一种大直径薄壁件厚度测量工装制造技术

本实用新型专利技术公开了膜片厚度测量技术领域的一种大直径薄壁件厚度测量工装，包括磁吸模；过渡盘，过渡盘设置于磁吸模上，并用于承载待加工膜片；千分尺，千分尺包括测微螺杆、U型尺架和测砧，测微螺杆可升降地设置于所述U型尺架的上支脚上，测砧设置于所述U型尺架的下支脚上；过渡盘上设有避让槽，U型尺架的下支脚可插入避让槽内，测砧的下工作面可与待加工膜片的下测量面相贴合。本实用新型专利技术通过在磁吸模和待加工膜片间设置带有避让槽的过渡盘，使得大跨距的千分尺可插入避让槽中并对待加工膜片的实时厚度直接测量，可准确获取待加工膜片的实时壁厚尺寸，并满足精度要求。并满足精度要求。并满足精度要求。

【技术实现步骤摘要】
一种大直径薄壁件厚度测量工装


[0001]本技术涉及膜片厚度测量
，具体涉及一种大直径薄壁件厚度测量工装。

技术介绍

[0002]在机械加工领域中，直径大于Φ2000mm的大直径薄壁件一直是加工难点，因其具有表面积大且厚度薄的特点，决定了薄壁件加工过程中极易变形，但部分薄壁件精度要求非常高。
[0003]在众多难加工的薄壁件中，船用减震膜片是其中之一。如图4所示，其外径尺寸为Φ2000mm，内径尺寸为Φ800mm，壁厚为10mm，膜片上设有环槽结构，零件需求两平面的平面度为0.08，厚度尺寸公差为
±
0.03mm，加工精度方便的要求非常高。
[0004]现有膜片厚度测量方法主要有两种，第一种是百分表间接测量法；第二种是超声波探伤仪测量法。对于百分表间接测量法而言，由于膜片径向尺寸大，且膜片两侧为环槽结构，只能先使用标准千分尺测量出膜片两端面间的厚度尺寸(10mm)，再通过百分表打表测量高度落差间接换算得出环槽处壁厚尺寸(5mm)；但考虑到膜片上环槽面积较大，采用百分表测量法需打表测量多个位置点再进行计算，操作极为繁琐。对于超声波探伤仪测量法而言，该方法存在精度不够，无法满足
±
0.03mm的测量精度要求的缺点；同时在膜片下表面与机床转台上表面紧密贴的情况下，超声波探伤仪无法识别膜片与机床转台，所测值并非膜片壁厚的绝对值，故超声波探伤仪仅能实现膜片成品的测量，无法实现膜片加工过程中厚度的实时测量。
[0005]此外，大直径膜片加工时易变形，需先使用磁吸模将膜片磁吸固定，然后在磁吸状态下进行加工，如此一来，在膜片下表面与磁吸模贴合的情况下，以上两种测量方法均无法在两次加工的间隙直接且准确测量出膜片厚度尺寸。

技术实现思路

[0006]有鉴于此，本技术的目的在于提供一种大直径薄壁件厚度测量工装，以解决现有测量方法无法实时直接测量膜片厚度的技术问题。
[0007]本技术所采用的技术方案为：一种大直径薄壁件厚度测量工装，包括：
[0008]磁吸模；
[0009]过渡盘，所述过渡盘设置于所述磁吸模上，并用于承载待加工膜片；
[0010]千分尺，所述千分尺包括测微螺杆、U型尺架和测砧，所述测微螺杆可升降地设置于所述U型尺架的上支脚上，且所述测微螺杆设有用于与所述待加工膜片的上测量面相贴合的上工作面；所述测砧设置于所述U型尺架的下支脚上，且所述测砧设有用于与所述待加工膜片的下测量面相贴合的下工作面；
[0011]所述过渡盘上设有避让槽，所述U型尺架的下支脚可插入所述避让槽内，且所述测砧的下工作面可与所述待加工膜片的下测量面相贴合。
[0012]优选的，所述避让槽沿所述过渡盘径向设置。
[0013]优选的，所述过渡盘呈圆环状，所述避让槽包括内侧避让槽和外侧避让槽，所述内侧避让槽设置于所述过渡盘的内圆周上，所述外侧避让槽设置于所述过渡盘的外圆周上。
[0014]优选的，所述内侧避让槽和所述外侧避让槽在所述过渡盘的圆周方向上交替设置。
[0015]优选的，多个所述内侧避让槽和所述外侧避让槽圆周均布于所述过渡盘上。
[0016]优选的，所述内侧避让槽和所述外侧避让槽的数量均为6～8个。
[0017]优选的，所述测砧设置于所述U型尺架的下支脚内侧，且所述测砧的所述下工作面与所述U型尺架的下支脚内侧面的距离不小于所述待加工膜片上环槽的槽深。
[0018]优选的，所述测砧可绕升降的设置于所述U型尺架的下支脚内侧。
[0019]优选的，所述测砧包括紧固螺栓和支撑块，所述紧固螺栓螺纹连接于所述U型尺架的下支脚上，所述支撑块设置于所述U型尺架的下支脚内侧并与所述紧固螺栓的一端固定连接，所述紧固螺栓的上表面为所述下工作面。
[0020]优选的，所述U型尺架的封闭端设有握持部。
[0021]本技术的有益效果：
[0022]1、本技术在磁吸模和待加工膜片之间设有导磁材料制成的过渡盘，可通过导磁材料的导磁作用将待加工膜片磁吸固定于过渡盘上，同时将避让槽设置在过渡盘上，可使得过渡盘下方的磁吸模对整个待加工膜片施加相同的磁吸作用力，使得待加工膜片受力均匀。本技术在过渡盘上设置有避让槽，使得千分尺的U型尺架的下支脚可插入避让槽内，进而实现千分尺的测砧的下工作面与待加工膜片的下测量面的贴合，从而实现待加工膜片各处壁厚的直接实时测量。
[0023]2、本技术在过渡盘上沿径向设置有避让槽，且避让槽包括沿过渡盘圆周方向均匀设置的6～8个内侧避让槽和外侧避让槽，可通过将千分尺的U型尺架的下支脚插入不同的内侧避让槽或外侧避让槽中，并通过调节千分尺的测微螺杆和测砧的位置实现待加工膜片不同位置厚度的直接测量。
[0024]3、本技术中测砧的下工作面与U型尺架的下支脚内侧面的距离不小于待加工膜片上环槽的槽深，使得千分尺的U型尺架插入避让槽中后，可以通过转动千分尺的微调旋钮和粗调旋钮，使得千分尺的测微螺杆与测砧的逐渐靠近，直至夹紧待加工膜片，可准确测量出待加工膜片的厚度，并满足精度要求。
[0025]4、本技术中测砧可升降的设置在U型尺架的下支脚内侧面上，可通过调节测砧的下工作面与U型尺架的下支脚内侧面的距离，使得本技术的工装适用于不同槽深的膜片厚度的直接测量。
[0026]5、本技术的测量方法实现了膜片厚度的在线测量，具有数据准确和操作简单的优点。
[0027]6、本技术的测量工装解决了膜片磁吸加工过程中的实时壁厚测量问题，通过接触式量具直接测量，可获取准确壁厚尺寸，并保证整个加工测量过程不下车，避免了反复上下车测量引起的误差，从而确保了零件
±
0.03mm的尺寸精度。
附图说明
[0028]图1为本技术的大直径薄壁件厚度测量工装的结构示意图；
[0029]图2为本技术的膜片加工装夹示意图；
[0030]图3为本技术的过渡盘的结构示意图；
[0031]图4为膜片的结构示意图。
[0032]图中附图标记说明：
[0033]10、磁吸模；
[0034]20、过渡盘；
[0035]21、避让槽；211、外侧避让槽；212、内侧避让槽；22、第二内孔；
[0036]30、千分尺；
[0037]31、测微螺杆；32、U型尺架；321、握持部；33、测砧；331、支撑块；332、紧固螺栓；34、固定套管；35、微分筒；36、粗调旋钮；37、微调旋钮；
[0038]40、待加工膜片；
[0039]41、第一内孔；42、环槽。
具体实施方式
[0040]下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步详细说明。这些实施方式仅用于说明本技术，而并非对本技术的限制。
[0041]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种大直径薄壁件厚度测量工装，其特征在于，包括：磁吸模(10)；过渡盘(20)，所述过渡盘(20)设置于所述磁吸模(10)上，并用于承载待加工膜片(40)；千分尺(30)，所述千分尺(30)包括测微螺杆(31)、U型尺架(32)和测砧(33)，所述测微螺杆(31)可升降地设置于所述U型尺架(32)的上支脚上，且所述测微螺杆(31)设有用于与所述待加工膜片(40)的上测量面相贴合的上工作面；所述测砧(33)设置于所述U型尺架(32)的下支脚上，且所述测砧(33)设有用于与所述待加工膜片(40)的下测量面相贴合的下工作面；所述过渡盘(20)上设有避让槽(21)，所述U型尺架(32)的下支脚可插入所述避让槽(21)内，且所述测砧(33)的下工作面可与所述待加工膜片(40)的下测量面相贴合。2.根据权利要求1所述的一种大直径薄壁件厚度测量工装，其特征在于，所述避让槽(21)沿所述过渡盘(20)径向设置。3.根据权利要求2所述的一种大直径薄壁件厚度测量工装，其特征在于，所述过渡盘(20)呈圆环状，所述避让槽(21)包括内侧避让槽(212)和外侧避让槽(211)，所述内侧避让槽(212)设置于所述过渡盘(20)的内圆周上，所述外侧避让槽(211)设置于所述过渡盘(20)的外圆周上。4.根据权利要求3所述的一种大直径薄壁件厚度测量工装，其特征在于，所述内侧避让槽(212)和所述外侧避让槽(21...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈昊天，徐冬，冯燕坪，蔡永林，
申请(专利权)人：上海电气电站设备有限公司，
类型：新型
国别省市：