红外热电堆传感器的塞贝克系数测试方法技术

本发明专利技术关于红外热电堆传感器的塞贝克系数测试方法，涉及传感器技术领域。该方法包括：根据待测器件的器件结构确定与待测器件对应的平均温升与敏感区温升之比、待测器件在初始温度下的初始电阻以及电阻温度系数；在变温环境中，对待测器件施加第一组测试电流以及第二组测试电流；生成至少一个参考系数函数；基于参考系数函数构建塞贝克系数获取模型，将参考系数输入塞贝克系数获取模型，输出与待测器件对应的塞贝克系数以及对应温度。通过在多组正负方向的电流激励下得到的热电堆传感器电阻响应曲线，无需添加额外的结构，即可获得宽温度范围内的塞贝克系数，具有测试方法简单，测量准确的特点。量准确的特点。量准确的特点。

【技术实现步骤摘要】
红外热电堆传感器的塞贝克系数测试方法


[0001]本专利技术涉及传感器
，特别涉及一种红外热电堆传感器的塞贝克系数测试方法。

技术介绍

[0002]红外热电堆传感器是基于塞贝克效应，将被红外辐射转化为敏感区温度变化，进而使得输出电压信号变化的一类传感器。红外热电堆传感器因具有低功耗，无需制冷以及电激励的特点，被广泛应用于温度测量、气体监测、以及光谱仪等方面的应用中。红外热电堆传感器的塞贝克系数直接决定着传感器的热电转化效率，进而影响传感器的探测率。因此，如何便捷有效的获得所设计的红外热电堆传感器的实际塞贝克系数至关重要。
[0003]相关技术中，通常设置两种方法进行红外热电堆传感器的塞贝克系数测量。一种方法为，在设计传感器的过程中，为其添加额外的自测试结构，给其带来结构以及性能上的改变；另一种方法为，在测试过程中选取一个或数个测试点，并通过数据汇总或选取的方式，确定与传感器对应的塞贝克系数。
[0004]然而，相关技术中的方法，若添加额外的自测试结构，则传感器的制造成本过高，使用难度增大；若采用测试点测试的方法，则测量结果本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种红外热电堆传感器的塞贝克系数测试方法，其特征在于，所述方法包括：根据待测器件的器件结构确定与所述待测器件对应的平均温升与敏感区温升之比；在变温环境中，设定环境温度为初始温度，并对所述待测器件进行电流
‑
电压测试，得到所述待测器件在所述初始温度下的初始电阻以及电阻温度系数；在变温环境中，对所述待测器件施加第一组测试电流，所述第一组测试电流中包括大小相等且方向相反的第一正向测试电流以及第一反向测试电流；获取在所述第一组测试电流下的第一正向电阻
‑
时间曲线以及第一反向电阻
‑
时间曲线；通过所述第一正向电阻
‑
时间曲线以及所述第一反向电阻
‑
时间曲线确定相对于所述初始电阻的第一正向测试电流电阻变化量以及第一反向测试电流电阻变化量；在变温环境中，对所述待测器件施加第二组测试电流，所述第一组测试电流与所述第二组测试电流的电流强度不同；获取在所述第二组测试电流下的第二正向电阻
‑
时间曲线以及第二反向电阻
‑
时间曲线。通过所述第二正向电阻
‑
时间曲线以及所述第二反向电阻
‑
时间曲线确定相对于所述初始电阻的第二正向测试电流电阻变化量以及第二反向测试电流电阻变化量；基于所述初始电阻、所述电阻温度系数、所述平均温升与敏感区温升之比、所述第一正向测试电流电阻变化量、所述第一反向测试电流电阻变化量、第二正向测试电流电阻变化量以及第二反向测试电流电阻变化量生成至少一个参考系数函数；基于所述参考系数函数构建塞贝克系数获取模型，所述塞贝克系数获取模型实现为包含至少两项塞贝克系数与参考系数的组合；基于所述参考系数函数确定每项参考系数，并将所述参考系数输入所述塞贝克系数获取模型，输出测试条件下与...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁天辉，傅剑宇，欧文，孙冠军，杜祥雷，陈大鹏，
申请(专利权)人：无锡物联网创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：