一种IC测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于测试设备技术领域，涉及一种IC测试装置，包括：底座、上盖、上加强板、压头及旋钮组件；所述底座上设有用于安装待测品的安装区域；所述上盖可翻转设于所述底座上；所述上加强板可上下移动的安装于所述上盖的底部；所述压头通过第一复位部件可上下移动安装于所述上加强板底部，且所述压头位于所述安装区域的正上方，用于下压所述待测品，以使所述待测品上的连接器能够与所述安装区域内的测试探针连接；所述旋钮组件可转动设于所述上盖上，且所述旋钮组件的底部穿过所述上盖与所述上加强板抵接；其中，转动所述旋钮组件时，旋钮组件能够驱动所述上加强板朝向所述压头移动，以带动所述压头朝向安装区域的方向移动。以带动所述压头朝向安装区域的方向移动。以带动所述压头朝向安装区域的方向移动。

【技术实现步骤摘要】
一种IC测试装置


[0001]本技术属于测试设备
，涉及一种IC测试装置。

技术介绍

[0002]IC测试装置为一种用于测试IC板的装置，目前IC板的种类繁多，不同类型的IC板厚度也不一样，现有的IC测试装置压头通过螺栓固定在上盖底部，为不可移动状态，那么当IC板的厚度过厚时，压头强压容易导致IC板发生损坏，压头过薄时，会导致压头不能够作用于IC板上而将IC板稳定的进行定位，从而导现有的IC测试装置能够测试的IC板的类型过于单一。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于针对现有技术的不足，提供一种IC测试装置，以解决现有的测试装置不能够对多种厚度的IC板进行测试的问题。
[0004]为了实现上述目的，本技术采用了以下技术方案：
[0005]一种IC测试装置，包括：
[0006]底座，所述底座上设有用于安装待测品的安装区域；
[0007]上盖，所述上盖可翻转设于所述底座上；
[0008]上加强板，所述上加强板可上下移动的安装于所述上盖的底部；
[0009]压头，所述压头通过第一复位部件可上下移动安装于所述上加强板底部，且所述压头位于所述安装区域的正上方，用于下压所述待测品，以使所述待测品上的连接器能够与所述安装区域内的测试探针连接；
[0010]旋钮组件，所述旋钮组件可转动设于所述上盖上，且所述旋钮组件的底部穿过所述上盖与所述上加强板抵接；
[0011]其中，转动所述旋钮组件时，旋钮组件能够驱动所述上加强板朝向所述压头移动，以带动所述压头朝向安装区域的方向移动。
[0012]进一步的，所述旋钮组件包括：旋钮及固定安装于所述旋钮的底部的转动连接部件，所述转动连接部件的外侧壁上设有外螺纹，所述上盖的中间区域还设有中空槽，所述中空槽的内侧壁上设有内螺纹，所述外螺纹与所述内螺纹相配合以将所述旋钮组件可转动安装于所述上盖上，所述转动部件的底部与所述上加强板抵接。
[0013]进一步的，所述上盖上设有导向柱，所述旋钮的底部还设有导向槽，所述导向柱位于所述导向槽内，用于限制所述旋钮过度转动。
[0014]进一步的，所述上盖的四周区域设有连接第一安装孔，所述第一安装孔内安装有第一连接螺栓，所述第一连接螺栓通过第二复位部件安装于所述第一安装孔内，且所述第一连接螺栓的其中一端穿过所述第一连接孔与所述上加强板固定。
[0015]进一步的，所述上加强板的四周还设有第二安装孔，所述第二安装孔上还设有第二连接螺栓，所述第二连接螺栓的其中一端穿过所述第二安装孔与所述压头固定。
[0016]进一步的，所述第一复位部件的其中一端与所述压头固定，所述第一复位部件的另一端与所述上加强板固定。
[0017]进一步的，所述上盖的前端可转动设有卡勾，相应的，所述底座的前端还设有卡板，所述卡勾的勾部勾接所述卡板，以将所述上盖与所述底座锁定。
[0018]进一步的，所述卡勾的按压部上还设有第一弹性部件，所述第一弹性部件的一端与卡勾上部固定，所述第一弹性部件的另一端与上盖的前侧固定。
[0019]进一步的，所述卡勾的上部区域还朝向所述旋钮的方向延伸有凸部，所述凸部与所述旋钮的外侧壁抵接，所述旋钮的外侧壁上还设有缺口槽；其中，旋钮转动时，所述缺口槽能够与所述凸部的位置对应或错位。
[0020]进一步的，所述压头由钝化后的黄铜制成。
[0021]本技术的有益效果：
[0022]通过设置压头、上加强板及旋钮组件，压头，压头通过第一复位部件可上下移动安装于所述上加强板底部，且压头位于所述安装区域的正上方；所述旋钮组件可转动设于所述上盖上，且所述旋钮组件的底部穿过所述上盖与所述上加强板抵接；当转动所述旋钮组件时，旋钮组件能够驱动所述上加强板朝向所述压头移动，以带动所述压头朝向安装区域的方向移动；从而实现压头与安装区域之间间距的调节，使得IC测试装置能够对不同厚度IC板进行测试。
附图说明
[0023]附图1是本技术的爆炸结构示意图；
[0024]附图2是本技术的结构示意图；
[0025]附图3是本技术的俯视图；
[0026]附图4是附图3中A
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A位置的结构示意图；
[0027]附图5是附图3中B
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B位置的结构示意图；
[0028]附图6是附图3中C
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C位置的结构示意图；
[0029]附图7是本技术中旋钮的结构示意图；
[0030]附图8是本技术中卡勾的结构示意图；
[0031]附图9是本技术中上加强板的结构示意图。
[0032]图中标识：100
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底座，110
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安装区域；200
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上盖，210
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中空槽，220
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导向柱，230
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第一安装孔，240
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第一连接螺栓，250
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第二复位部件；300
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上加强板，310
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第二安装孔，320
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第二连接螺栓；400
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压头；500
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旋钮组件，510
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旋钮，511
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导向槽，512
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缺口槽，520
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转动连接部件；600
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第一复位部件；700
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卡勾，710
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凸部，720
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勾部，730
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转动连接部，740
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按压部；800
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卡板；900
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转轴组件；1000
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第一弹性部件。
具体实施方式
[0033]下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0034]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0035]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0036]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IC测试装置，其特征在于，包括：底座（100），所述底座（100）上设有用于安装待测品的安装区域（110）；上盖（200），所述上盖（200）可翻转设于所述底座（100）上；上加强板（300），所述上加强板（300）可上下移动的安装于所述上盖（200）的底部；压头（400），所述压头（400）通过第一复位部件（600）可上下移动安装于所述上加强板（300）底部，且所述压头（400）位于所述安装区域（110）的正上方，用于下压所述待测品，以使所述待测品上的连接器能够与所述安装区域（110）内的测试探针连接；旋钮组件（500），所述旋钮组件（500）可转动设于所述上盖（200）上，且所述旋钮组件（500）的底部穿过所述上盖（200）与所述上加强板（300）抵接；其中，转动所述旋钮组件（500）时，旋钮组件（500）能够驱动所述上加强板（300）朝向所述压头（400）移动，以带动所述压头（400）朝向安装区域（110）的方向移动。2.根据权利要求1所述的一种IC测试装置，其特征在于，所述旋钮组件（500）包括：旋钮（510）及固定安装于所述旋钮（510）的底部的转动连接部件（520），所述转动连接部件（520）的外侧壁上设有外螺纹，所述上盖（200）的中间区域还设有中空槽（210），所述中空槽（210）的内侧壁上设有内螺纹，所述外螺纹与所述内螺纹相配合以将所述旋钮组件（500）可转动安装于所述上盖（200）上，所述转动连接部件的底部与所述上加强板（300）抵接。3.根据权利要求2所述的一种IC测试装置，其特征在于，所述上盖（200）上设有导向柱（220），所述旋钮（510）的底部还设有导向槽（511），所述导向柱（220）位于所述导向槽（511）内，用于限制所述旋钮（510）过度转动。4.根据权利要求1
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3任意一项所述的一种IC测试装置，其特征在于，所述上盖（200）的四周区域设有连接第...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄庆云，
申请(专利权)人：深圳市振云精密测试设备有限公司，
类型：新型
国别省市：