开关机测试方法、测试装置、测试系统以及存储介质制造方法及图纸

本申请涉及开关机测试技术领域，公开了开关机测试方法、测试装置、测试系统以及存储介质。该方法应用于第一测试装置，第一测试装置连接待测试设备和第二测试装置，第二测试装置连接待测试设备，该方法包括：控制第二测试装置对待测试设备进行开机操作；检测到待测试设备开机进入操作系统后，向待测试设备输入目标场景事件，以使待测试设备执行目标场景事件；控制第二测试装置对待测试设备进行关机操作；采集待测试设备在开机、执行目标场景事件以及关机的过程中的日志信息，基于日志信息得到测试结果。通过上述方式，能够提高测试结果的准确性和可靠性。确性和可靠性。确性和可靠性。

【技术实现步骤摘要】
开关机测试方法、测试装置、测试系统以及存储介质


[0001]本申请涉及开关机测试
，特别是涉及开关机测试方法、测试装置、测试系统以及存储介质。

技术介绍

[0002]随着计算机技术、通信技术、网络技术、控制技术、信息技术的迅猛发展，国民经济水平的不断提高，工作及生活中拥有的电子产品种类逐渐增多，同时消费者对电子产品的性能及寿命提出了更高的要求，因此生产厂商在研发及生产阶段对这些产品进行上千次或上百次的开关机测试，以确保电子产品在连续开关机状态转换下的可靠性和产品寿命。
[0003]但是相关的开关机测试的测试效果较差，如机械式的对设备进行开机关机。

技术实现思路

[0004]本申请主要解决的技术问题是提供开关机测试方法、测试装置、测试系统以及存储介质，能够提高测试结果的准确性和可靠性。
[0005]为了解决上述问题，本申请采用的一种技术方案是提供一种开关机测试方法，该方法应用于第一测试装置，第一测试装置连接待测试设备和第二测试装置，第二测试装置连接待测试设备，该方法包括：控制第二测试装置对待测试设备进行开机操本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种开关机测试方法，其特征在于，所述方法应用于第一测试装置，所述第一测试装置连接待测试设备和第二测试装置，所述第二测试装置连接所述待测试设备，所述方法包括：控制所述第二测试装置对所述待测试设备进行开机操作；检测到所述待测试设备开机进入操作系统后，向所述待测试设备输入目标场景事件，以使所述待测试设备执行所述目标场景事件；控制所述第二测试装置对所述待测试设备进行关机操作；采集所述待测试设备在开机、执行所述目标场景事件以及关机的过程中的日志信息，基于所述日志信息得到测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述待测试设备首次连接所述第一测试装置和所述第二测试装置时，控制所述第二测试装置对所述待测试设备进行关机操作，以获取所述待测试设备的目标关机类型；再次控制所述第二测试装置对所述待测试设备进行关机操作时，采用所述目标关机类型对所述待测试设备进行关机操作。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述待测试设备首次连接所述第一测试装置和所述第二测试装置时，控制所述第二测试装置对所述待测试设备进行关机操作，以获取所述待测试设备的目标关机类型，包括：在所述待测试设备首次连接所述第一测试装置和所述第二测试装置时，控制所述第二测试装置对所述待测试设备的电源键进行模拟按压操作，以使所述待测试设备进入关机选择界面；利用多个预设关机类型的关机流程在所述关机选择界面进行关机操作；将对所述待测试设备成功关机的预设关机类型作为所述目标关机类型。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制所述第二测试装置对所述待测试设备进行开机操作，包括：获取开机按压时间；控制所述第二测试装置按照所述开机按压时间对所述待测试设备的电源...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢永煌，
申请(专利权)人：深圳市江波龙电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：