一种快速检测爬电距离的印刷网版、MLCC及其检测方法技术

本发明专利技术公开了一种快速检测爬电距离的印刷网版、MLCC及其检测方法，包括网版本体，所述网版本体上设置有多个平行交错的内电极图形，其特征在于：所述网版本体上设有多个用于爬电距离检测的检测埋点，所述网版本体上设有多组切割线，每个所述检测埋点设置于所述切割线上；所述检测埋点将切割线两侧相邻的至少两组内电极图形进行连接。这样能够实现MLCC长方向爬电距离的检测，无需对产品破拆检测，提高检测效率，降低检测难度。降低检测难度。降低检测难度。

【技术实现步骤摘要】
一种快速检测爬电距离的印刷网版、MLCC及其检测方法


[0001]本专利技术涉及一种MLCC，尤其涉及一种快速检测爬电距离的印刷网版、MLCC及其检测方法。

技术介绍

[0002]MLCC是片式多层陶瓷电容器英文缩写。是由印好电极(内电极)的陶瓷介质膜片以错位的方式叠合起来，经过一次性高温烧结形成陶瓷芯片，再在芯片的两端封上金属层(外电极)，从而形成一个类似独石的结构体，故也叫独石电容器。
[0003]而爬电距离决定了产品的耐压性能，MLCC的切割工艺过程中，需要对产品长方向的爬电距离进行抽检，用以确认切割品质。现有的检验方式，需要将产品破坏之后再进行检验。不仅测试还需要借助其他工具，而且操作复杂，需要花费较长的时间，检测不够方便。

技术实现思路

[0004]本专利技术目的是提供一种快速检测爬电距离的印刷网版、MLCC及其检测方法，通过使用该结构及方法，提高了产品长方向爬电距离检测便利性及检测效率。
[0005]为达到上述目的，本专利技术采用的技术方案是：一种快速检测爬电距离的印刷网版，包括网版本体，所述网版本体上设置有多个平行交错的内电极图形，所述网版本体上设有多个用于爬电距离检测的检测埋点，所述网版本体上设有多组切割线，每个所述检测埋点设置于所述切割线上；所述检测埋点将切割线两侧相邻的至少两组内电极图形进行连接。
[0006]上述技术方案中，所述检测埋点包括连接标识图形及两组侧部标识图形，两组所述侧部标识图形分别设置于切割线的两侧，所述连接标识图形将两组所述侧部标识图形相连，所述连接标识图形的中部设置于所述切割线上。
[0007]上述技术方案中，所述侧部标识图形包括沿所述网版本体长方向的相邻两组内电极图形，且相邻两组所述内电极图形相连。
[0008]上述技术方案中，所述连接标识图形与所述侧部标识图形的连接处的两端分别设有凹角，所述凹角设置于所述侧部标识图形的侧壁上。
[0009]上述技术方案中，所述凹角与所述切割线之间的距离为所述侧部标识图形与所述切割线之间距离的两倍。
[0010]上述技术方案中，所述凹角为正方形或长方形凹角。
[0011]为达到上述目的，本专利技术采用了一种MLCC，采用上述的快速检测爬电距离的印刷网版印刷内电极及检测埋点。
[0012]为达到上述目的，本专利技术采用了一种MLCC的爬电距离的检测方法，其步骤为：
[0013]①
根据内电极图形以及检测埋点，将内电极及检测埋点印刷在陶瓷膜片上；
[0014]②
将陶瓷膜片重复堆叠，并在达到预设层数后，沿着切割线进行切割，形成陶瓷芯片；
[0015]③
检测埋点会裸露在切割后的陶瓷芯片的侧边，通过检测埋点直接进行陶瓷芯片
长方向的爬电距离检测；
[0016]④
在检测过程中，将具有检测埋点的陶瓷芯片找出，并剔除。
[0017]上述技术方案中，在所述步骤
④
中，检测埋点中的侧部标识图形由两组长方向的相邻电极连接，在爬电距离测试的过程中，会出现短路效果，能够将其直接剔除。
[0018]上述技术方案中，在步骤
④
中，如果具有检测埋点的陶瓷芯片未能剔除，在后续电镀之后，其表面具有外镀现象，能够直接经过目测检出，并将其剔除。
[0019]由于上述技术方案运用，本专利技术与现有技术相比具有下列优点：
[0020]1.本专利技术中在印刷网版上面设置多个检测埋点，并且检测埋点都会设置在产品需要切割位置的切割线上面，这样在产品切割之后，使得检测埋点处的内电极会直接暴露在切割处的产品侧边，能够直接经过这个暴露的内电极进行产品长方向爬电距离的检测，提高检测便利性，提高检测效率，降低检测难度，无需对产品进行破拆检测；
[0021]2.本专利技术中检测埋点中的侧部标识图形是将两组长方向的相邻内电极图形连接起来，该处会存在短路效果，这样可以在后续测试站中直接将具有检测埋点的产品找出来进行剔除，提高产品的合格率；
[0022]3.本专利技术中由于检测埋点设置在切割线上，后续产品印刷堆叠之后，产品沿着切割线进行切割之后，检测埋点处的内电极会裸露，这样即使在短路检测时候没有被检测剔除，在后续电镀过程中，也会产生外镀现象，能够通过人工进行目检进行二次剔料，起到双保险作用，保证产品的合格率；
[0023]4.本专利技术中在检测埋点中的通过设置凹角，避开印刷时候的易扩散区，将连接标识图形和侧部标识图形连接处在印刷过程中内电极的连接处远离切割面，使得产品切割面的内电极清晰，避免因为扩散导致爬电距离检测出现误判，提高检测精度，保证检测质量。
附图说明
[0024]图1是本专利技术实施例一中的结构示意图；
[0025]图2是本专利技术实施例一中检测埋点的结构示意图；
[0026]图3是本专利技术实施例一中产品两侧通电之后，产品的检测埋点处的内电极的短路示意图。
[0027]其中：1、网版本体；2、内电极图形；3、检测埋点；4、切割线；5、连接标识图形；6、侧部标识图形；7、凹角。
具体实施方式
[0028]下面结合附图及实施例对本专利技术作进一步描述：
[0029]实施例一：参见图1～3所示，一种快速检测爬电距离的印刷网版，包括网版本体1，所述网版本体上设置有多个平行交错的内电极图形2，所述网版本体上设有多个用于爬电距离检测的检测埋点3，所述网版本体上设有多组切割线4，每个所述检测埋点设置于所述切割线上；所述检测埋点将切割线两侧相邻的至少两组内电极图形进行连接。
[0030]在本实施例中，经过网版本体上面的内电极图形以及检测埋点印刷在陶瓷膜片上面，使得陶瓷膜片上面印刷有内电极，检测埋点也属于内电极。切割线处正对着产品需要切割处，这样在产品印刷堆叠之后，将产品沿着切割线进行切割之后，检测埋点处的内电极就
会暴露在产品侧边，也就是长方向的内电极暴露出来，这样就能够通过这个检测埋点，对产品长方向进行爬电距离测量，无需对产品进行破坏检验，提高检测效率、检测便利性，降低检测难度。
[0031]参见图1、2所示，所述检测埋点包括连接标识图形5及两组侧部标识图形6，两组所述侧部标识图形分别设置于切割线的两侧，所述连接标识图形将两组所述侧部标识图形相连，所述连接标识图形的中部设置于所述切割线上。
[0032]所述侧部标识图形包括沿所述网版本体长方向的相邻两组内电极图形，且相邻两组所述内电极图形相连。
[0033]在本实施例中，网版本体上面的切割线为虚拟切割线，在产品通过网版本体进行内电极印刷之后，这条切割线对应产品的位置，为产品需要切割处。侧部标识图形为两个相邻长反向的内电极图形连接起来的，连接标识图形则处在切割线上面，在产品印刷完成之后，沿着切割线切割之后，产品的连接标识图形处的内电极就会暴露在产品的侧边上，也就是将产品长方向的内电极给连接出来了，不需要将产品破坏对产品长方向爬电距离进行测试，能够通过这个侧边外露的内电极进行产品长方向爬电距离本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种快速检测爬电距离的印刷网版，包括网版本体，所述网版本体上设置有多个平行交错的内电极图形，其特征在于：所述网版本体上设有多个用于爬电距离检测的检测埋点，所述网版本体上设有多组切割线，每个所述检测埋点设置于所述切割线上；所述检测埋点将切割线两侧相邻的至少两组内电极图形进行连接。2.根据权利要求1所述的快速检测爬电距离的印刷网版，其特征在于：所述检测埋点包括连接标识图形及两组侧部标识图形，两组所述侧部标识图形分别设置于切割线的两侧，所述连接标识图形将两组所述侧部标识图形相连，所述连接标识图形的中部设置于所述切割线上。3.根据权利要求2所述的快速检测爬电距离的印刷网版，其特征在于：所述侧部标识图形包括沿所述网版本体长方向的相邻两组内电极图形，且相邻两组所述内电极图形相连。4.根据权利要求2所述的快速检测爬电距离的印刷网版，其特征在于：所述连接标识图形与所述侧部标识图形的连接处的两端分别设有凹角，所述凹角设置于所述侧部标识图形的侧壁上。5.根据权利要求4所述的快速检测爬电距离的印刷网版，其特征在于：所述凹角与所述切割线之间的距离为所述侧部标识图形与所述切割线之间距离的两倍。6.根据权利要求5所述的快速检测爬电距离的印刷网版，其特征在于：所述凹角为正方...

【专利技术属性】
技术研发人员：许国治，庄伟旭，蒋亚娴，顾小祥，王树生，
申请(专利权)人：国巨电子中国有限公司，
类型：发明
国别省市：