检测产品静态电流损耗的检测电路及检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术描述一种检测产品静态电流损耗的检测电路及检测装置，该检测电路包括MCU、霍尔线性芯片、第一运算放大器和第二运算放大器，所述霍尔线性芯片的电源端接直流电源，所述霍尔线性芯片的接地端端接地，所述霍尔线性芯片的输出端分别连接所述MCU的PA2引脚、所述第一运算放大器的同向端以及所述第二运算放大器的反向端，所述第一运算放大器的反向端、所述第二运算放大器的正向端、所述MCU的PA4引脚互连，所述第一运算放大器的输出端与所述MCU的PA5引脚互连，所述第二运算放大器的输出端与所述MCU的PA7引脚连接。由此，通过该检测电路及检测装置，能够方便从产品外部检测产品是否存在电流损耗问题。是否存在电流损耗问题。是否存在电流损耗问题。

【技术实现步骤摘要】
检测产品静态电流损耗的检测电路及检测装置


[0001]本技术大体涉及一种检测产品静态电流损耗的检测电路及检测装置。

技术介绍

[0002]现有一些电子产品通常会内置电池作为供电电源，而且电池通常会与产品焊接在一起进行使用。而电池与电子产品焊接在一起之后通常会形成一个“黑盒子”，导致很难从外部检测产品内的功耗异常或电流损耗等问题。

技术实现思路

[0003]本技术有鉴于上述现有的状况，其目的在于提供一种能够从产品外部检测产品静态电流损耗的检测电路。
[0004]为此，本技术第一方面提供了一种检测产品静态电流损耗的检测电路，其包括MCU、霍尔线性芯片、第一运算放大器和第二运算放大器，所述霍尔线性芯片的电源端接直流电源，所述霍尔线性芯片的接地端接地，所述霍尔线性芯片的输出端分别连接所述MCU的PA2引脚、所述第一运算放大器的同向端以及所述第二运算放大器的反向端，所述第一运算放大器的反向端、所述第二运算放大器的正向端、所述MCU的PA4引脚互连，所述第一运算放大器的输出端与所述MCU的PA5引脚互连，所述第二运算放大器的输出端与所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测产品静态电流损耗的检测电路，其特征在于，包括MCU、霍尔线性芯片、第一运算放大器和第二运算放大器，所述霍尔线性芯片的电源端接直流电源，所述霍尔线性芯片的接地端端接地，所述霍尔线性芯片的输出端分别连接所述MCU的PA2引脚、所述第一运算放大器的同向端以及所述第二运算放大器的反向端，所述第一运算放大器的反向端、所述第二运算放大器的正向端、所述MCU的PA4引脚互连，所述第一运算放大器的输出端与所述MCU的PA5引脚互连，所述第二运算放大器的输出端与所述MCU的PA7引脚连接。2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，还包括连接在所述第一运算放大器的电源端的第一滤波元件、以及连接在所述第一运算放大器的输出端和所述MCU的PA5引脚之间的第一滤波电路。3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第一滤波元件为第一电容，所述第一滤波电路包括第二电容和第一电阻；所述第一电容的一端与所述第一运算放大器的电源端连接并接所述直流电源，所述第一电容的另一端接地，所述第一电阻的一端与所述第一运算放大器的输出端连接，所述第一电阻的另一端、所述第二电容的一端、所述MCU的PA5引脚互连，所述第二电容的另一端、所述第一运算放大器的接地端、所述第一运算放大器的参考端互连并接地。4.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱旦，周勇，陈飞龙，郭国义，牛彦明，
申请(专利权)人：深圳市吉迩科技有限公司，
类型：新型
国别省市：