫军，方刚，黄敏，
申请(专利权)人：固德威技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：