一种基于点云图的投影面积计算方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于点云图的投影面积计算方法及装置，所述方法包括：根据待测对象确认多个测量点，依次将扫描仪移动到各个测量点处进行扫描；以所述标定零点为中心，生成关于多个测量点点位分布的粗拼数据；结合所述粗拼数据和多个测量点的扫描结果进行精拼，得到精拼点云图；根据所述承载台投影，剔除所述精拼点云图中的承载台点云数据；对所述精拼点云图进行正方向投影，获取待测对象投影点云图并计算投影面积。本发明专利技术只需要一台扫描仪扫描待测物体的测量点对各个测量点进行精拼后计算投影面积，保证精确度前提下大大节约了检测成本。本。本。

【技术实现步骤摘要】
一种基于点云图的投影面积计算方法及装置


[0001]本专利技术涉及数据处理
，尤其涉及一种基于点云图的投影面积计算方法及装置。

技术介绍

[0002]目前测量汽车、家具、飞机、轮船等物体的正投影面积的方案有固定式的三维扫描测量方法，然而固定式三维扫描测量装置的缺陷是造价成本较高，且需要多台三维扫描仪才可完成搭建，维护成本较高，因为需要同时维护多台三维扫描仪才能保证扫描工作的正常进行。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例提供一种基于点云图的投影面积计算方法及装置，只通过一台扫描仪扫描待测物体的测量点对各个测量点进行精拼后计算投影面积，保证精确度前提下大大节约了检测成本。
[0004]为实现上述目的，本申请实施例的第一方面提供了一种基于点云图的投影面积计算方法，包括：
[0005]在标定零点处对承载台进行扫描，并对标定零点扫描结果进行投影变换，得到承载台投影；
[0006]根据所述承载台投影与标定图的差值，调整承载台的相对位置；所述承载台投影与标定图的像素相同；
[0007]根据待测对象确认多个测量点，依次将扫描仪移动到各个测量点处进行扫描；
[0008]以所述标定零点为中心，生成关于多个测量点点位分布的粗拼数据；
[0009]结合所述粗拼数据和多个测量点的扫描结果进行精拼，得到精拼点云图；
[0010]根据所述承载台投影，剔除所述精拼点云图中的承载台点云数据；
[0011]对所述精拼点云图进行正方向投影，获取待测对象投影点云图并计算投影面积。
[0012]在第一方面的一种可能的实现方式中，所述以所述标定零点为中心，生成关于多个测量点点位分布的粗拼数据，具体包括：
[0013]将各个测量点与所述标定零点的相对位置信息写入粗拼数据对应的数据矩阵中，进而得到含多个测量点点位分布的粗拼数据。
[0014]在第一方面的一种可能的实现方式中，所述结合所述粗拼数据和多个测量点的扫描结果进行精拼，得到精拼点云图，具体包括：
[0015]选出多个测量点的扫描结果中重复出现的特征区域，结合所述特征区域和所述粗拼数据，对所述多个测量点的扫描结果进行ICP精拼。
[0016]在第一方面的一种可能的实现方式中，所述根据所述承载台投影，剔除所述精拼点云图中的承载台点云数据，具体包括：
[0017]从所述承载台投影中提取出承载台点云数据，剔除所述精拼点云图中与所述承载
台点云数据结构相同的点云数据，保留所述待测物体轮廓的点云数据。
[0018]在第一方面的一种可能的实现方式中，所述根据所述承载台投影与标定图的差值，调整承载台的相对位置，具体为：
[0019]逐像素对比所述承载台投影与标定图，得到不同像素所占比例；
[0020]根据所述不同像素所占比例移动承载台，移动的距离与所述不同像素所占比例正相关。
[0021]本申请实施例的第二方面提供了一种基于点云图的投影面积计算装置，包括：
[0022]扫描模块，用于在标定零点处对承载台进行扫描，并对标定零点扫描结果进行投影变换，得到承载台投影；
[0023]标定模块，用于根据所述承载台投影与标定图的差值，调整承载台的相对位置；所述承载台投影与标定图的像素相同；
[0024]移测模块，用于根据待测对象确认多个测量点，依次将扫描仪移动到各个测量点处进行扫描；
[0025]粗拼模块，用于以所述标定零点为中心，生成关于多个测量点点位分布的粗拼数据；
[0026]精拼模块，用于结合所述粗拼数据和多个测量点的扫描结果进行精拼，得到精拼点云图；
[0027]剔除模块，用于根据所述承载台投影，剔除所述精拼点云图中的承载台点云数据；
[0028]计算模块，用于对所述精拼点云图进行正方向投影，获取待测对象投影点云图并计算投影面积。
[0029]在第二方面的一种可能的实现方式中，所述粗拼模块具体用于：
[0030]将各个测量点与所述标定零点的相对位置信息写入粗拼数据对应的数据矩阵中，进而得到含多个测量点点位分布的粗拼数据。
[0031]在第二方面的一种可能的实现方式中，所述精拼模块具体用于：
[0032]选出多个测量点的扫描结果中重复出现的特征区域，结合所述特征区域和所述粗拼数据，对所述多个测量点的扫描结果进行ICP精拼。
[0033]在第二方面的一种可能的实现方式中，所述剔除模块具体用于：
[0034]从所述承载台投影中提取出承载台点云数据，剔除所述精拼点云图中与所述承载台点云数据结构相同的点云数据，保留所述待测物体轮廓的点云数据。
[0035]在第二方面的一种可能的实现方式中，所述降低所述标定模块具体用于：
[0036]逐像素对比所述承载台投影与标定图，得到不同像素所占比例；
[0037]根据所述不同像素所占比例移动承载台，移动的距离与所述不同像素所占比例正相关。
[0038]相比于现有技术，本专利技术实施例提供的一种基于点云图的投影面积计算方法及装置，将扫描仪移动到不同测量点扫描待测物体，获得不同角度下的待测物体点云数据，再结合粗拼数据中的测量点点位分布信息调整精拼方式对多个测量点的扫描结果进行精拼，进而得到完整的待测物体点云图。整个过程只需要借助一个扫描仪即可完成，节约了仪器成本；而且精拼保证了待测物体点云图的完整性，进而实现了对待测物体投影面积的精确测量。
附图说明
[0039]图1是本专利技术一实施例提供的一种基于点云图的投影面积计算方法的流程示意图；
[0040]图2是本专利技术一实施中一种基于点云图的投影面积计算装置的结构图。
具体实施方式
[0041]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0042]请参见图1，本申请实施例的第一方面提供了一种基于点云图的投影面积计算方法，包括：
[0043]S10、在标定零点处对承载台进行扫描，并对标定零点扫描结果进行投影变换，得到承载台投影。
[0044]S11、根据所述承载台投影与标定图的差值，调整承载台的相对位置；所述承载台投影与标定图的像素相同。
[0045]S12、根据待测对象确认多个测量点，依次将扫描仪移动到各个测量点处进行扫描。
[0046]S13、以所述标定零点为中心，生成关于多个测量点点位分布的粗拼数据。
[0047]S14、结合所述粗拼数据和多个测量点的扫描结果进行精拼，得到精拼点云图。
[0048]S15、根据所述承载台投影，剔除所述精拼点云图中的承载台点云数据。
[0049]S16、对所述精拼点云图进行正方向投影，获取待测对象投影点云图并计算投影面积。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于点云图的投影面积计算方法，其特征在于，包括：在标定零点处对承载台进行扫描，并对标定零点扫描结果进行投影变换，得到承载台投影；根据所述承载台投影与标定图的差值，调整承载台的相对位置；所述承载台投影与标定图的像素相同；根据待测对象确认多个测量点，依次将扫描仪移动到各个测量点处进行扫描；以所述标定零点为中心，生成关于多个测量点点位分布的粗拼数据；结合所述粗拼数据和多个测量点的扫描结果进行精拼，得到精拼点云图；根据所述承载台投影，剔除所述精拼点云图中的承载台点云数据；对所述精拼点云图进行正方向投影，获取待测对象投影点云图并计算投影面积。2.如权利要求1所述基于点云图的投影面积计算方法，其特征在于，所述以所述标定零点为中心，生成关于多个测量点点位分布的粗拼数据，具体包括：将各个测量点与所述标定零点的相对位置信息写入粗拼数据对应的数据矩阵中，进而得到含多个测量点点位分布的粗拼数据。3.如权利要求1所述基于点云图的投影面积计算方法，其特征在于，所述结合所述粗拼数据和多个测量点的扫描结果进行精拼，得到精拼点云图，具体包括：选出多个测量点的扫描结果中重复出现的特征区域，结合所述特征区域和所述粗拼数据，对所述多个测量点的扫描结果进行ICP精拼。4.如权利要求1所述基于点云图的投影面积计算方法，其特征在于，所述根据所述承载台投影，剔除所述精拼点云图中的承载台点云数据，具体包括：从所述承载台投影中提取出承载台点云数据，剔除所述精拼点云图中与所述承载台点云数据结构相同的点云数据，保留所述待测物体轮廓的点云数据。5.如权利要求1所述基于点云图的投影面积计算方法，其特征在于，所述根据所述承载台投影与标定图的差值，调整承载台的相对位置，具体为：逐像素对比所述承载台投影与标定图，得到不同像素所占比例；根据所述不同像素所占比例移动承载台，移...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹朝军，周佛灵，
申请(专利权)人：广州启量信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：