一种SOC芯片验证测试用例的生成方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了SOC芯片验证测试用例的生成方法和系统，该方法包括：根据待验证SOC芯片的设计手册提取待验证模块的验证点类别以及对应的验证点；根据所述验证点类别和对应的验证点生成测试源文件；基于所述测试源文件采用成对独立组合测试方法生成正交测试组合；根据所述正交测试组合和寄存器解析文件生成测试用例，进行所述SOC芯片验证。该方法节约了成本，提高了验证速度。该方法能够克服因遗漏组合而使得某些特殊的用例没有进行验证的缺陷，此外还能够克服由于重复冗余验证带来的验证工作增加的缺陷。增加的缺陷。增加的缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种SOC芯片验证测试用例的生成方法和系统


[0001]本专利技术涉及芯片验证
，尤其涉及一种SOC芯片验证测试用例的生成方法和系统。

技术介绍

[0002]现有技术中，验证芯片的测试用例都是由研发工程师提取验证点，验证工程师组合验证点得到验证测试用例。采用上述方法，在验证点较多形成的验证组合较多的情况下，存在由于遗漏而造成特有组合没有进行验证的情况，此外，还有可能造成组合冗余验证，从而造成工作量增加的缺陷。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种SOC芯片验证测试用例的生成方法和系统，以解决现有技术中由于遗漏而造成特有组合没有进行验证以及可能造成组合冗余验证的缺陷。
[0004]本专利技术第一方面提供一种SOC芯片验证测试用例的生成方法，包括：根据待验证SOC芯片的设计手册提取待验证模块的验证点类别以及对应的验证点；
[0005]根据所述验证点类别和对应的验证点生成测试源文件；
[0006]基于所述测试源文件采用成对独立组合测试方法生成正交测试组合；
[0007]根据所述正交测试组合和寄存器解析文件生成测试用例，进行所述SOC芯片验证。
[0008]优选地，所述根据待验证SOC芯片的设计手册提取待验证模块的验证点类别以及对应的验证点具体包括：
[0009]根据所述待验证SOC芯片的设计手册提取待验证模块的验证点类别以及对应的验证点；
[0010]根据所述待验证SOC芯片的设计手册确定功能最高优先级的验证点类别以及对应的验证点；/>[0011]将所述最高优先级的验证点类别以及对应的验证点为功能线，将其他验证点串起来，形成验证点树状结构。
[0012]优选地，所述根据所述验证点类别和对应的验证点生成测试源文件具体包括：
[0013]根据所述验证点树状结构生成测试源文件。
[0014]优选地，所述方法还包括：
[0015]获取所述测试源文件中的每一验证点对应的寄存器名称、位域名称、位域段以及偏移地址；
[0016]根据每一验证点对应寄存器名称、位域名称、位域段以及偏移地址生成寄存器解析文件。
[0017]优选地，根据所述正交测试组合和寄存器解析文件生成测试用例，进行所述SOC芯片验证具体包括：
[0018]从所述寄存器解析文件中获取每一验证点对应的值，对所述正交组合中的每一正
交组合的每一特征点进行代码赋值，生成测试用例。
[0019]本专利技术第二方面提供一种SOC芯片验证测试用例的生成系统，包括：
[0020]验证点确定单元，用于根据待验证SOC芯片的设计手册提取待验证模块的验证点类别以及对应的验证点；
[0021]测试源文件生成单元，用于根据所述验证点类别和对应的验证点生成测试源文件；
[0022]正交测试组合生成单元，用于基于所述测试源文件采用成对独立组合测试方法生成正交测试组合；
[0023]测试用例生成单元，用于根据所述正交测试组合和寄存器解析文件生成测试用例，进行所述SOC芯片验证。
[0024]优选地，所述验证点确定单元具体用于：
[0025]根据所述待验证SOC芯片的设计手册提取待验证模块的验证点类别以及对应的验证点；
[0026]根据所述待验证SOC芯片的设计手册确定功能最高优先级的验证点类别以及对应的验证点；
[0027]根据所述最高优先级的验证点类别以及对应的验证点为功能线，将其他验证点串起来，形成验证点树状结构。
[0028]优选地，所述测试源文件具体用于：
[0029]根据所述验证点树状结构生成测试源文件。
[0030]优选地，根据所述正交测试组合和寄存器解析文件生成测试用例，进行所述SOC芯片验证具体包括：
[0031]从所述寄存器解析文件中获取每一验证点对应的值，对所述正交组合中的每一正交组合的每一特征点进行代码赋值，生成测试用例。
[0032]优选地，所述系统还包括寄存器解析文件生成单元，所述寄存器解析文件生成单元用于：获取所述测试源文件中的每一验证点对应的寄存器名称、位域名称、位域段以及偏移地址；根据每一验证点对应寄存器名称、位域名称、位域段以及偏移地址生成寄存器解析文件。
[0033]通过根据设计文档提取待验证模块的功能类别以及对应的验证点，然后再根据设计文档和验证点生成测试源文件，根据所述验证点测试源文件采用成对独立组合测试方法生成验证点正交文件，根据所述验证点正交文件和寄存器解析文件生成测试用例，所述测试用例用于进行SOC芯片验证。该方法能够克服因遗漏组合而使得某些特殊的用例没有进行验证的缺陷，此外还能够克服由于重复冗余验证带来的验证工作增加的缺陷。
附图说明
[0034]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，根据这些附图获得其他的附图仍属于本专利技术的范畴。
[0035]图1示出了本专利技术实施例一的SCO芯片验证系统的结构示意图；
[0036]图2示出了本专利技术实施例一的SOC芯片验证测试用例的生成方法的流程示意图；
[0037]图3示出了本专利技术实施例一的SOC芯片验证测试用例的树状结构的示意图；
[0038]图4示出了本专利技术实施例一的SOC芯片验证测试用例的源文件示意图；
[0039]图5示出了本专利技术实施例一的SOC芯片验证测试用例的正交组合的示意图。
具体实施方式
[0040]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术作进一步地详细描述。
[0041]图1示出了SOC芯片验证系统的结构示意图，该SOC芯片验证系统100包括待验证芯片2和验证平台1，待验证芯片2和验证平台1通过接口进行连接，待验证芯片2包括CPU，CPU中具有可编程软件，例如keil，待验证SOC芯片还包括待验证模块，例如I2S模块、UART模块、DSP模块。待验证模块通过总线AHB与CPU进行通信。验证平台1中有与待验证模块一一对应的验证组件，例如待验证芯片中有I2S模块、UART模块、DSP模块，验证平台上有I2S组件、UART组件、DSP验证组件，此外验证平台中还有VIP验证组件、Sequence_lib。
[0042]本专利技术实施例一提供一种SOC芯片验证测试用例的生成方法，如图2所示，该方法包括如下步骤:
[0043]S1、根据待验证SOC芯片的设计手册提取待验证模块的验证特征类别以及对应的验证点。
[0044]根据SOC芯片的设计手册获取待验证模块的测试内容，确定待测试模块的测试内容所属的验证类别，其中测试内容的验证类别包括功能类、场景类、性能类、接口类、异常类以及白盒测试点6个，根据待验证SOC芯片的设计手册可以确定待验证模块的测试内容具体属于哪一个验证类别。其中功能类、场景类本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种SOC芯片验证测试用例的生成方法，其特征在于，包括：根据待验证SOC芯片的设计手册提取待验证模块的验证点类别以及对应的验证点；根据所述验证点类别和对应的验证点生成测试源文件；基于所述测试源文件采用成对独立组合测试方法生成正交测试组合；根据所述正交测试组合和寄存器解析文件生成测试用例，进行所述SOC芯片验证。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据待验证SOC芯片的设计手册提取待验证模块的验证点类别以及对应的验证点具体包括：根据所述待验证SOC芯片的设计手册提取待验证模块的验证点类别以及对应的验证点；根据所述待验证SOC芯片的设计手册确定功能最高优先级的验证点类别以及对应的验证点；将所述最高优先级的验证点类别以及对应的验证点为功能线，将其他验证点串起来，形成验证点树状结构。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述验证点类别和对应的验证点生成测试源文件具体包括：根据所述验证点树状结构生成测试源文件。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述测试源文件中的每一验证点对应的寄存器名称、位域名称、位域段以及偏移地址；根据每一验证点对应寄存器名称、位域名称、位域段以及偏移地址生成寄存器解析文件。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述正交测试组合和寄存器解析文件生成测试用例，进行所述SOC芯片验证具体包括：从所述寄存器解析文件中获取每一验证点对应的值，对所述正交组合中的每一正交组合的每一特征点进行代码赋值，生成测试用例。6.一种SOC芯片验证测试用例的生成系统，...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁小江，谢柱能，姚猛，连光，李双宏，
申请(专利权)人：江西创成微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：