一种芯片的初始化方法、系统、芯片及可读存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种芯片的初始化方法、系统、芯片及可读存储介质，初始化方法包括：获取模式选择信号；根据模式选择信号执行芯片初始化策略；测试初始化策略包括：依次将多个预设的测试修调数据由外部写入修调寄存模块中；根据每个测试修调数据对待修调模块进行修调，一一对应得到多个修调结果；根据多个修调结果从多个测试修调数据中选取目标修调数据；通过处理单元将目标修调数据写入存储单元中；非测试初始化策略包括：通过数据加载电路将目标修调数据从存储单元读取到修调寄存模块中；根据目标修调数据对待修调模块进行修调。本发明专利技术实施例的初始化方法能够提高系统的稳定性，减轻CPU的运行负荷。CPU的运行负荷。CPU的运行负荷。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片的初始化方法、系统、芯片及可读存储介质


[0001]本专利技术涉及电子相关
，尤其是涉及一种芯片的初始化方法、系统、芯片及可读存储介质。

技术介绍

[0002]在系统级芯片(System On Chip，简称SOC)设计中，由于工艺参数或者环境的影响，部分器件(比如振荡器(OSC)、锁相环(PLL)、数模转换器(ADC)等)会引入一种修调的方式来改善流片后的性能，即在芯片使用时将修调值加载到相关寄存器，从而对待修调模块进行修调。相关寄存器的加载是芯片初始化的一个重要部分。
[0003]现有的芯片初始化方法是通过软件去实现，软件是通过指令的方式来驱动硬件去执行相应的操作，指令的运行都需要经过取指令，指令译码，指令执行，一条简单的寄存器加载指令也会占用较大的CPU开销。而且在一些工艺偏差比较大的情况下，一些重要的待修调模块(如OSC、PLL等)的初始化执行越复杂，芯片的时钟可能会越不稳定，系统可能在取指、译码阶段就会跑入非法状态，对系统的运行来说会有一定的风险。另外，芯片初始化如果全部由硬件完成，芯片的面积会增大，加大了芯片开发的成本。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种芯片的初始化方法，能够提高系统的稳定性，减轻CPU的运行负荷。
[0005]本专利技术还提供了一种芯片的初始化系统、一种芯片以及计算机可读存储介质。
[0006]根据本专利技术的第一方面实施例的芯片的初始化方法，所述芯片包括待修调模块、修调寄存模块、存储单元、处理单元和数据加载电路；所述初始化方法包括以下步骤：
[0007]获取模式选择信号；
[0008]根据所述模式选择信号执行芯片初始化策略，所述芯片初始化策略包括测试初始化策略和非测试初始化策略；
[0009]其中，所述测试初始化策略包括以下步骤：依次将多个预设的测试修调数据由外部写入所述修调寄存模块中；根据每个所述测试修调数据对所述待修调模块进行修调，一一对应得到多个修调结果；根据多个所述修调结果从多个所述测试修调数据中选取目标修调数据；通过所述处理单元将所述目标修调数据写入所述存储单元中；
[0010]所述非测试初始化策略包括以下步骤：通过所述数据加载电路将所述目标修调数据从所述存储单元读取到所述修调寄存模块中；根据所述目标修调数据对所述待修调模块进行修调。
[0011]根据本专利技术实施例的初始化方法，至少具有如下有益效果：
[0012]通过获取模式选择信号，可以得知芯片是否为测试阶段，若模式选择信号表征芯片为测试阶段，则执行测试初始化策略，依次将多个预设的测试修调数据由外部写入修调寄存模块中，根据每个测试修调数据对待修调模块进行修调，并从多个测试修调数据中选
取目标修调数据，然后通过处理单元将目标修调数据写入存储单元中。若模式选择信号表征芯片为非测试阶段，则执行非测试初始化策略，直接通过数据加载电路将目标修调数据从存储单元读取到修调寄存模块中，根据目标修调数据对待修调模块进行修调。利用数据加载电路加载目标修调数据减轻了CPU的运行负荷，且目标修调数据的加载可以在一个时钟周期内完成，提高了系统的稳定性。本专利技术实施例的初始化方法采用软硬件结合的方式实现芯片的初始化过程，能够提高系统的稳定性，减轻CPU的运行负荷。
[0013]根据本专利技术的一些实施例，所述通过所述处理单元将所述目标修调数据写入所述存储单元中，包括以下步骤：
[0014]获取所述存储单元中预设的目标地址区域；
[0015]通过所述处理单元将所述目标修调数据写入至所述目标地址区域。
[0016]根据本专利技术的一些实施例，所述数据加载电路包括复位信号检测电路、地址存储器和读使能电路，所述读使能电路分别与所述复位信号检测电路和所述地址存储器连接；
[0017]所述通过所述数据加载电路将所述目标修调数据从所述存储单元读取到所述修调寄存模块中，包括以下步骤：
[0018]获取所述存储单元中预设的目标地址区域；
[0019]将所述目标地址区域的地址信息读取到所述地址存储器中；
[0020]若所述复位信号检测电路检测到所述复位信号，通过所述读使能电路根据所述地址信息将所述目标修调数据从所述目标地址区域中读取到所述修调寄存模块中，以使得根据所述目标修调数据对所述待修调模块进行修调。
[0021]根据本专利技术的一些实施例，所述通过所述读使能电路根据所述地址信息将所述目标修调数据从所述目标地址区域中读取到所述修调寄存模块中，包括以下步骤：
[0022]通过所述读使能电路根据所述地址信息生成读使能控制信号；
[0023]将所述读使能控制信号发送至所述存储单元，以将所述目标修调数据从所述目标地址区域中读取到所述修调寄存模块中。
[0024]根据本专利技术的一些实施例，所述根据所述模式选择信号执行芯片初始化策略，包括以下步骤：
[0025]若所述模式选择信号表征所述芯片为测试阶段，执行所述测试初始化策略；
[0026]若所述模式选择信号表征所述芯片为非测试阶段，执行所述非测试初始化策略。
[0027]根据本专利技术的第二方面实施例的芯片的初始化系统，包括：
[0028]模式选择信号获取单元，用于获取模式选择信号；
[0029]芯片初始化策略执行单元，用于根据所述模式选择信号执行芯片初始化策略，所述芯片初始化策略包括测试初始化策略和非测试初始化策略；其中，所述测试初始化策略包括以下步骤：依次将多个预设的测试修调数据由外部写入所述修调寄存模块中，根据每个所述测试修调数据对所述待修调模块进行修调，一一对应得到多个修调结果，根据多个所述修调结果从多个所述测试修调数据中选取目标修调数据，通过所述处理单元将所述目标修调数据写入所述存储单元中；所述非测试初始化策略包括以下步骤：通过所述数据加载电路将所述目标修调数据从所述存储单元读取到所述修调寄存模块中，根据所述目标修调数据对所述待修调模块进行修调。
[0030]根据本专利技术实施例的初始化系统，至少具有如下有益效果：
[0031]通过模式选择信号获取单元获取模式选择信号，可以得知芯片是否为测试阶段，然后通过芯片初始化策略执行单元根据模式选择信号选择执行测试初始化策略或非测试初始化策略。若模式选择信号表征芯片为测试阶段，则执行测试初始化策略，依次将多个预设的测试修调数据由外部写入修调寄存模块中，根据每个测试修调数据对待修调模块进行修调，并从多个测试修调数据中选取目标修调数据，然后通过处理单元将目标修调数据写入存储单元中。若模式选择信号表征芯片为非测试阶段，则执行非测试初始化策略，直接通过数据加载电路将目标修调数据从存储单元读取到修调寄存模块中，根据目标修调数据对待修调模块进行修调。利用数据加载电路加载目标修调数据减轻了CPU的运行负荷，且目标修调数据的加载可以在一个时钟周期内完成，提高了系统的稳定性。本专利技术实施例的初始化系统采用软硬件结合的方式实现芯片的初始化过程，能够提本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片的初始化方法，其特征在于，所述芯片包括待修调模块、修调寄存模块、存储单元、处理单元和数据加载电路；所述初始化方法包括以下步骤：获取模式选择信号；根据所述模式选择信号执行芯片初始化策略，所述芯片初始化策略包括测试初始化策略和非测试初始化策略；其中，所述测试初始化策略包括以下步骤：依次将多个预设的测试修调数据由外部写入所述修调寄存模块中；根据每个所述测试修调数据对所述待修调模块进行修调，一一对应得到多个修调结果；根据多个所述修调结果从多个所述测试修调数据中选取目标修调数据；通过所述处理单元将所述目标修调数据写入所述存储单元中；所述非测试初始化策略包括以下步骤：通过所述数据加载电路将所述目标修调数据从所述存储单元读取到所述修调寄存模块中；根据所述目标修调数据对所述待修调模块进行修调。2.根据权利要求1所述的初始化方法，其特征在于，所述通过所述处理单元将所述目标修调数据写入所述存储单元中，包括以下步骤：获取所述存储单元中预设的目标地址区域；通过所述处理单元将所述目标修调数据写入至所述目标地址区域。3.根据权利要求1所述的初始化方法，其特征在于，所述数据加载电路包括复位信号检测电路、地址存储器和读使能电路，所述读使能电路分别与所述复位信号检测电路和所述地址存储器连接；所述通过所述数据加载电路将所述目标修调数据从所述存储单元读取到所述修调寄存模块中，包括以下步骤：获取所述存储单元中预设的目标地址区域；将所述目标地址区域的地址信息读取到所述地址存储器中；若所述复位信号检测电路检测到所述复位信号，通过所述读使能电路根据所述地址信息将所述目标修调数据从所述目标地址区域中读取到所述修调寄存模块中，以使得根据所述目标修调数据对所述待修调模块进行修调。4.根据权利要求3所述的初始化方法，其特征在于，所述通过所述读使能电路根据所述地址信息将所述目标修调数据从所述目标地址区域中读取到所述修调寄存模块中，包括以下步骤：通过所述读使能电路根据所述地址信息生成读使能控制信号；将所述读使能控制信号发送至所述存储单元，以将所述目标修调数据从所述目标地址区域中读取到所述修调寄存模块中。5.根据权利要求1所述的初始化方法，其特征在于，所述根据所述模式选择信号执行芯片初始化策略，包括以下步骤：若所述模式选择信号表征所述芯片为测试阶段，执行所述测试初始化策略；若所述模式选择信号表征所述芯片为非测试阶段，执行所述非测试初始化策略。6.一种芯片的初始化系统，其特征在于，包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：张锋，刘杨，吴修英，肖和保，
申请(专利权)人：湖南进芯电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：