【技术实现步骤摘要】
一种摆线齿锥齿轮齿面热变形修正方法、系统、设备以及存储介质
[0001]本专利技术涉及齿锥齿轮齿面
,具体涉及一种摆线齿锥齿轮齿面热变形修正方法、系统、设备以及存储介质。
技术介绍
[0002]摆线齿锥齿轮采用平面产形轮连续分度(Face
‑
hobbing)加工,根据加工方法和机床的不同可分为德国克林根贝格公司的cyclo
‑
palloid制和瑞士奥利康制,后者包括半展成的Spirac法和全展成的Spiroflex法。
[0003]摆线齿锥齿轮理论上可以加工出完全共轭的齿轮副,但为了实现实际要求的局部接触,克林根贝格采用机械结构极为复杂的分体刀盘,奥利康采用计算繁复的刀倾方法。目前,克林根贝格将分体式刀盘和圆弧切削刃相结合,通过圆弧切削刃来进行齿高方向修形,通过改变内、外刀盘轴线偏心距来实现齿长方向的“鼓形”。
[0004]近十多年来,格里森和克林贝格都专利技术了六轴联动的数控锥齿轮机床,不仅取消了机床摇盘,采用硬质合金尖齿条整体刀盘刀倾法加工摆线齿锥齿轮,机床可高速 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种摆线齿锥齿轮齿面热变形修正方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1,根据齿轮副齿面接触结果获取接触斑点特征参数,并确定接触斑点在齿面旋转投影平面内的理论参数;步骤S2,提取第一次试切齿轮副滚检接印痕,进行接触斑点映射处理;步骤S3,基于第一次试切齿轮副滚检接触斑点映射与接触斑点理论参数之间的误差,进行第一次齿面反调修正;步骤S4,第二次齿轮副滚检以步骤S3第一次齿面反调修正结果进行试切,基于前两次试切齿轮副滚检结果确定齿面接触斑点中心调整系数;步骤S5,基于步骤S4确定的齿面接触斑点中心调整系数,进行第二次齿面反调修正,从而确定出第三次齿面接触斑点中心的反调修正函数;步骤S6,第三次齿轮副滚检以步骤S5确定出第三次齿面接触斑点中心的反调修正函数进行试切后,判断第三次试切齿轮副滚检的印痕结果是否与步骤S1接触斑点的理论参数相匹配,若匹配,则结束齿面反调修正,若不匹配,则重复步骤S5。2.根据权利要求1所述的一种摆线齿锥齿轮齿面热变形修正方法,其特征在于,所述的步骤S2中,所述的进行接触斑点映射处理为:式中,a为接触斑宽度,c为接触斑点中心到大轮的距离,β
m
为齿轮副中大轮的中点螺旋角。3.根据权利要求1所述的一种摆线齿锥齿轮齿面热变形修正方法,其特征在于,所述的步骤S3中,所述的第一次齿面反调修正为:c1=c+(c
‑
c1)/2,式中,c1为计旋转投影面上实际印痕中心到大端距离,c为接触斑点中心到轮齿大端的距离;g1=g+(g
‑
g1)/2,式中,g1为计旋转投影面上实际印痕中心到齿顶距离,g为接触斑点中心到齿顶的距离。4.根据权利要求1所述的一种摆线齿锥齿轮齿面热变形修正方法,其特征在于,所述的步骤S4中,所述的确定齿面接触斑点中心调整系数为:式中,c1为计旋转投影面上实际印痕中心到大端距离,c为接触斑点中心到轮齿大端的距离,g1为计旋转投影面上实际印痕中心到齿顶距离,g为接触斑点中心到齿顶的距离,c2、g2分别为第二次试切齿轮副在旋转投影面上实际印痕中心到大端和到齿顶的距离,k
c
为基于前两次试切滚检结果确定的接触斑点中心到轮齿大端的距离调整系数,k
g
为基于前两次试切滚检结果确定的接触斑点中心到齿顶的距离调整系数。5.根据权利要求1所述的一种摆线齿锥齿轮齿面热变形修正方法,其特征在于,所...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨化伟,李凌志,谢军,王茗苇,谷占芳,王天一,
申请(专利权)人:中国第一汽车股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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