绝缘测试机构制造技术

本申请提供了一种绝缘测试机构，包括测试座；第一测试导电件，安装于测试座的一端；第二测试导电件，安装于测试座的另一端；测试驱动组件，与测试座连接。本申请通过测试驱动组件控制测试座靠近或远离产品，当测试座靠近并与产品的待测面贴合时，测试座上的第一测试导电件和第二测试导电件可分别与产品电连接，通过与第一测试导电件和第二测试导电件电连接的外部测试设备或绝缘测试机构自带的测试系统可实现对产品的绝缘性能进行检测。当测试座远离产品时，第一测试导电件和第二测试导电件分别与产品分离，以便对下一个产品进行重复检测。因此，该绝缘测试机构可取代人工手动检测作业，有效提高检测效率，降低人工成本。降低人工成本。降低人工成本。

【技术实现步骤摘要】
绝缘测试机构


[0001]本申请属于半导体芯片测试
，更具体地说，是涉及一种绝缘测试机构。

技术介绍

[0002]目前，电子元器件通过塑封之后，需要对塑封后的产品进行绝缘性能检测，避免产品在使用的过程中漏电而存在安全隐患。然而，对于产品的绝缘测试通常由人工手动作业，这就导致产品的绝缘检测效率低，人工成本高。

技术实现思路

[0003]本申请实施例的目的在于提供一种绝缘测试机构，以解决相关技术中存在的：塑封后的产品的绝缘检测由人工手动作业，检测效率低，人工成本高的问题。
[0004]为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案是：
[0005]提供一种绝缘测试机构，包括：
[0006]测试座，用于与产品的待测面贴合；
[0007]第一测试导电件，安装于所述测试座的一端，用于与所述产品的一端电连接；
[0008]第二测试导电件，安装于所述测试座的另一端，用于与所述产品的另一端电连接；
[0009]测试驱动组件，与所述测试座连接，用于驱动所述测试座靠近并与所述产品贴合，以使所述第一测试导电件和所述第二测试导电件分别与所述产品电连接，以及用于驱动所述测试座远离所述产品，以使所述第一测试导电件和所述第二测试导电件分别与所述产品分离。
[0010]此结构，通过测试驱动组件控制测试座靠近或远离产品，当测试座靠近并与产品的待测面贴合时，测试座上的第一测试导电件和第二测试导电件可分别与产品电连接，通过与第一测试导电件和第二测试导电件电连接的外部测试设备或绝缘测试机构自带的测试系统可实现对产品的绝缘性能进行检测。当测试座远离产品时，第一测试导电件和第二测试导电件分别与产品分离，以便对下一个产品进行重复检测。因此，该绝缘测试机构可取代人工手动检测作业，有效提高检测效率，降低人工成本。
[0011]在一个实施例中，所述测试驱动组件包括支撑座、滑动安装于所述支撑座上的滑动座和用于驱动所述滑动座往复滑动的滑动驱动单元，所述滑动驱动单元安装于所述支撑座上，所述滑动驱动单元与所述滑动座连接，所述测试座安装于所述滑动座上。
[0012]此结构，通过滑动驱动单元驱动滑动座在支撑座上往复移动，从而可带动测试座靠近或远离产品。
[0013]在一个实施例中，所述滑动驱动单元包括中部位置铰接安装于所述支撑座上的连杆、滑动安装于所述支撑座上的抵推座、安装于所述支撑座上的驱动电机和用于由所述驱动电机驱动转动以带动所述抵推座并抵推所述连杆转动的偏心轮；所述偏心轮安装于所述驱动电机的输出轴上，所述连杆的一端与所述滑动座连接，所述连杆的另一端与所述抵推座的一端抵接，所述抵推座的另一端开设有供所述偏心轮伸入的凹槽。
[0014]此结构，当驱动电机驱动偏心轮转动时，偏心轮在凹槽内转动时可一并驱动抵推座往复移动，并通过连杆可带动滑动座在支撑座上往复移动。
[0015]在一个实施例中，所述滑动座上安装有第一转动轮，所述支撑座上安装有第二转动轮，所述连杆的一端开设有供所述第一转动轮伸入的第一卡槽，所述连杆的另一端开设有供所述第二转动轮伸入的第二卡槽。
[0016]此结构，通过第一转动轮可减小连杆与滑动座之间的摩擦，通过第二转动轮可减小连杆与支撑座之间的摩擦。
[0017]在一个实施例中，所述测试驱动组件还包括安装于所述支撑座上的感应器和用于与所述感应器感应配合以限制所述滑动座的行程的感应片，所述感应片安装于所述滑动座上。
[0018]此结构，通过感应片与感应器的配合，可实现对滑动座的行程的限制。
[0019]在一个实施例中，所述绝缘测试机构还包括用于调节所述测试驱动组件的位置的位移调节组件，所述测试驱动组件安装于所述位移调节组件上。
[0020]此结构，位移调节组件可驱动测试驱动组件移动以调节测试座的位置，以实现测试座与产品的正确对位。
[0021]在一个实施例中，所述位移调节组件包括用于驱动所述测试驱动组件横向移动的横移驱动单元和用于驱动所述测试驱动组件纵向移动的纵移驱动单元，所述纵移驱动单元安装于所述横移驱动单元上，所述测试驱动组件安装于所述纵移驱动单元上。
[0022]此结构，通过横移驱动单元、纵移驱动单元和测试驱动组件可控制测试座沿XYZ轴方向移动，以实现对测试座的多方位调节。
[0023]在一个实施例中，所述测试座包括安装于所述测试驱动组件上的测试基座、用于与所述产品的部分所述待测面贴合的第一测试压头和用于与所述产品的剩余所述待测面贴合的第二测试压头，所述第一测试压头、所述第二测试压头、所述第一测试导电件和所述第二测试导电件分别安装于所述测试基座上，所述第一测试导电件用于伸入所述产品中。
[0024]此结构，通过第一测试压头和第二测试压头可实现与产品的待测面的贴合，进而实现对产品的绝缘性能的全面检测。
[0025]在一个实施例中，所述绝缘测试机构还包括用于支撑所述产品的转盘和用于驱动所述转盘转动的动力输出单元，所述动力输出单元与所述转盘连接，所述测试座设于所述转盘的上方。
[0026]此结构，动力输出单元驱动转盘转动，可带动产品转动，以将经测试座检测后的产品移送至下一工位。
[0027]在一个实施例中，所述转盘上安装有承载座，所述承载座上开设有用于容置所述产品的容置槽。
[0028]此结构，通过容置槽可实现对产品的限位固定。
附图说明
[0029]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或示范性技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些
附图获得其他的附图。
[0030]图1为本申请实施例提供的产品的立体结构示意图；
[0031]图2为本申请实施例提供的绝缘测试机构的立体结构示意图；
[0032]图3为图2去掉转盘和承载座后的立体结构示意图；
[0033]图4为图3的主视图；
[0034]图5为本申请实施例提供的测试座、第一测试导电件和第二测试导电件连接的立体结构示意图。
[0035]其中，图中各附图主要标记：
[0036]100、产品；11、第一待测面；12、第二待测面；13、第三待测面；14、第四待测面；15、槽部；16、导电针；
[0037]200、测试座；21、测试基座；22、第一测试压头；23、第二测试压头；
[0038]300、第一测试导电件；400、第二测试导电件；
[0039]500、测试驱动组件；51、支撑座；511、第二转动轮；512、感应器；52、滑动座；521、第一转动轮；522、感应片；53、滑动驱动单元；531、连杆；532、抵推座；5321、凹槽；533、驱动电机；534、偏心轮；
[0040]600、位移调节组件；61、横移驱动单元；62、纵移驱动单元；
[0041]700、转盘；71、承载座；8本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.绝缘测试机构，其特征在于，包括：测试座，用于与产品的待测面贴合；第一测试导电件，安装于所述测试座的一端，用于与所述产品的一端电连接；第二测试导电件，安装于所述测试座的另一端，用于与所述产品的另一端电连接；测试驱动组件，与所述测试座连接，用于驱动所述测试座靠近并与所述产品贴合，以使所述第一测试导电件和所述第二测试导电件分别与所述产品电连接，以及用于驱动所述测试座远离所述产品，以使所述第一测试导电件和所述第二测试导电件分别与所述产品分离。2.如权利要求1所述的绝缘测试机构，其特征在于：所述测试驱动组件包括支撑座、滑动安装于所述支撑座上的滑动座和用于驱动所述滑动座往复滑动的滑动驱动单元，所述滑动驱动单元安装于所述支撑座上，所述滑动驱动单元与所述滑动座连接，所述测试座安装于所述滑动座上。3.如权利要求2所述的绝缘测试机构，其特征在于：所述滑动驱动单元包括中部位置铰接安装于所述支撑座上的连杆、滑动安装于所述支撑座上的抵推座、安装于所述支撑座上的驱动电机和用于由所述驱动电机驱动转动以带动所述抵推座并抵推所述连杆转动的偏心轮；所述偏心轮安装于所述驱动电机的输出轴上，所述连杆的一端与所述滑动座连接，所述连杆的另一端与所述抵推座的一端抵接，所述抵推座的另一端开设有供所述偏心轮伸入的凹槽。4.如权利要求3所述的绝缘测试机构，其特征在于：所述滑动座上安装有第一转动轮，所述支撑座上安装有第二转动轮，所述连杆的一端开设有供所述第一转动轮伸入的第一卡槽，所述连杆的另一端开设有供所述第二转动轮伸入的第二卡槽。5.如权利要求2所...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘利波，姬亚平，彭外珠，何选民，
申请(专利权)人：深圳市标谱半导体股份有限公司，
类型：新型
国别省市：