隔离器的测试方法、设备、装置、存储介质和电子装置制造方法及图纸

技术编号:35661139 阅读:13 留言:0更新日期:2022-11-19 16:59
本发明专利技术公开了一种隔离器的测试方法、设备、装置、存储介质和电子装置。其中,该方法包括:将测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号,其中,测试信号用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试,第一部分信号用于传输至隔离器,隔离器用于响应第一部分信号输出第一目标信号;根据测试信号对第二部分信号进行调整,得到第二目标信号,其中,第二目标信号用于消减第一目标信号中存在的互调失真;将第一目标信号和第二目标信号合路输入器件性能测试仪,得到器件性能测试仪输出的隔离器的目标器件性能。本发明专利技术解决了相关技术中对隔离器进行测试的精确度较低的问题。测试的精确度较低的问题。测试的精确度较低的问题。

【技术实现步骤摘要】
隔离器的测试方法、设备、装置、存储介质和电子装置


[0001]本专利技术涉及测试
,具体而言,涉及一种隔离器的测试方法、设备、装置、计算机可读存储介质和电子装置。

技术介绍

[0002]隔离器作为一种无源器件,具有非线性特性。随着隔离器生产技术的不断进步,其各项指标也越来越高,在隔离器测试过程中产生的互调产物主要为三阶互调,隔离器的三阶互调较弱,而主信号很强,两者的频率间隔也从通常的5MHz缩小到1MHz,这也对隔离器测试提出了更高的要求。
[0003]目前,为了提高隔离器测试的准确性、减少互调产物的影响,主要采用选用高质量信号源、线性好的功率放大器、动态范围大的频谱仪等办法,这些方法都是通过硬件设备的选型实现的,对硬件资源的限制较高,也只能消减一小部分互调失真,导致对隔离器进行解调测试的精确度较低、系统的残余互调值较高。
[0004]针对上述的问题,目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供了一种隔离器的测试方法、设备、装置、存储介质和电子装置,以至少解决相关技术中对隔离器进行测试的精确度较低的问题。
[0006]根据本专利技术实施例的一个方面,提供了一种隔离器的测试方法,包括:将测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号,其中,所述测试信号用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试,所述第一部分信号用于传输至所述隔离器,所述隔离器用于响应所述第一部分信号输出第一目标信号;根据所述测试信号对所述第二部分信号进行调整,得到第二目标信号,其中,所述第二目标信号用于消减所述第一目标信号中存在的互调失真;将所述第一目标信号和所述第二目标信号合路输入器件性能测试仪,得到所述器件性能测试仪输出的所述隔离器的目标器件性能。
[0007]可选的,在一个示例性实施例中,将测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号,包括:对所述测试信号进行分路,得到所述第一部分信号和剩余信号;对所述剩余信号进行分路,得到所述第二部分信号和第三部分信号;将所述第三部分信号输入功率计,得到功率参数,其中,所述功率参数用于对所述隔离器的器件性能进行测试。
[0008]可选的,在一个示例性实施例中,根据所述测试信号对所述第二部分信号进行调整,得到第二目标信号,包括:根据所述测试信号确定所述第二部分信号的目标调整参数,其中,所述目标调整参数用于指示所述第二部分信号待调整的参数类型以及参数值,所述参数类型包括:幅度,和/或,相位;按照所述目标调整参数将所述第二部分信号调整为所述第二目标信号,其中,所述第二目标信号与所述测试信号幅度相等,相位相反。
[0009]可选的,在一个示例性实施例中,根据所述测试信号确定所述第二部分信号的目标调整参数,包括:检测所述测试信号的第一幅度值和第一相位角,以及所述第二部分信号
的第二幅度值和第二相位角;根据所述第一幅度值与所述第二幅度值之间的幅度差,以及所述第一相位角与所述第二相位角之间的角度差,确定所述第二部分信号的目标调整参数。
[0010]可选的,在一个示例性实施例中,按照所述目标调整参数将所述第二部分信号调整为所述第二目标信号,包括:生成与所述目标调整参数匹配的目标串行数据;通过所述目标串行数据控制与所述目标调整参数匹配的参数调整器件的运行,得到所述参数调整器件输出的所述第二目标信号,其中,所述第二部分信号被输入到所述参数调整器件中,所述参数调整器件包括:数控衰减器件,和/或,数控移相器件。
[0011]可选的,在一个示例性实施例中,通过所述目标串行数据控制与所述目标调整参数匹配的参数调整器件的运行,包括:在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的幅度调整目标幅度值的情况下,通过所述目标串行数据控制所述数控衰减器件按照衰减步进将输入至所述数控衰减器件的信号的幅度调整所述目标幅度值;在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的相位调整目标角度值的情况下,通过所述目标串行数据控制所述数控移相器件按照多个移相步进中与所述目标角度值匹配的目标移相步进将输入至所述数控衰减器件的信号的相位调整所述目标角度值。
[0012]根据本专利技术的又一个实施例,还提供了一种隔离器的测试设备,包括:信号源,处理器和器件性能测试仪,其中,所述信号源与所述处理器连接,所述处理器与所述器件性能测试仪连接,所述信号源,用于输出所述测试信号,其中,所述测试信号用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试;所述处理器,用于将所述测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号,其中,所述第一部分信号用于传输至所述隔离器,所述隔离器用于响应所述第一部分信号输出第一目标信号;根据所述测试信号对所述第二部分信号进行调整,得到第二目标信号,其中,所述第二目标信号用于消减所述第一目标信号中存在的互调失真;将所述第一目标信号和所述第二目标信号合路,得到合路信号;所述器件性能测试仪,用于根据所述合路信号输出的所述隔离器的目标器件性能。
[0013]可选的,在一个示例性实施例中,所述设备还包括:功率计,其中,所述功率计与所述处理器连接,所述处理器,用于对所述测试信号进行分路,得到所述第一部分信号和剩余信号;对所述剩余信号进行分路,得到所述第二部分信号和第三部分信号;将所述第三部分信号输入功率计;根据功率参数对所述隔离器的器件性能进行测试;所述功率计,用于根据所述第三部分信号输出所述功率参数。
[0014]可选的,在一个示例性实施例中,所述处理器,包括:控制板和参数调整器件,其中,所述控制板与所述参数调整器件连接,所述参数调整器件连接在所述信号源与所述器件性能测试仪之间,所述控制板,用于生成与所述目标调整参数匹配的目标串行数据;并通过所述目标串行数据控制与所述目标调整参数匹配的参数调整器件的运行,得到所述参数调整器件输出的所述第二目标信号;所述第二部分信号被输入到所述参数调整器件中,所述参数调整器件包括:数控衰减器件,和/或,数控移相器件。
[0015]可选的,在一个示例性实施例中,所述参数调整器件包括:所述数控衰减器件,和/或,所述数控移相器件,其中,所述数控衰减器件与所述数控移相器件串联,所述数控衰减器件,用于在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的幅度调整目标幅度值的情况下,按照衰减步进将输入至所述数控衰减器件的信号的幅度调整所述目标幅度值;所述
数控移相器件,用于在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的相位调整目标角度值的情况下,按照多个移相步进中与所述目标角度值匹配的目标移相步进将输入至所述数控衰减器件的信号的相位调整所述目标角度值。
[0016]根据本专利技术的又一个实施例,还提供了一种隔离器的测试装置,包括:划分模块,用于将测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号,其中,所述测试信号用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试,所述第一部分信号用于传输至所述隔离器,所述隔离器用于响应所述第一部分信号输出第一目标信号;调整模块,用于根据所述测试信号对所述第二部分信号进行调整,得到第二目标信号,其中,所述第二目标信号用于消减所述第一目标信号中存在的互调失本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种隔离器的测试方法,其特征在于,包括:将测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号,其中,所述测试信号用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试,所述第一部分信号用于传输至所述隔离器,所述隔离器用于响应所述第一部分信号输出第一目标信号;根据所述测试信号对所述第二部分信号进行调整,得到第二目标信号,其中,所述第二目标信号用于消减所述第一目标信号中存在的互调失真;将所述第一目标信号和所述第二目标信号合路输入器件性能测试仪,得到所述器件性能测试仪输出的所述隔离器的目标器件性能。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试信号对所述第二部分信号进行调整,得到第二目标信号,包括:根据所述测试信号确定所述第二部分信号的目标调整参数,其中,所述目标调整参数用于指示所述第二部分信号待调整的参数类型以及参数值,所述参数类型包括:幅度,和/或,相位;按照所述目标调整参数将所述第二部分信号调整为所述第二目标信号,其中,所述第二目标信号与所述测试信号幅度相等,相位相反。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试信号确定所述第二部分信号的目标调整参数,包括:检测所述测试信号的第一幅度值和第一相位角,以及所述第二部分信号的第二幅度值和第二相位角;根据所述第一幅度值与所述第二幅度值之间的幅度差,以及所述第一相位角与所述第二相位角之间的角度差,确定所述第二部分信号的目标调整参数。4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述按照所述目标调整参数将所述第二部分信号调整为所述第二目标信号,包括:生成与所述目标调整参数匹配的目标串行数据;通过所述目标串行数据控制与所述目标调整参数匹配的参数调整器件的运行,得到所述参数调整器件输出的所述第二目标信号,其中,所述第二部分信号被输入到所述参数调整器件中,所述参数调整器件包括:数控衰减器件,和/或,数控移相器件。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述通过所述目标串行数据控制与所述目标调整参数匹配的参数调整器件的运行,包括:在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的幅度调整目标幅度值的情况下,通过所述目标串行数据控制所述数控衰减器件按照衰减步进将输入至所述数控衰减器件的信号的幅度调整所述目标幅度值;在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的相位调整目标角度值的情况下,通过所述目标串行数据控制所述数控移相器件按照多个移相步进中与所述目标角度值匹配的目标移相步进将输入至所述数控衰减器件的信号的相位调整所述目标角度值。6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其特征在于,所述将测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号,包括:对所述测试信号进行分路,得到所述第一部分信号和剩余信号;对所述剩余信号进行分路,得到所述第二部分信号和第三部分信号;
将所述第三部分信号输入功率计,得到功率参数,其中,所述功率参数用于对所述隔离器的器件性能进行测试。7.一种隔离器的测试设备,其特征在于,包括:信号源,处理器和器件性能测试仪,其中,所述信号源与所述处理器连接,所述处理器与所述器件性能测试仪连接,包括:所述信号源,用于输出所述测试信号,其中,所述测试信号用于对待测...

【专利技术属性】
技术研发人员:钱海喻国建宋远锋张需溥韩伟
申请(专利权)人:杭州紫光通信技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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