检测光子和带电粒子的装置和方法及其用途制造方法及图纸

本发明专利技术涉及用于确定与光子和带电粒子有关的事件的解决方案，该解决方案在使用与强子治疗相关的方法的治疗中有用。在本发明专利技术的一个方面，它涉及具有光子检测面板(1)和带电粒子检测面板(2)的夹层型结构的装置，其可以适当地与相应的传感器相关联。还包括使用上述装置检测光子和带电粒子的方法。最后，描述了本发明专利技术的目的在强子治疗中的具体用途。明的目的在强子治疗中的具体用途。明的目的在强子治疗中的具体用途。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】检测光子和带电粒子的装置和方法及其用途


[0001]本专利技术的目的属于物理
，更具体地属于粒子检测领域。

技术介绍

[0002]强子治疗的主要缺点之一是没有有效的方法来实时确定辐射剂量是否正确地应用于预期部位。检测在被照射时从组织中逸出的次级粒子提供了用于监测治疗的方法。目前，正电子发射断层扫描是唯一使用的方法，但在检测效率和性能方面存在严重缺陷，因此正在研究替代监测方法。
[0003]这些替代方案之一包括检测组织发射的伽马辐射。目前有不同类型的检测器正在开发中，用于检测发射的伽马辐射，但它们尚未投入使用。准直相机和康普顿相机都已开发出来。
[0004]准直相机是一种简单的方法，接近临床使用，但效率不高，并且仅提供剂量应用变化的一维视图。
[0005]康普顿相机用于或研究不同领域的辐射检测和定位：天体物理学、国家安全、核灾难后定位放射源、医学成像以及最近的强子治疗监测。在每种情况下，它们都包含必须针对特定场景进行优化的检测器。这种类型的相机提供了一种更有效的监控方法。然而，它们的响应也受到限制，因为在临床应用环境本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.检测光子和带电粒子的装置，其特征在于，所述装置包括：
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第一光子检测面板(11)，其引起入射辐射与带电粒子的康普顿散射，使得其波长增加，丢失其能量的部分，产生信号，
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中央带电粒子检测面板(22)，在所述第一光子检测面板(11)之后，在与所述入射辐射相反的一侧，识别在所述第一光子检测面板(11)中产生的带电粒子，产生信号，以及
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第二光子检测面板(12)，在所述中央带电粒子检测面板(22)之后，在与所述第一光子检测面板(11)相反的一侧，其中在所述第一光子检测面板(11)中产生的散射光子和/或带电粒子相互作用，产生信号。2.根据权利要求1所述的用于检测光子和带电粒子的装置，还包括位于所述入射辐射和所述第一光子检测面板(11)之间的正面带电粒子检测面板(21)，其识别来自所述入射辐射或环境的带电粒子，产生信号。3.根据权利要求2所述的用于检测光子和带电粒子的装置，还包括后部带电粒子检测器(23)，其检测由所述第二光子检测面板(12)中的光子相互作用产生的带电粒子。4.根据权利要求3所述的用于检测光子和带电粒子的装置，还包括第二中央带电粒子检测面板(22)。5.根据权利要求1所述的用于检测光子和带电粒子的装置，还包括位于所述第二光子检测面板(12)之后的第三光子检测面板(13)，以及定位在所述第二光子检测面板(12)与所述第三光子检测面板(13)之间的后部带电粒子检测面板(23)。6.根据权利要求5所述的用于检测光子和带电粒子的装置，还包括位于所述辐射源和所述第一光子检测面板(11)之间的正面粒子检测面板(21)。7.根据权利要求5所述的用于检测光子和带电粒子的装置，还包括位于所述第三光子检测面板(13)之后的后部带电粒子检测面板(26)。8.根据权利要求5所述的用于检测光子和带电粒子的装置，还包括位于所述辐射源和所述第一光子检测面板(11)之间的正面粒子检测面板(21)，以及位于所述第三...

【专利技术属性】
技术研发人员：G，
申请(专利权)人：瓦伦西亚大学，
类型：发明
国别省市：