一种基于CPCI架构的PCI总线测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于CPCI架构的PCI总线测试装置，该装置包括测试底板，所述测试底板集成有待测试CPCI主板连接接口、物理通道、测试计算机连接接口以及多通道测试网卡单元；所述待测试CPCI主板连接接口用于供待测试CPCI主板接入所述测试底板；所述物理通道用于将所述待测试CPCI主板的PCI总线路由到所述多通道测试网卡单元；所述测试计算机连接接口用于供测试计算机接入所述测试底板。该装置采用在测试底板上设置多个PCI网卡的方式，无需外接CPCI标准的外设板，即可以实现对待测试CPCI主板全部功能的测试。测试设备体积小，效率高，操作简单，可实现一键自动测试。同时，功能测试全面且经济性好。面且经济性好。面且经济性好。

【技术实现步骤摘要】
一种基于CPCI架构的PCI总线测试装置


[0001]本专利技术涉及数据总线测试
，特别是涉及一种设备体积小且效率高的基于CPCI架构的PCI总线测试装置。

技术介绍

[0002]Compact PCI（Compact Peripheral Component Interconnect）简称CPCI，中文又称紧凑型PCI，是国际工业计算机制造者联合会（PCI Industrial Computer Manufacturer's Group，简称PICMG）于1994提出来的一种总线接口标准。CPCI架构由于其开放性的架构体系和通用的操作系统等优势广泛地应用于PC机、工控机及军用装备等领域。CPCI主板均含有CPCI总线功能，目前行业内的CPCI架构的PCI总线主控板一般支持7个外部设备，CPCI主板制作完成后需要对CPCI总线功能进行测试，保证CPCI总线功能全部正常后才能与其他设备进行连接使用。
[0003]对于CPCI总线功能的测试，目前行业内的通用做法是使用一个支持7个外部设备的标准机箱，并插入带标准PCI总线的7个外设板卡进行测试。这种方式使得测试设备体积较大。同时，由于测试设备容量有限，导致产品试验效率低下，进而大大增加了试验成本。
[0004]因此，如何提供一种设备体积小且测试效率高的总线测试装置，是迫切需要本领域技术人员解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]鉴于上述问题，本专利技术提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种基于CPCI架构的PCI总线测试装置。该装置缩小了测试设备体积，提升了产品测试效率；降低了测试设备成本以及试验成本。
[0006]本专利技术提供了如下方案：一种基于CPCI架构的PCI总线测试装置，包括：测试底板，所述测试底板集成有待测试CPCI主板连接接口、物理通道、测试计算机连接接口以及多通道测试网卡单元；所述待测试CPCI主板连接接口用于供待测试CPCI主板接入所述测试底板；所述物理通道用于将所述待测试CPCI主板的PCI总线路由到所述多通道测试网卡单元；所述测试计算机连接接口用于供测试计算机接入所述测试底板；所述多通道测试网卡单元包括至少两个PCI网卡，至少两个所述PCI网卡的数量与所述待测试CPCI主板支持的外部设备的数量相同；至少两个所述PCI网卡中的偶数个两两为一组且同组中的两个所述PCI网卡互连；其中，同组的两个所述PCI网卡互为收发设备，以便通过同组的两个所述PCI网卡实现对两个目标网络通道的连通状况进行测试，所述目标网络通道为所述待测试CPCI主板与同组的两个所述PCI网卡通过外部网线形成的网络通道。
[0007]优选地：所述物理通道包括电阻网络，所述测试底板通过所述电阻网络将所述待
测试CPCI主板的PCI总线路由到所述多通道测试网卡单元。
[0008]优选地：同组中的两个所述PCI网卡通过电容耦合方式互连。
[0009]优选地：所述PCI网卡的数量为奇数，所述测试计算机连接接口为偶数个所述PCI网卡以外的一个所述PCI网卡的网口。
[0010]优选地：所述PCI网卡的数量为7个，其中6个所述PCI网卡两两互连，另外1个所述PCI网卡的网口引出形成所述测试计算机连接接口。
[0011]优选地：所述测试底板还集成有电源，所述电源用于为所述待测试CPCI主板以及所述多通道测试网卡单元供电。
[0012]优选地：所述待测试CPCI主板连接接口包括CPCI连接器。
[0013]优选地：所述测试底板的时钟信号在PCB布线过程中按照6800Mil 进行等长。
[0014]优选地：所述通过同组的两个所述PCI网卡实现对两个目标网络通道的连通状况进行测试，包括：分别为两个所述PCI网卡一一对应的配置没有主机对应的目的地址；两个所述PCI网卡中本方PCI网卡通过与其对应的所述目的地址接收对方PCI网卡发送的目标数据包；所述目标数据包为所述测试计算机发送给所述待测试CPCI主板并由所述待测试CPCI主板发送给所述对方PCI网卡的数据包；所述测试计算机根据所述本方PCI网卡回应ICMP协议侦的情况确定所述目标网络通道的连通状况。
[0015]优选地：两个所述PCI网卡包括第一PCI网卡以及第二PCI网卡，所述第一PCI网卡包括第一网口，所述第二PCI网卡包括第二网口；所述分别为两个所述PCI网卡一一对应的配置没有主机对应的目的地址；包括：获取第一网口以及第二网口的MAC地址；配置第一网口以及第二网口的IP分别为IP1与IP2；配置第一网口所述目的地址为IP3以及第二网口所述目的地址为IP4；配置静态ARP表项，以使发往所述IP3和所述IP4地址的数据包不再有ARP请求，所述IP3绑定解析第二网口的MAC地址，所述IP4绑定解析第一网口的MAC地址；配置源地址转换和目的地址转换，将从所述IP1出去的数据包的源地址改为所述IP4，将从所述IP2出去的数据包的源地址改为所述IP3，将收到的目的地址为所述IP3的数据包的目的地址改为所述IP2，将收到的目的地址为所述IP4的数据包的目的地址改为所述IP1。
[0016]根据本专利技术提供的具体实施例，本专利技术公开了以下技术效果：本申请实施例提供的一种基于CPCI架构的PCI总线测试装置，采用在测试底板上设置多个PCI网卡的方式，无需外接CPCI标准的外设板，即可以实现对待测试CPCI主板全部功能的测试。测试设备体积小，效率高，操作简单，可实现一键自动测试。同时，功能测试全面且经济性好。
[0017]当然，实施本专利技术的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所
需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来说，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1是本专利技术实施例提供的一种基于CPCI架构的PCI总线测试装置的结构示意图;图2是本专利技术实施例提供的同组两个所述PCI网卡测试过程示意图；图3是本专利技术实施例提供的传统采用两个设备对网络进行测试示意图；图4是本专利技术实施例提供的单台设备进行自收发测试产生回环通信示意图；图5是本专利技术实施例提供的单台设备进行自收发测试设置没有主机对应的收发地址后的示意图；图6是本专利技术实施例提供的单台设备进行自收发测试接入测试交换机后的示意图。
[0020]图中：测试底板1、待测试CPCI主板连接接口2、物理通道3、测试计算机连接接口4、多通道测试网卡单元5、PCI网卡51、待测试CPCI主板6、测试计算机7、测试交换机8、PC机9、设备a、设备b、网口U0、网口U1、网口U2。
具体实施方式
[0021]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于CPCI架构的PCI总线测试装置，其特征在于，包括：测试底板，所述测试底板集成有待测试CPCI主板连接接口、物理通道、测试计算机连接接口以及多通道测试网卡单元；所述待测试CPCI主板连接接口用于供待测试CPCI主板接入所述测试底板；所述物理通道用于将所述待测试CPCI主板的PCI总线路由到所述多通道测试网卡单元；所述测试计算机连接接口用于供测试计算机接入所述测试底板；所述多通道测试网卡单元包括至少两个PCI网卡，至少两个所述PCI网卡的数量与所述待测试CPCI主板支持的外部设备的数量相同；至少两个所述PCI网卡中的偶数个两两为一组且同组中的两个所述PCI网卡互连；其中，同组的两个所述PCI网卡互为收发设备，以便通过同组的两个所述PCI网卡实现对两个目标网络通道的连通状况进行测试，所述目标网络通道为所述待测试CPCI主板与同组的两个所述PCI网卡通过外部网线形成的网络通道。2.根据权利要求1所述的基于CPCI架构的PCI总线测试装置，其特征在于，所述物理通道包括电阻网络，所述测试底板通过所述电阻网络将所述待测试CPCI主板的PCI总线路由到所述多通道测试网卡单元。3.根据权利要求1所述的基于CPCI架构的PCI总线测试装置，其特征在于，同组中的两个所述PCI网卡通过电容耦合方式互连。4.根据权利要求1所述的基于CPCI架构的PCI总线测试装置，其特征在于，所述PCI网卡的数量为奇数，所述测试计算机连接接口为偶数个所述PCI网卡以外的一个所述PCI网卡的网口。5.根据权利要求4所述的基于CPCI架构的PCI总线测试装置，其特征在于，所述PCI网卡的数量为7个，其中6个所述PCI网卡两两互连，另外1个所述PCI网卡的网口引出形成所述测试计算机连接接口。6.根据权利要求1所述的基于CPCI架构的PCI总线测试装置，其特征在于，所述测试底板还集成有电源，所述电源用于为所述待测试CPCI主板以及所述多通道测试网卡单元供电。7...

【专利技术属性】
技术研发人员：王浩宇，李泽银，武佳骏，张皓林，
申请(专利权)人：中国兵器装备集团自动化研究所有限公司，
类型：发明
国别省市：