显示装置及其检测电路和检测方法制造方法及图纸

技术编号:35782676 阅读:5 留言:0更新日期:2022-12-01 14:28
本发明专利技术公开了一种显示装置及其检测电路和检测方法,所述显示装置包括具有阵列排布的多个像素单元以及驱动模块,所述驱动模块用于按行或列通过信号线循序输出控制信号至所述像素单元,所述检测电路包括逻辑输出模块,与所述显示面板上的多条所述信号线相连,用于读取每根所述信号线的控制信号,并输出检测信号;判断模块,用于接收所述检测信号,并将所述检测信号的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较,并根据比较结果判断所述驱动模块的工作状态,从而可以在显示面板画面异常时快速准确的判别异常模块。判别异常模块。判别异常模块。

【技术实现步骤摘要】
显示装置及其检测电路和检测方法


[0001]本专利技术涉及显示
,特别涉及一种显示装置及其检测电路和检测方法。

技术介绍

[0002]在显示领域,显示装置显示画面一般需要多个模块协作完成,现有的显示装置根据发光体的不同,一般分为LCD显示装置和OLED显示装置。
[0003]LCD显示装置显示画面至少需要源极驱动(Source drive)模块、栅极驱动(gate on array)模块输入相应的控制信号至像素电路;OLED显示装置显示画面至少需要源极驱动模块、栅极驱动模块以及发光模块输入相应的控制信号至像素电路。如图1所示,栅极驱动模块20通过栅极线连接至像素单元30的薄膜晶体管T的控制端,源极驱动模块10通过源极线连接至薄膜晶体管T的第一导通端,在显示装置显示画面时栅极驱动模块20会通过栅极线(gate line)循序输出栅极控制信号至像素单元30,以按行选通像素单元30,在薄膜晶体管T为NMOS管时,栅极驱动模块20输出的栅极控制信号为高电平,在薄膜晶体管T为PMOS管时,栅极驱动模块20输出的栅极控制信号为低电平。
[0004]现有技术会将栅极驱动模块、源极驱动模块以及发光模块等模块集成于同一块驱动芯片IC上,在显示装置画面异常时,需要厘清是哪个模块出现问题,现有的微(micro)显示装置并没有办法检测所有的栅极线和发光线(EM line)传输的控制信号,只能通过抽查的方式来验证,以分辨率4K为例,有4000条栅极线和4000条发光线,目前只能抽查前中后数根栅极线和发光线传输的控制信号,当画面出现异常时,无法有效厘清是哪个模块出现了问题,因此有待提出一种新的技术方案以解决上述问题。

技术实现思路

[0005]鉴于上述问题,本专利技术的目的在于提供一种显示装置及其检测电路和检测方法,从而可以在显示面板画面异常时快速准确的判别异常模块。
[0006]根据本专利技术的一方面,提供一种显示装置的检测电路,所述显示装置包括具有阵列排布的多个像素单元以及驱动模块,所述驱动模块用于按行或列通过信号线循序输出控制信号至所述像素单元,所述检测电路包括:逻辑输出模块,与所述显示面板上的多根所述信号线相连,用于读取每根所述信号线的控制信号,并输出检测信号;判断模块,用于接收所述检测信号,并将所述检测信号的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较,并根据比较结果判断所述驱动模块的工作状态。
[0007]可选地,所述判断模块设置为当所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平完全相同时,判定所述驱动模块工作正常。
[0008]可选地,所述判断模块设置为当所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平不相同时,根据所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平不同的时间与预设时间的倍数关系确定出现异常的信号线。
[0009]可选地,所述预设时间为所述驱动模块输出所述控制信号至每根所述信号线的时
间。
[0010]可选地,所述逻辑输出模块包括:级联的多个或门电路,每个或门电路包括多个输入端,所述多个或门电路中的第一个的多个输入端分别与对应的信号线相连,所述多个或门电路中除第一个的其他或门电路的多个输入端中的一个与前一个或门电路的输出端连接,其余的输入端与对应的信号线相连,所述多个或门电路中的最后一个的输出端用于输出所述检测信号。
[0011]可选地,所述驱动模块为栅极驱动模块,所述栅极驱动模块用于按行通过栅极线循序输出栅极控制信号至所述像素单元的开关晶体管的控制端。
[0012]可选地,所述驱动模块为发光模块,所述发光模块用于按行通过发光线循序输出发光控制信号至所述像素单元的发光晶体管的控制端。
[0013]根据本专利技术的另一方面,提供一种显示装置的检测方法,所述显示装置包括具有阵列排布的多个像素单元以及驱动模块,所述驱动模块用于按行或列通过信号线循序输出控制信号至所述像素单元,包括:读取每根所述信号线的控制信号,并输出检测信号;将所述检测信号的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较,并根据比较结果判断所述驱动模块的工作状态。
[0014]可选地,所述将所述检测信号的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较,并根据比较结果判断所述驱动模块的工作状态包括:当所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平完全相同时,判定所述驱动模块工作正常;当所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平不相同时,根据所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平不同的时间与预设时间的倍数关系确定出现异常的信号线。
[0015]可选地,所述预设时间为所述驱动模块输出所述控制信号至每根所述信号线的时间。
[0016]根据本专利技术的另一方面,提供一种显示装置,包括上述所述的显示装置的检测电路,用于执行如上述所述的显示装置的检测方法。
[0017]本专利技术提供的显示装置及其检测电路和检测方法,逻辑输出模块连接至用于传输循序控制信号的每根信号线,每根信号线输出高/低电平信号的时间为固定时间,逻辑输出模块读取信号线传输的控制信号,并输出检测信号,判断模块将检测信号的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较,并根据比较结果确定发生异常的信号线,可以在显示面板进行测试或者画面异常时快速准确判断发生异常的模块。
附图说明
[0018]通过以下参照附图对本专利技术实施例的描述,本专利技术的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚,在附图中:
[0019]图1示出了根据现有技术的显示面板的结构示意图;
[0020]图2示出了根据本专利技术实施例的显示装置的检测电路的结构示意图;
[0021]图3a

3d示出了根据本专利技术实施例在不同状态下的栅极控制信号的时序图。
[0022]图4示出了根据本专利技术实施例的显示装置的检测方法的流程图。
具体实施方式
[0023]以下将参照附图更详细地描述本专利技术的各种实施例。在各个附图中,相同的元件或者模块采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见,附图中的各个部分没有按比例绘制。
[0024]应当理解,在以下的描述中,“电路”可包括单个或多个组合的硬件电路、可编程电路、状态机电路和/或能存储由可编程电路执行的指令的元件。当称元件或电路“连接到”另一元件或称元件或电路“连接在”两个节点之间时,它可以直接耦合或连接到另一元件或者可以存在中间元件,元件之间的连接可以是物理上的、逻辑上的,或者其结合。相反,当称元件“直接耦合到”或“直接连接到”另一元件时,意味着两者不存在中间元件。
[0025]同时,在本专利说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定的组件。本领域普通技术人员应当可理解,硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同一个组件。本专利说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式,而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。
[0026]此外,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或者操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示装置的检测电路,所述显示装置包括具有阵列排布的多个像素单元以及驱动模块,所述驱动模块用于按行或列通过信号线循序输出控制信号至所述像素单元,所述检测电路包括:逻辑输出模块,与所述显示面板上的多根所述信号线相连,用于读取每根所述信号线的控制信号,并输出检测信号;判断模块,用于接收所述检测信号,并将所述检测信号的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较,并根据比较结果判断所述驱动模块的工作状态。2.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述判断模块设置为当所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平完全相同时,判定所述驱动模块工作正常。3.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述判断模块设置为当所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平不相同时,根据所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平不同的时间与预设时间的倍数关系确定出现异常的信号线。4.根据权利要求3所述的检测电路,其中,所述预设时间为所述驱动模块输出所述控制信号至每根所述信号线的时间。5.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述逻辑输出模块包括:级联的多个或门电路,每个或门电路包括多个输入端,所述多个或门电路中的第一个的多个输入端分别与对应的信号线相连,所述多个或门电路中除第一个的其他或门电路的多个输入端中的一个与前一个或门电路的输出端连接,其余的输入端与对应的信号线相连,所述多个或门电路中的最后一个的输出端用于输出所述检测信号。6.根据权利要求1所述的检测电路,其中,所述驱...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢宗哲
申请(专利权)人:集创北方珠海科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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